- •2. Эл. Детектировать, выпрямлять detection л 1. Раскрытие, обнаружение; 2. Радио детектирование
- •Vacant а 1. Пустой; незаполненный;
- •2 Резонанс victory п победа
- •X rays п икс-лучи, рентгеновы лучи
- •Volve, point. Перевод слов с префиксами dis-, in-, ir-, un-, non-, mal-.
- •Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 1. Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 1 Первое занятие
- •In reference to - относительно of reference — исходный, отсчет- ный; эталонный reference language — эталонный язык
- •Individual circuit chip — кристалл t малой степенью интеграции master chip — базовый кристалл microchip - микропроцессора бис
- •Раздел 1. Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Второе занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 1 Второе занятие
- •Раздел 1 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 1 Второе занятие
- •5. Учитесь говорить.
- •Третье занятие Контроль изученного материала
- •Раздел 1 Третье занятие
- •Раздел 1 Третье занятие
- •1.24. 1. Дайте определение типов интегральных схем.
- •Раздел 2. Первое занятие
- •Основной текст
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2 Перпое занятие
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2. Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2. Первое занятие
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 3• Первое заня ие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3• Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 4 Второе rm
- •Раздел 4. Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 4. Второе занятие
- •Раздел 4. Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 4 Третье занятие
- •Раздел 4. Третье занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 5 Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Раздел 5 Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 5 Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 5 Второе занятие
- •Раздел 5. Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 5 Третье занятие
- •Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 5. Третье занятие
- •Раздел 5 Третье занятие
- •Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 6. Первое занятие
- •Основной текст
- •Раздел 6. Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 6. Перв. Е занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Второе занятие
- •Второе занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 6 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 6 Второе занятие
- •Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 6 Третье занятие
- •Раздел 6. Третье занятие
- •127994, Москва, гсп-4, Неглинная ул , 29/14.
151
The
use of submicron technology has the same effect as increasing
the size of the silicon wafer. Since the devices are smaller, the
number of devices per wafer is greater. Also, since the die
sizes are smaller, the loss due to a die containing a material
defect is smaller. The yield percentage increases. The net effect is
more good dice per wafer. As is known, one of the basic measures of
semiconductor performance is the number of good dice per wafer.
Submicron
technology can be used for standard 1C design and processing. It can
be applied to both MOS and bipolar integrated circuits
including injection logic. This technology applies to veiy fast
circuits and microwave structures.
The
impact of submicron technology on the IC industry will be more
significant than the impact of MOS on the semiconductor industry.
A principal application impact of submicron technology will be in
the areas of magnetic bubble and semiconductor memories. Although,
the first submicron production structures range about 64 kilobits,
“million-bit chips” are possible. The super-LSI technology
appears in new products where increased complexity can still be
utilized. The one-chip medium-size computer quick! у
becomes
a reality in conjunction with its one-chip memory or,
alternately, a minicomputer will tend to have everything in one
chip.
The
utilization of submicron technology requires a completely new
facility. All aspects of mask making, inspection, and other
procedures are changed.
Контроль
умения аннотировать и реферировать. Текст
3.9 С
Прочитайте
текст. Разделите его на абзацы и
озаглавьте их. Используйте заголовки
в качестве плана для пересказа текста. Optical
Lithography
Optical
lithography has undisputably been the leading integrated
circuit pattern defining technique for many years. It has essen-
tially two steps. First, the design and fabrication of the optical
mask,Раздел 3 Третье занятие
152
Микроэлектроника
настоящее и будущее
which
is both costly and time consuming, and secondly, the exposure
of the wafer, covered with a layer of light sensitive photoresist to
ultraviolet light shone through the mask. The method is ideal for
large scale production because once the expensive maskmaking
process has been carried out, an unlimited number of wafers may
be patterned at very low cost to the producer. On the other hand,
where specific or semicustom (полузаказные)
ICs
are concerned this process has proved unacceptable since the
cost and time involved in mask fabrication cannot be justified by
the production of only a few devices which may require several
interactions for optimum results. For these reasons, electron beam
direct-write lithography is proving invaluable in the field of
application of specific or semicustom integrated circuits. This
technique allows fast turnaround, a high flexibility and
comparatively low cost for very small batches. In addition, the
short wavelength of electron-beam offers very high resolution
patterning and so may be essential where sub-micron features
are required. Despite the possibility of low throughout, e-beam
generated patterns allow either simple wafer-scale integration or
devices for several customers, each possibly with a variety of trial
designs to be implemented on a single wafer. The major advantage of
the e-beam’s high resolution capability will be nullified if the
resist pattern cannot be very precisely reproduced onto the
metallization layer. For this reason, wet-etching of the metal
with its inherent undercutting is particularly unsuitable and
plasma-process- ing becomes necessary. Reactive ion etching is a
type of plasma etching where the wafer is placed on an electrode
which is capaci- tively coupled to an RF generator. A second
electrode larger than this driven one is grounded and a plasma is
generated by electronic excitation of a low pressure gas contained
between them. The arrangement of the system is such that the
driven electrode experiences a negative bias with respect to
the plasma causing positive ions to be accelerated towards the
wafer. This means that not only is there chemical reaction causing
removal of the metallization but also ion-enhanced chemical etching
and physical sputtering to the vertical etching essential for
precise replication of the resist pattern. Dry processing has
the added benefits of easily handled process materials, easy
automation and good reproducibility.