- •2. Эл. Детектировать, выпрямлять detection л 1. Раскрытие, обнаружение; 2. Радио детектирование
- •Vacant а 1. Пустой; незаполненный;
- •2 Резонанс victory п победа
- •X rays п икс-лучи, рентгеновы лучи
- •Volve, point. Перевод слов с префиксами dis-, in-, ir-, un-, non-, mal-.
- •Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 1. Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 1 Первое занятие
- •In reference to - относительно of reference — исходный, отсчет- ный; эталонный reference language — эталонный язык
- •Individual circuit chip — кристалл t малой степенью интеграции master chip — базовый кристалл microchip - микропроцессора бис
- •Раздел 1. Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Второе занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 1 Второе занятие
- •Раздел 1 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 1 Второе занятие
- •5. Учитесь говорить.
- •Третье занятие Контроль изученного материала
- •Раздел 1 Третье занятие
- •Раздел 1 Третье занятие
- •1.24. 1. Дайте определение типов интегральных схем.
- •Раздел 2. Первое занятие
- •Основной текст
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2 Перпое занятие
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2. Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2. Первое занятие
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 3• Первое заня ие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3• Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 4 Второе rm
- •Раздел 4. Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 4. Второе занятие
- •Раздел 4. Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 4 Третье занятие
- •Раздел 4. Третье занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 5 Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Раздел 5 Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 5 Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 5 Второе занятие
- •Раздел 5. Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 5 Третье занятие
- •Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 5. Третье занятие
- •Раздел 5 Третье занятие
- •Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 6. Первое занятие
- •Основной текст
- •Раздел 6. Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 6. Перв. Е занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Второе занятие
- •Второе занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 6 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 6 Второе занятие
- •Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 6 Третье занятие
- •Раздел 6. Третье занятие
- •127994, Москва, гсп-4, Неглинная ул , 29/14.
125 Problems
in Microelectronic Circuit Technology
The
manufacture of silicon microcircuits consists of a number of
carefully controlled processes, all of which have to be performed
to well-defined specifications.
Processing
a “wafer” of silicon, a substrate on which the microelectronic
circuits are made, is not a simple technological process.
In
order to understand how transistors and other circuit elements can
be made from silicon, it is necessary to consider the physical
nature of semiconductor materials.
In
a conductor current is known to be carried by electrons that are
free to flow through the lattice1
of the substance2.
In
an insulator all the electrons are tightly3
bound to atoms or molecules and hence4
none are available to serve as a carrier of electric charge.
The
situation in a semiconductor is intermediate5
between the two: free charge carriers are not ordinarily present,
but they can be generated with a modest expenditure6
of energy.
Semiconductors
are similar to insulators in that they have their lower bands
completely filled7.
The semiconductor will conduct if more than a certain voltage is
applied. At voltages in excess of this critical voltage, the
electrons are raised from the top8
on the band 1 (the valence band) to the bottom9
of band 2 (the conducting band). Below10
this critical voltage, the semiconductor material acts as an
insulator. Semiconductors such as that described above are
called intrinsic (природный)
semiconductors
— they are pure materials (for example, silicon or germanium).
It should be noted that a crystal of pure silicon is a poor11
conductor of electricity Thus12,
conductivity poses13
a problem.
Several
other requirements are imposed on materials. The basic demand
appears to be conductivity because it can substantially improve14
the resistance and delay times for VLSI. The improvement of
conductivity has been made in several ways. Most semiconductor
deuces are known to be made by introducing controlled numbers
of impurity atoms into a crystal, the process called doping.
Two
independent lines of development are considered to lead to
l^croscopic technique that produced the present integrated circuits.
One Evolves the semiconductor technology; the other is a film
technology.Раздел 3 Первое занятие
126
Микроэлектроника
настоящее и будущее
Let
us consider the former15
one first. To improve the semiconductor crystal the impurities
known as dopants are added to the silicon to produce a special type
of conductivity characterized by either positive (p-type)
charge carriers or negative (л-type)
ones. The dopants are diffused16
into semiconductor crystals at high temperatures. In the furnace
(печь)
the
crystals are surrounded by vapour containing atoms of the
desired dopant. These atoms enter the crystal by substituting17
for the semiconductor atoms at regular sites18
in the crystal lattice and move into the interior19
of the crystal.byjumping from one site to an adjacent20
vacancy21.
Silicon
crystals may be doped with different elements. Suppose sil icon is
doped with boron. Each atom inserted22
in the silicon lattice creates a deficiency23
of the electron, a state that is called a hole. A hole also remains
associated with an impurity atom under ordinary circumstances24
but can become mobile in response to an applied voltage. The hole is
not a real particle, of course, but merely25
the absence of an electron at a position where one would be found in
a pure lattice of silicon atoms. Nevertheless26,
the hole has a positive electric charge and can carry electric
current. The hole moves through the lattice in much the same way
that the bubble27
moves through a liquid medium. An adjacent atom transfers28
an electron to the impurity atom, “filling” the hole there but
creating a new one in its own cloud of electrons; the process
is then repeated, so that the hole is passed29
along from atom to atom.
Silicon
doped with phosphorus or another pentavalent element is called an
л-type
semiconductor. Doping with boron or another triva- lent element
gives rise to a /?-type semiconductor.
Impurities
may be introduced by the diffusion process. At each dif fusion
step30
in which л-type
or/?-type regions are to be created in certain areas, the
adjacent areas are protected31
by surface layer of silicon dioxide, which effectively blocks the
passage of impurity atoms. This protective layer is created very
simply by exposing32
the silicon wafer at high temperatures to an oxidizing atmosphere.
The silicon dioxide is then etched33
away in conformity (в
соответствии) with
a sequence34
of masks
that
accurately delineates35
multiplicity36
of л-type
and p-type
regions.
To
define the microscopic regions that are exposed to diffusion in
various stages37
of the process, extremely precise38
photographic procedures39
have been developed. The surface of the silicon dioxide is