- •2. Эл. Детектировать, выпрямлять detection л 1. Раскрытие, обнаружение; 2. Радио детектирование
- •Vacant а 1. Пустой; незаполненный;
- •2 Резонанс victory п победа
- •X rays п икс-лучи, рентгеновы лучи
- •Volve, point. Перевод слов с префиксами dis-, in-, ir-, un-, non-, mal-.
- •Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 1. Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 1 Первое занятие
- •In reference to - относительно of reference — исходный, отсчет- ный; эталонный reference language — эталонный язык
- •Individual circuit chip — кристалл t малой степенью интеграции master chip — базовый кристалл microchip - микропроцессора бис
- •Раздел 1. Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Второе занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 1 Второе занятие
- •Раздел 1 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 1 Второе занятие
- •5. Учитесь говорить.
- •Третье занятие Контроль изученного материала
- •Раздел 1 Третье занятие
- •Раздел 1 Третье занятие
- •1.24. 1. Дайте определение типов интегральных схем.
- •Раздел 2. Первое занятие
- •Основной текст
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2 Перпое занятие
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2. Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2. Первое занятие
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 3• Первое заня ие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3• Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 4 Второе rm
- •Раздел 4. Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 4. Второе занятие
- •Раздел 4. Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 4 Третье занятие
- •Раздел 4. Третье занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 5 Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Раздел 5 Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 5 Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 5 Второе занятие
- •Раздел 5. Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 5 Третье занятие
- •Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 5. Третье занятие
- •Раздел 5 Третье занятие
- •Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 6. Первое занятие
- •Основной текст
- •Раздел 6. Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 6. Перв. Е занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Второе занятие
- •Второе занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 6 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 6 Второе занятие
- •Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 6 Третье занятие
- •Раздел 6. Третье занятие
- •127994, Москва, гсп-4, Неглинная ул , 29/14.
141
Вариант
2 Evaporation
and Sputtering
1л
the
ease of evaporation, the material to be deposited is heated by a
resistive heating unit until the molecules acquire
the thermal energy necessary to leave the surface at a suitable
speed to ensure
deposition.
Sputtering
differs from evaporation in that an electrical field accelerates
the positive gas ions toward a cathode that is covered with a
material to be deposited. An ion striking
the cathode causes a molecule to be ejected
and deposited on the substrate. Текст
3.2
В
Переведите
текст письменно без словаря. Время
перевода — 15 минут. Проверьте перевод
в аудитории.
Вариант
I Rapid
Thermal Processing
RTP
is one of the exciting new wafer fabrication technologies. Its
origin can be traced to the laser annealing (отжиг)
research
of the early 1980’s, but it is only with the very recent
appearance of techniques and equipment suitable for use in
production that the technique has begun to attract serious attention
of process engineers.
Current
applications for RTP include ion implant annealing, glass reflow,
silicide formation, and deposition of thin gate oxides. The RTP
equipment market is expected to have one of the highest growth
factors in the equipment industry.
Вариант
2 Tungsten
Tungsten
is of particular interest in IC technology because it can be
deposited in a self-aligning (самосовмещенный)
chemically
selective manner on silicon, metals, or silicides. Its volume
filling capaРаздел 3 Второе занятие
142
Микроэлектроника
настоящее и будущее
bility
serves to enhance planarity, a high priority in multilevel chip
designs, and because it can be deposited without additional
masks, process complexity is reduced with savings in cost.
Selective
low-pressure chemical vapour deposition (LPCVD) of tungsten can
provide diffusion and etch barriers via fills, low resistance
source, drain and gate shunts, masks for X-ray lithography and many
others.
The
last years have been a time of rapid progress in LPCVD tungsten
technology.
Учитесь
аннотировать и реферировать текст. Текст
3.3 В
а) Прочитайте
текст. Выявите основную информацию
каждого абзаца. Запишите данную
информацию (в виде подлежащего и
сказуемого) на русском языке. Проверьте
правильность понимания текста.
б) Составьте
краткий реферат на английском языке. Dry
Process Technology
LSI
technology has been the cutting edge of the innovate semiconductor
industry. In the field of the process technology, much effort has
been made to improve microfabrication and thinner-film formation
technology. In particular, improvements in photolithographic
and etching techniques are the keys to the integration of more
devices on smaller chips, increases in circuit performance, and
improvement in wafer process yield.
Dry
etching technology represents a new and exciting method for defining
precise images in insulators, semiconductors, and metals. Gas
plasma etching technology in dry process like RF sputtering,
ion beam milling, reactive ion etching, and reactive ion beam
etching is widely used as a fundamental tool for the fabrication of
MOS, bipolar LSIs, discrete devices and hard mask. It results in
improved image size, simplification of the manufacturing process,
precise shape control of fine patterns, and development of a clean-