- •2. Эл. Детектировать, выпрямлять detection л 1. Раскрытие, обнаружение; 2. Радио детектирование
- •Vacant а 1. Пустой; незаполненный;
- •2 Резонанс victory п победа
- •X rays п икс-лучи, рентгеновы лучи
- •Volve, point. Перевод слов с префиксами dis-, in-, ir-, un-, non-, mal-.
- •Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 1. Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 1 Первое занятие
- •In reference to - относительно of reference — исходный, отсчет- ный; эталонный reference language — эталонный язык
- •Individual circuit chip — кристалл t малой степенью интеграции master chip — базовый кристалл microchip - микропроцессора бис
- •Раздел 1. Первое занятие
- •Раздел 1 Первое занятие
- •Второе занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 1 Второе занятие
- •Раздел 1 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 1 Второе занятие
- •5. Учитесь говорить.
- •Третье занятие Контроль изученного материала
- •Раздел 1 Третье занятие
- •Раздел 1 Третье занятие
- •1.24. 1. Дайте определение типов интегральных схем.
- •Раздел 2. Первое занятие
- •Основной текст
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2 Перпое занятие
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2. Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2. Первое занятие
- •Раздел 2 Первое занятие
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 2 Второе занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 2 Третье занятие
- •Раздел 3• Первое заня ие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3• Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Первое занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Второе занятие
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Раздел 3 Третье занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Раздел 4 Первое занятие
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Раздел 4. Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 4 Второе rm
- •Раздел 4. Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 4. Второе занятие
- •Раздел 4. Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 4 Третье занятие
- •Раздел 4. Третье занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 5 Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Раздел 5 Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 5 Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Раздел 5. Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 5 Второе занятие
- •Раздел 5. Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 5 Третье занятие
- •Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 5. Третье занятие
- •Раздел 5 Третье занятие
- •Первое занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 6. Первое занятие
- •Основной текст
- •Раздел 6. Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 6. Перв. Е занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Первое занятие
- •Раздел 6 Второе занятие
- •Второе занятие
- •Работа в аудитории
- •Раздел 6 Второе занятие
- •Внеаудиторная работа
- •Раздел 6 Второе занятие
- •Третье занятие
- •Контроль изученного материала
- •Раздел 6 Третье занятие
- •Раздел 6. Третье занятие
- •127994, Москва, гсп-4, Неглинная ул , 29/14.
145
After
the oxidation process it is necessary to etch holes in the oxide,
through which diffusion can take place. The process used is similar
to that employed in the manufacture of printed circuit boards.
Initially, the oxidized surface is coated with a thin film of
photo-sensitive emulsion (photoresist). A mask is manufactured, the
pattern of which defines the area to be etched, it being opaque
(непрозрачный)
where
etching is to be performed and transparent
where the oxide is to be retained.
The mask is brought into contact with the wafer and exposed to
ultraviolet light. The photoresist under the transparent area of the
mask being subjected to the light becomes polymerized and is not
affected by the trichlorethylene developer which is
subsequently
used to dissolve the unexposed resist. When fixed, by baking
(отжиг),
the
remaining photoresist protects the oxide from the window where
diffusion is required and, after the surface has been cleaned,
the chip is ready for the first diffusion process.
For
a p-type diffusion the most generally used dopant proves to be
boron. This is deposited on the wafer at high temperature, and
diffuses through the window into the silicon. Ap-type region is
thus created. The oxidization treatment
is now repeated and, in this high-tem- perature process, the open
window is sealed
with an oxide layer and the base dopant is driven
deeper into
the silicon. A new mask is used in a second photoresist and etching
stage, which opens a window for the diffusion of the emitter region.
For
/7-type diffusion the most generally used dopants are phosphorus
and arsenic. The cycle is supposed to be repeated yet a third time.
The emitter window is sealed by oxidization, the emitter dopant is
driven
in,
and new windows are etched in the oxide layer to defme the contact
areas. Finally, the contacts are made by the evaporation of
aluminium.
In
practice many devices are manufactured at the same time on a single
sheet
of silicon. These are separated by scribing
with a diamond stylus and breaking into individual chips. They are
then mounted
in suitable packages which allow electrical connections to be
readily made and power, dissipated as heat, to escape.
It
is necessary to be able to electrically isolate individual devices
from each other. This is done by surrounding each component with
material of opposite polarity and reverse biasing
the semiconductor junction so formed.
10
БухРаздел 3 Второе занятие
146
Микроэлектроника
настоящее и будущее Текст
3.5
В
Переведите
текст письменно без словаря. Значение
выделенных слов вы сможете понять без
словаря. Время перевода — 15 минут. High
Pressure Oxidation of Silicon
Silicon
oxidation has been a fundamental
process of silicon device technology fora long time. However,
an understanding of oxidation methods and the phenomena
involved is far from complete.
An oxidation method that has received increased attention over the
last few years is a high pressure oxidation method. This method is
known to offer
a practical means for thermally growing silicon oxides at lower
temperatures and faster rates
than those grown in conventional wet (влажный)
oxidation.
Presently, efforts to implement\ow
temperature processes have become a significant driving force in the
evolution of silicon device fabrication technology. The lower
temperature aspect of high pressure oxidation has its greatest
potential impact in the high density world of submicron VLSI where
improvements in process control precision will have a
significant effect on performance and yield.
Thin
oxide film grown at low temperature by high pressure oxidation
has excellent dielectric breakdown
strength.
Developments
in high pressure oxidation will become more important with
progress in other low temperature processes such as ion
implantation, laser annealing,
and plasma enhanced technology during the next few years.
Проверьте,
как вы умеете аннотировать или
реферировать
текст. Текст
3.6
В
Бегло
прочитайте текст. Скажите, что автор
говорит об уникальности молекулярной
электроники. Molecular
Electronics
Molecular
electronics is a new concept of electronic systems. Basically, it
seeks to integrate into a solid block of the material the