- •ПРЕДИСЛОВИЕ
- •ЧАСТЬ I. ВАКУУМНАЯ ЭЛЕКТРОНИКА
- •Глава 1. Эмиссионная электроника
- •1.2. Эмиссионная электроника
- •1.2.1. Термоэлектронная эмиссия
- •1.2.2. Термоэлектронная эмиссия с поверхности полупроводников
- •1.2.3. Термокатоды
- •1.2.4. Фотоэлектронная эмиссия
- •1.2.5. Вторичная электронная эмиссия
- •1.2.6. Автоэлектронная эмиссия
- •Контрольные вопросы
- •Глава 2. Движение электронов в вакууме в режиме объемного заряда. Электровакуумные приборы
- •2.1. Диоды
- •2.2. Триоды
- •2.3. Многоэлектродные лампы
- •2.4. Особенности многоэлектродных ламп различного назначения
- •2.5. Генераторные и модуляторные лампы
- •2.6. Электровакуумные приборы диапазона сверхвысоких частот
- •2.6.1. Особенности движения электронов в СВЧ полях
- •2.6.2. Клистроны – приборы с динамическим управлением электронным потоком и резонансными системами
- •2.6.3. Лампы бегущей и обратной волны (ЛБВ и ЛОВ)
- •2.6.4. Лампы со скрещенными полями
- •2.6.5. Усилитель на ЛБВ типа М
- •2.6.6. Генератор на ЛОВ типа М замкнутой конструкции (карсинотрон)
- •2.6.7. Магнетроны
- •2.6.8. Статический режим работы магнетрона
- •2.6.9. Динамический режим работы магнетрона
- •Контрольные вопросы
- •Глава 3. Электронная оптика. Электронно-лучевые приборы
- •3.1. Электронные линзы
- •3.2. Электростатические линзы
- •3.2.1. Диафрагма с круглым отверстием
- •3.2.2. Иммерсионная линза
- •3.2.3. Одиночная линза
- •3.2.4. Иммерсионный объектив
- •3.3. Магнитные линзы
- •3.4. Аберрации электронных линз
- •3.5. Электронно-оптические системы (ЭОС) электронно-лучевых приборов
- •3.6. Отклоняющие системы
- •3.6.1. Электростатическое отклонение электронных пучков
- •3.6.2. Магнитное отклонение электронных пучков
- •3.7. Некоторые особенности электронной оптики интенсивных пучков
- •3.8. Приемные электронно-лучевые трубки
- •3.9. Проекционные ЭЛТ и системы
- •3.10. Запоминающие электронно-лучевые трубки
- •3.11. Передающие электронно-лучевые трубки
- •Контрольные вопросы
- •ЧАСТЬ II. ГАЗОРАЗРЯДНАЯ ЭЛЕКТРОНИКА
- •Глава 4. Элементарные процессы в плазме
- •4.1. Введение
- •4.2. Упругие соударения электронов с атомами и молекулами газа
- •4.3. Неупругие соударения электронов с атомами и молекулами
- •4.3.1. Возбуждение
- •4.3.2. Ионизация
- •4.3.3. Ступенчатые процессы при возбуждении и ионизации молекул электронным ударом
- •4.3.4. Образование и разрушение отрицательных ионов
- •4.3.5. Диссоциация молекул
- •4.3.6. Рекомбинация
- •4.4. Движение электронов и ионов в газе
- •4.4.1. Дрейфовое движение электронов и ионов
- •4.4.2. Диффузия заряженных частиц в условиях разряда
- •Контрольные вопросы
- •Глава 5. Основные виды электрического разряда в газе
- •5.1. Классификация разрядов
- •5.2. Несамостоятельный газовый разряд
- •5.3. Условие развития самостоятельного разряда. Пробой разрядного промежутка
- •5.3.1. Тлеющий разряд
- •5.3.2. Количественная теория катодной области тлеющего разряда
- •5.3.3. Дуговой разряд
- •5.3.4. Искровой разряд
- •5.3.5. Коронный разряд
- •5.3.6. Высокочастотные разряды
- •5.3.7. Разряды на сверхвысоких частотах
- •Контрольные вопросы
- •Глава 6. Газоразрядная плазма
- •6.1. Основные понятия
- •6.2. Диагностика плазмы
- •6.2.1. Метод зондов Лангмюра
- •6.2.2. Оптические методы исследования плазмы
- •6.2.3. Сверхвысокочастотные методы диагностики плазмы
- •6.3. Теории газоразрядной плазмы
- •Контрольные вопросы
- •Глава 7. Газоразрядные приборы
- •7.1. Приборы тлеющего разряда
- •7.1.1. Световые индикаторы
- •7.1.2. Стабилитроны тлеющего разряда
- •7.1.3. Вентили (газотроны) тлеющего разряда
- •7.1.4. Тиратроны тлеющего разряда
- •7.1.5. Переключаемые световые индикаторы
- •7.2.1. Газоразрядные источники света
- •7.3. Ионизационные камеры и счетчики излучений
- •7.3.1. Ионизационные камеры
- •7.3.2. Пропорциональные счетчики
- •7.3.3. Счетчики Гейгера
- •7.4. Разрядники антенных переключателей
- •7.5. Газоразрядные индикаторные панели
- •7.6. Газоразрядные знаковые индикаторы (монодисплеи)
- •7.6.1. ГИП постоянного тока
- •7.6.2. ГИП переменного тока
- •7.6.3. Получение полутоновых изображений на ГИП
- •Контрольные вопросы
- •ЧАСТЬ III. ТВЕРДОТЕЛЬНАЯ ЭЛЕКТРОНИКА
- •8.1. Концентрация носителей заряда в полупроводниках
- •8.2. Электропроводность полупроводников
- •8.3. Диффузионное движение носителей заряда в полупроводниках
- •8.4. Неравновесные носители заряда в полупроводниках
- •8.5. Поверхностные явления в полупроводниках
- •Контрольные вопросы
- •Глава 9. Электрические переходы
- •9.1. Структура и основные параметры n-p перехода
- •9.2. Равновесное состояние n-p перехода
- •9.3. Неравновесное состояние n-p перехода. Явления инжекции и экстракции носителей заряда
- •9.4. ВАХ идеализированного перехода
- •9.5. ВАХ реального n-p перехода
- •9.7. Емкостные свойства n-p перехода
- •9.8. Контакт металл-полупроводник
- •9.9. Гетеропереходы
- •Контрольные вопросы
- •Глава 10. Полупроводниковые диоды
- •10.1. Выпрямительные диоды
- •10.2. Высокочастотные и сверхвысокочастотные диоды
- •10.3. Импульсные диоды
- •10.4. Стабилитроны
- •10.5. Полупроводниковые управляемые емкости (варикапы)
- •10.6. Туннельные и обращенные диоды
- •10.7. Диоды Шотки
- •10.8. Диоды Ганна
- •10.9. Лавинно-пролетные диоды
- •Контрольные вопросы
- •Глава 11. Биполярные транзисторы
- •11.1. Классификация биполярных транзисторов
- •11.2. Физические процессы в транзисторе
- •11.3. Распределение токов в транзисторе
- •11.4. Эффект модуляции ширины базы
- •11.5. Статические вольтамперные характеристики биполярного транзистора
- •11.6. Частотные характеристики биполярного транзистора
- •Контрольные вопросы
- •Глава 12. Тиристоры
- •12.1. Классификация тиристоров
- •12.2. Распределение токов в тиристоре
- •12.3. Особенности работы управляемых тиристоров
- •12.4. Тиристор с симметричной ВАХ
- •Контрольные вопросы
- •Глава 13. Униполярные полупроводниковые приборы
- •13.1. Классификация и основные особенности
- •13.2. Полевые транзисторы с изолированным затвором (МДП-транзисторы)
- •13.4. Дифференциальные параметры МДП-транзистора
- •13.5. Принцип работы полевого транзистора с управляющим n-p переходом
- •13.6. Частотные характеристики МДП-танзисторов
- •13.7. Сравнительная характеристика МДП и биполярного транзистора
- •13.8. Биполярный транзистор с изолированным затвором (IGBT)
- •Контрольные вопросы
- •Глава 14. Светоизлучающие и фотоэлектронные полупроводниковые приборы
- •14.1. Светоизлучающие полупроводниковые приборы
- •14.1.1. Светодиоды
- •14.2. Фотоэлектронные полупроводниковые приборы
- •14.2.1. Поглощение оптического излучения полупроводниками
- •14.2.2. Фоторезистивный эффект и приборы на его основе
- •14.2.3. Фотоэлектрический эффект в n-р переходе
- •14.2.4. Фототранзисторы и фототиристоры
- •14.2.5. Оптоэлектронные пары
- •Контрольные вопросы
- •Глава 15. Полупроводниковые датчики
- •15.1. Датчики температуры
- •15.2. Датчики деформации
- •15.3. Датчики магнитного поля
- •Контрольные вопросы
- •Глава 16. Основы квантовой электроники
- •16.2. Физические основы взаимодействия излучения с веществом
- •16.2.1. Форма и ширина спектральной линии
- •16.3. Устройство и принципы работы лазеров
- •16.3.1. Рабочее вещество
- •16.3.2. Создание инверсии
- •16.3.3. Условия создания инверсной населенности
- •16.3.4. Двухуровневая система
- •16.3.5. Трехуровневые системы
- •16.3.6. Четырехуровневая система
- •16.3.7. Оптические резонаторы
- •16.3.8. Условия самовозбуждения и насыщения усиления
- •16.4. Свойства лазерного излучения
- •16.4.1. Монохроматичность
- •16.4.2. Когерентность
- •16.4.3. Поляризация излучения
- •16.4.4. Направленность и возможность фокусирования излучения
- •16.4.5. Яркость и мощность излучения
- •16.5. Типы лазеров
- •16.5.1. Твердотельные лазеры
- •16.5.2. Рубиновый лазер
- •16.5.3. Неодимовый стеклянный лазер
- •16.5.4. Nd – ИАГ – лазеры
- •16.5.5. Газовые лазеры
- •16.5.6. Атомные лазеры
- •16.5.7. Лазеры на парах металлов
- •16.5.8. Ионные лазеры
- •16.5.9. Молекулярные лазеры
- •16.5.10. Эксимерные лазеры
- •16.5.11. Газовые лазеры в инфракрасной области спектра
- •16.5.12. Химические лазеры
- •16.5.13. Газодинамические лазеры
- •16.5.14. Электроионизационные лазеры
- •16.5.15. Полупроводниковые лазеры
- •16.5.16. Жидкостные лазеры
- •Контрольные вопросы
- •Глава 17. Основы оптоэлектроники
- •17.1. Этапы и перспективы развития оптической электроники
- •17.2. Источники излучения для оптоэлектроники
- •17.3. Фотоэлектронные приемники излучения
- •17.4. Модуляция лазерного излучения
- •17.4.1. Физические основы модуляции лазерного излучения
- •17.4.2. Оптические модуляторы
- •17.4.3. Дефлекторы
- •17.5.1. Элементная база ВОЛС
- •17.5.2. Классификация ВОЛС
- •17.6. Оптические методы запоминания и хранения информации. Оптические (лазерные) диски
- •17.7. Голографические системы хранения и обработки информации
- •17.7.1. Принцип голографии
- •17.7.2. Голографическое запоминающее устройство
- •17.7.3. Голографические схемы записи и считывания информации
- •17.8. Системы отображения информации
- •17.8.1. Особенности зрительного восприятия информации
- •17.8.2. Физические эффекты, используемые для отображения информации
- •17.8.3. Жидкокристаллические индикаторы
- •17.8.4. Жидкокристаллические индикаторные панели
- •17.9. Электролюминесцентные индикаторы
- •17.10. Дисплеи с полевой (автоэлектронной) эмиссией
- •17.11. Отражающие дисплеи (электронная бумага)
- •17.12. Системы отображения информации на основе полупроводниковых светодиодов
- •Контрольные вопросы
- •ЧАСТЬ V. ФУНКЦИОНАЛЬНАЯ, МИКРО И НАНОЭЛЕКТРОНИКА
- •Глава 18. Предмет микроэлектроники
- •18.1. Основные термины и определения
- •18.2. Классификация ИМС
- •18.2.1. Плёночные ИМС
- •18.2.2. Гибридные ИС
- •18.2.3. Полупроводниковые ИМС
- •18.2.4. Совмещенные ИМС
- •18.3. Система обозначений ИМС
- •Контрольные вопросы
- •Глава 19. Биполярные структуры в микроэлектронике
- •19.1. Транзисторы с изоляцией на основе n-p перехода
- •19.2. Транзисторы с диэлектрической изоляцией
- •19.3. Транзисторы с комбинированной изоляцией
- •19.4. Транзисторы типа p–n–p
- •19.5. Многоэмиттерные транзисторы
- •19.6. Многоколлекторные транзисторы
- •19.7. Транзисторы с диодом Шотки
- •19.8. Интегральные диоды и стабилитроны
- •Контрольные вопросы
- •Глава 20. Униполярные структуры в микроэлектронике
- •20.1.1. МДП–транзистор с алюминиевым затвором
- •20.1.3. Конструкция Д–МДП–транзисторов
- •20.1.4. Комплементарные микроэлектронные структуры
- •20.2.1. Пороговое напряжение
- •20.2.2. Вольт-амперные характеристики
- •20.4. Принцип действия МЕП-транзистора
- •20.5. Элементы полупроводниковых постоянных запоминающих устройств (ПЗУ)
- •20.5.1. МНОП-транзистор
- •20.5.3. Двухзатворный МДП–транзистор
- •Контрольные вопросы
- •Глава 21. Микроэлектроника субмикронных СБИС
- •21.2. Методы улучшения характеристик субмикронных МДП-транзисторов
- •21.2.1. Ореол
- •21.2.2. Ретроградное распределение
- •21.2.3. Подзатворный диэлектрик
- •21.2.4. Области стока и истока
- •21.2.5. Напряженный кремний
- •21.3. Субмикронные МДП-транзисторы на диэлектрических подложках
- •21.3.1. Структуры «кремний на изоляторе»
- •21.3.2. Cтруктура «кремний ни на чём»
- •21.4.1. Транзисторы с двойным и с окольцовывающим затвором
- •21.4.2. Транзисторы с вертикальным каналом
- •21.5. Особенности субмикронных транзисторов для аналоговых применений
- •Контрольные вопросы
- •Глава 22. Гетероструктуры в микроэлектронике
- •22.1. Основные свойства гетероперехода
- •22.1.1. Сверхинжекция неравновесных носителей заряда в гетеропереходе
- •22.1.2. Понятие о двухмерном электронном газе
- •22.2. Гетероструктурные полевые транзисторы
- •22.2.1. Транзистор с высокой подвижностью электронов (НЕМТ)
- •22.2.2. Псевдоморфные и метаморфные структуры (р-НЕМТ и m-НЕМТ)
- •22.2.3. НЕМТ на подложках из GaN
- •22.3. Гетеропереходные биполярные транзисторы
- •22.4. Интегральные микросхемы на гетеропереходных полевых транзисторах
- •Контрольные вопросы
- •Глава 23. Пассивные элементы ИМС
- •23.1. Полупроводниковые резисторы
- •23.2. Плёночные резисторы
- •23.3. Конденсаторы и индуктивные элементы
- •23.4. Коммутационные соединения
- •23.4.1. Задержка распространения сигнала
- •23.4.2. Электороимграция
- •Контрольные вопросы
- •Глава 24. Функциональная электроника
- •24.1. Пьезоэлектроника
- •24.2. Оптоэлектроника
- •24.3. Акустоэлектроника
- •24.4. Магнитоэлектроника
- •24.5. Криоэлектроника
- •24.6. Хемотроника
- •24.7. Молекулярная и биоэлектроника
- •24.8. Приборы с зарядовой связью
- •24.9. Диэлектрическя электроника
- •24.10. Приборы на основе аморфных материалов
- •Глава 25. ОСНОВЫ НАНОЭЛЕКТРОНИКИ
- •25.1. Квантовые основы наноэлектроники
- •25.1.1. Квантовое ограничение
- •25.1.2. Интерференционные эффекты
- •25.1.3. Туннелирование
- •25.3. Квантовые транзисторы
- •25.4. Нанотрубки в электронике
- •25.5. Графеновые транзисторы (спинтроника)
- •25.6. Молекулярная электроника
- •25.6.1. Квантовые компьютеры
- •25.7. Заключение
- •Список рекомендуемой литературы
- •CПРАВОЧНЫЙ РАЗДЕЛ
- •Содержание
насыщения (что необходимо для получения высоких КПД и снижения тем самым потребляемой мощности, но ведет к высоким токам утечки затвора и ухудшению надежности и усиления транзистора) разработаны GaN HEMT с затвором со структурой металл-диэлектрик-полупроводник (МДП) (рис. 22.6, б).
22.3. Гетеропереходные биполярные транзисторы
Основное преимущество HBT перед обычным биполярным транзистором – подавление инжекции неосновных носителей в эмиттер, что позволяет путем увеличения легирования уменьшить сопротивление базы.
Как уже было отмечено в части III, обычный биполярный транзистор
успешно функционирует при условии значительно более высокого уровня легирования эмиттерной области по сравнению с уровнем легирования базовой области. Только тогда при прямом смещении на переходе эмиттер –
база ток электронов из эмиттера в базу сильно превышает ток дырок из базы в эмиттер. Отношение этих токов характеризует эффективность эмиттерного перехода.
Если максимальная концентрация примеси в эмиттере, ограниченная растворимостью и другими факторами, достигает значений порядка 1019 см–3,
то уровень легирования базы гомопереходного транзистора не должен превышать 1017 см–3. Однако относительно низкий уровень легирования области базы увеличивает сопротивление базы, через которое производится перезарядка коллекторной емкости при переключения транзистора. В
конечном счете низколегированная база существенно ограничивает быстродействие биполярного транзистора.
Использование гетероперехода в качестве перехода эмиттер – база снимает указанное ограничение на быстродействие биполярного транзистора. На рис. 22.7 приведена зонная структура гетеропереходного транзистора п-р-n-типа, в котором в качестве эмиттерной области использован широкозонный полупроводник.
а) |
б) |
Рис. 22.7. Зонная структура гетеропереходного биполярного транзистора в отсутствие напряжения (а), при прямом смещении (б)
433
Поскольку образующий эмиттер полупроводник имеет более широкую запрещенную зону, чем тот, что образует базу, энергетический барьер для инжекции дырок в эмиттер выше, чем барьер для инжекции электронов из эмиттера в базу (рис. 22.7, а).
При приложении прямого смещения к эмиттер-базовому переходу барьер для электронного тока исчезает, тогда как барьер для дырочного тока составляет значительную величину (рис. 22.7, б). Это обеспечивает высокую эффективность эмиттера независимо от уровня легирования базовой области.
Наличие энергетического барьера для тока дырок из базы в эмиттер делает возможным легирование базы до высокого уровня без уменьшения степени инжекции. Уменьшение концентрации примеси в эмиттерной и увеличение в
коллекторной областях способствуют повышению быстродействия транзистора.
При сравнении факторов, обеспечивающих быстродействие НЕМТ и ГПБТ, отметим отсутствие в последнем фактора сверхвысокой подвижности
электронов двумерного электронного газа при движении в плоскости локализации газа. В случае ГПБТ эксплуатируются только возможности уменьшения емкостей переходов и времени пролета через базу, предоставляемые разработчику технологией и физикой гетеропереходов.
22.4. Интегральные микросхемы на гетеропереходных полевых транзисторах
Наиболее широкая область применения НЕМТ на полупроводниках А3В5
– широкополосные системы связи и передачи данных, критическими узлами которых являются блоки внешнего интерфейса (front-end circuits) – малошумящие и мощные усилители СВЧ-диапазона, усилители промежуточной частоты с регулируемым усилением, смесители, умножители частоты, фазовращатели и генераторы с управляемой напряжением частотой.
а) б)
Рис. 22.8. Микрофотография усилительного (а) и ключевого (б) НЕМТ в гибридной ИС СВЧ: D (Drain) – сток, S (Source) – исток, G (Gate) – затвор
434
Оптимальными приборами для построения малошумящих полосовых СВЧ-усилителей (МШУ) и широкополосных СВЧ-усилителей являются псевдоморфные и метаморфные НЕМТ, обладающие наилучшими частотными и шумовыми свойствами (рис. 22.8).
Мощные СВЧ-усилители также реализуются на р-НЕМТ и m-НЕМТ. Потенциальные преимущества имеют AlGaN/GaN HEMT, однако технология их изготовления еще не достигла промышленного уровня. Характеристики мощных усилителей миллиметрового диапазона сведены в таблицу 22.2, где приведены также характеристики усилителя на SiGe МДП-транзисторах.
|
|
|
|
Таблица 22.2 |
|
Характеристики мощных усилителей СВЧ-диапазона |
|||||
|
|
|
|
|
|
|
Частотный |
Выходная |
КПД, |
Коэффициент |
|
Тип устройства |
мощность, |
|
|||
|
диапазон |
Вт |
% |
усиления, дБ |
|
|
|
|
|
|
|
р-НЕМТ |
V-band |
0,1...0,18 |
36...42 |
5...7 |
|
|
|
|
|
|
|
m-HEMT |
V-band |
0,3...1,0 |
26 |
7...15 |
|
|
|
|
|
|
|
AlGaN/GaN НЕМТ |
10 ГГц |
4,6 Вт/мм |
- |
26 |
|
|
|
|
|
|
|
SiGe n-MДП |
100–300 |
0,2 |
- |
- |
|
(L =0,5 мкм) |
МГц |
|
|||
|
|
|
|
Весьма важными узлами широкополосных систем связи являются генераторы с управляемой напряжением частотой (ГУН). Лучшие характеристики ГУН в настоящее время обеспечивает применение НЕМТ, р-НЕМТ и m-НЕМТ, которые конкурируют в этой области с AlInAs/InGaAs InGaP и SiGe HBT. Сравнительные характеристики ГУН СВЧ-диапазона приведены в табл. 22.3.
Таблица 22.3
ГУН СВЧ-диапазона
Тип |
Pout, dBm |
f, ГГц |
∆f, ГГц |
FN, dB |
P, мВт |
|
(100 кГц) |
||||||
GaAs MESFET |
17 |
15,2 |
0,6 |
-87 |
- |
|
GaAs HEMT |
13,7 |
17 |
1,4 |
-78 |
10,5 |
|
GaAs р-НЕМТ |
-3...6 |
7,5...15 |
0,4...0,8 |
-94...-89 |
15...150 |
|
InGaP/GaAs |
5,3 |
40,8 |
0,012 |
-95 |
- |
|
m-HEMT |
||||||
|
|
|
|
|
||
AlInAs/InGaAs HBT |
-17 |
43 |
2 |
-86 |
130 |
|
InGaP HBT |
-13 |
10...40,5 |
0,2...1,5 |
-83...-92 |
36...48 |
|
SiGe HBT |
-4,4 |
5...62,4 |
0,3...2 |
-78...-106 |
30...130 |
435
Среди активных устройств регулировки фазового сдвига лучшие результаты достигнуты в ИМС на AlGaAs–InGaAs–GaAs (р-НЕМТ) с длиной канала 0,15 мкм и предельной частотой 100 ГГц, работающей на частоте
20 ГГц.
Двухзатворные НЕМТ успешно используются для создания мощных СВЧ-смесителей. Весьма высокие параметры получены на 2-затворных Al-GaN/GaN НЕМТ с длиной канала 0,7 мкм: выходная мощность 19,6 дBm при конверсионном усилении 11 дБ на частоте 2 ГГц.
ВИС на р-НЕМТ достигнуты рабочие частоты мультиплексоров 80–90 Гбит/с. БИС, размещенная на кристалле 2x2 мм, может передавать информацию со скоростью 100 Гбит/с. Разрабатываются ИС на р-НЕМТ,
предназначенные для работы в составе блоков восстановления данных систем оптической передачи информации со скоростью 20–40 Гбит/с.
Вцифровой технике применение НЕМТ обеспечивает снижение задержки распространения сигнала до 10–30 пс при меньшем энергопотреблении, чем на кремниевых ЭСЛ-вентилях. В устройствах конвейерного типа, где логические вентили переключаются с тактовой частотой, применение MESFET и НЕМТ на частотах более 1–3 ГГц
обеспечивает снижение потребляемой мощности даже по сравнению с кремниевыми МДП-вентилями.
Возможности БИС и СБИС на m-НЕМТ можно оценить по характеристикам делителей частоты. Данные сведены в таблицу 22.4, где указаны тип делителя, коэффициент деления, максимальная частота работы
fmax, потребляемая мощность, используемая технология и предельная частота транзисторов. Приведенные данные показывают, что технология m-НЕМТ и НВТ обеспечивают примерно одинаковые характеристики.
Таблица 22.4
Сравнительные характеристики ИС делителей частоты на гетеропереходных транзисторах
|
Тип |
|
Коэфф. |
fmax, |
|
Р, mW |
Технология |
|
fТ, |
|
|
|
деления |
ГГц |
|
|
ГГц |
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
2:1 |
108 |
|
360 |
0,1мкм m-НЕМТ |
|
220 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Динамический |
|
4: 1 |
82 |
|
500 |
0,1мкм m-НЕМТ |
|
190 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
2:1 |
100 |
|
285 |
0,12 мкм SiGe НВТ |
|
207 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
8: 1 |
90 |
|
1400 |
InP/InGaAs НВТ |
|
>150 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
0,15 мкм |
|
|
|
|
Статический |
|
2:1 |
2,9 |
|
- |
Si0,2Ge0,8/Si0,7Ge0,3 |
|
- |
|
|
|
|
|
|
|
|
p-МДП |
|
|
|
|
В настоящее время рынок микроэлектронных изделий на |
|||||||||
полупроводниках |
А3В5 развивается |
более |
высокими темпами, |
чем на |
436