- •Isbn 5-283-02968-9
- •Глава 1
- •§ 1. Основные понятия
- •§ 2. Скалярные характеристики поля излучения
- •§ 3. Дифференциальные характеристики поля излучения
- •§ 4. Векторные характеристики поля излучения
- •§ 5. Токовые и потоковые величины в рассеивающей
- •§ 6. Теорема фано
- •§ 7. Поглощенная энергия излучения
- •§ 8. Линейная передача энергии
- •§ 9. Поглощенная доза
- •§ 10. Экспозиционная доза
- •§ 11. Коэффициент качества излучения. Эквивалентная доза
- •§ 11 Коллективная доза
- •§ 14. Коэффициент передачи энергии излучения
- •§ 15. Электронное равновесие
- •§ 16. Эффективный атомный номер вещества
- •§ 17. Средняя энергия новообразования
- •§ 18. Соотношение брэгга—грея
- •§ 19. Энергетическая зависимость чувствительности дозиметрического детектора в поле фотонного излучения
- •§ 20. Обобщенный принцип дозиметрии
- •§ 21. Вводные замечания
- •§ 22. Закономерности ионизационных камер
- •§ 23. Универсальная характеристика ионизационной камеры
- •§ 24. Закономерности ионизационных амер
- •2/3٠|2باكإب1 непр'/
- •§ 27. Газоразрядные счетчики
- •§ 28. Полостные ионизационные камеры
- •§ 29. Роль 6-электронов
- •Глава 5
- •§ 30. Особенности полупроводниковых детекторов
- •§ 31. Носители электрических зарядов в беспримесном полупроводнике
- •§ 32. Примесные полупроводники
- •§ 34. Уравнение протекания тока через полупроводниковый детектор
- •§ 35. Вольт-амперная характеристика полупроводникового детектора с /,-«-переходом
- •§ 36. Дозиметрические характеристики полупроводниковых
- •Глава 6
- •§ 37. Принцип метода
- •§ 41. Оптические эффекты в люминофорах
- •§ 42. Механизм радиофотолюминесценции
- •§ 43. Радиофотолюминесцентные дозиметры
- •§ 44. Механизм радиотермолюминесценции
- •§ 45. Кинетика термолюминесценции
- •§ 46. Кривая термовысвечивания
- •§ 47. Влияние режима облучения на чувствительность термолюминесцентных дозиметров
- •§ 48. Затухание люминесценции
- •§ 49. Люминесцентные дозиметры
- •§ 50. Фотохимическое действие излучения
- •§ 51. Дозовля чувствительность фотодозиметрл
- •52 ا. Компенсация энергетической зависимости чувствительности. Индивидуальный фотоконтроль
- •§ 53. Радиационно-химические превращения
- •§ 54. Жидкие дозиметрические системы
- •Глава 9
- •§ 57. Преобразование энергии нейтронов в веществе
- •§ 59. Энергетическая зависимость тканевой дозы
- •§ 60. Дозиметрия быстрых нейтронов с помощью ионизационных камер
- •§ 61. Применение пропорциональных счетчиков для дозиметрии быстрых нейтронов
- •§ 62. Сцинтилляционный метод дозиметрии нейтронов
- •§ 63. Активационный метод дозиметрии нейтронов
- •§ 64. Трековые дозиметрические детекторы
- •§ 65. Другие методы дозиметрии нейтронов
- •§ 66. Особенности дозиметрии высокоинтенсивных потоков ионизирующего излучения
- •§ 67. Жидкостные ионизационные камеры
- •§ 68. Ионизационные камеры без внешнего источника напряжения
- •§ 69. Детекторы прямой зарядки (радиационные элементы)
- •§ 70. Твердотельный комптоновский дозиметр
- •§ 71. Применение электретов в дозиметрии
- •§ 72. Тепловое действие ионизирующего излучения
- •§ 73. Одиночный калориметр
- •§ 74. Квазиадиабатическии режим калориметра
- •§ 75. Дифференциальная калориметрическая система
- •§ ٢6. Особенности дозиметрии высокоэнергетического фотонного излучения
- •§ 78. Квантометр
- •§ 79. Метод разности пар ،метод тонких конверторов؛
- •§ 80. Дозиметрия ускоренных заряженных частиц
- •Глава 12
- •§ 81. Общие замечания
- •§ 82. Лпэспектры
- •§ 83. Формирование лпспектров. Средние значения
- •§ 84. Распределение длины пути в сферической полости
- •§ 85. Связь лпэ-распределения с амплитудным спектром
- •§ 86. Метод линейной суперпозиции показаний нескольких детекторов
- •§ 87. Структура ионизации в конденсированных средах
- •§ 88. Основные положения теории неравномерной ионизации
- •§ 89. Рекомбинационный метод
- •§ 90. Предмет микродозиметрии
- •§ 91. Статистическая природа первичной передачи энергии
- •§ 93. Микродозиметрические величины и функции их распределения
- •§ 94. Экспериментальные методы микродозиметрии
- •§ 95. Прикладное значение микродозиметрии
- •§ 96. Пути поступления радионуклидов внутрь организма
- •§ 97. Образование и свойства радиоактивных аэрозолей
- •§ 98. ٥С٥бенн٥сти биологического, действия радиоактивных -аэрозолей
- •§ 100. Формирование дозы излучения инкорпорированных радионуклидов
- •§ 101. Кинетика формирования дозы
- •§ 1٠3. Кинетика продуктов, распада радона на фильтре
- •§ 104. Метод скрытой энергии
- •§ 105. Дозовая функция очечного источника ?-частиц
- •§ 106. Теорема обратимости дозы
- •§ 107. Доза от протяженных источников
- •Глава 15
- •§ 108. Общие замечания
- •§ 109. Расчетные методы дозиметрии р-излучения
- •Элементы метрологии в области ионизирующих излучений и радиоактивности
- •Оптимизация приборной погрешности по экономическому
- •В чем проблема!
- •Два класса дозиметрических величин
- •Переводные коэффициенты
- •Концепция универсальной дозы
- •Представительные фантомно-зависимые величины
- •٥О о 0 0 ٠١0 105 106 107 Энергия, эВ
- •1. Поле ионизирующего излучения
- •2. Доза излучения
- •Глава 3. Физические основы дозиметрии фотонного излучения ٠
- •Г л а в а 8. Фотографический и химический методы дозиметрии фотонно го излучения
- •§ 89. Рекомбинационный метод
- •13. Микродозиметрия
- •Глава 15. Дозиметрия потоков заряженных частиц
- •§ 108. Общие замечания . . ...٠٠٠
- •§ 109. Расчетные методы дозиметрии р-излучения ,
Два
вида люминесценции получили признание
в качестве основы для развития
методов дозиметрии ионизирующих
излучений: радиофотолюминесценция и
радиотермолюминесценция.
Материалы,
представляющие интерес в качестве
дозиметрических люминофоров, являются
твердыми изоляторами с широким диапазоном
оптической прозрачности. В качестве
примера можно указать щелочно-галогенидные
соединения (МаС1, ЫР и т. п.), обладающие
простым составом и кристаллической
структурой. Они состоят из двух
взаимопроникающих кубических решеток,
содержащих щелочные и галогенидные
ионы.
136§ 42. Механизм радиофотолюминесценции
+
- 4- - 4- — 4- — 4“ — |
_٠٠ |
٠м٠ |
4- |
— |
+ - |
+ |
— |
-1- |
- 4- |
> |
4- |
а) |
|||
4- |
- 4- |
— |
4- |
|
+©- |
о |
— |
|
- 4- |
،٠ |
4- |
— |
٦ ٠٣ |
٢ |
٠ |
+ |
о ٦٢ |
|
4- |
9)
+ ~ "4 — 4٠
“ ٥ “ + “
1٠ + — +
— 4٠ — + —
+
— + ٥
-4
+
- + —٩
—
-4
— "4
—
+
$> +
г)
;٥
-
+ + -
Рис.
39. Структурные дефекты
беспримесного кристалла:
а
— идеальный
кристалл; б
—
кристалл с ионными вакансиями; в
— ионы в промежуточном положении: г
—
<ловушки> в кристалле
Идеальный
кристалл состоит из чередующихся
положительных щелочных и отрицательных
галогенидных ионов (рис. 39,а). Реальные
кристаллы, однако, содержат различные
структурные дефекты. Один из возможных
дефектов щелочно-галогенидных
кристаллов—отсутствие положительных
и отрицательных ионов (вакансий) в тех
местах, где они должны были бы быть в
идеальном кристалле (рис. 39,6). Эти
вакансии случайным образом рас- положены
в кристаллической решетке, ٠и
в чистом кристалле число положительных
и отрицательных вакансий равно между
собой.٦
Последнее
вытекает из условия, что кристалл в
целом является электрически нейтральным.
Другим
видом возможных дефектов является
смещение поло٠
жительных
или отрицательных ионов из нормального
положения в кристаллической решетке
и закрепление их в необычном промежуточном
положении. В этом случае ион оставляет
соответствующую вакансию (рис. 39,в).
Наличие
подобных дефектов приобретает особое
значение при действии на кристалл
ионизирующего излучения. Проиллюстрируем
это следующим примером (рис. 38,г). Вакансии
галогенидно- го иона создают область
локализованного положительного заряда,
так как отрицательный ион, который
нормально должен занимать место
вакансии, отсутствует и окружающие
положительные щелочные ионы
оказываются не полностью нейтрализованными.
Под действием ионизирующего излучения
в кристалле возникают сво٦
бодные
электроны, один из которых может
оказаться вблизи ва٦
137
кансии
галогенидного иона. Под действием
кулоновских сил этот электрон может
быть «захвачен» вакансией.
Аналогично
этому галогенидный ион, смещенный со
своего нормального положения, создает
область локализации избыточного
отрицательного заряда. После того как
ионизирующее излучение освобождает
электрон в кристалле, образованные
положительные дырки могут перемещаться
в пределах кристалла. Находясь вблизи
промежуточно расположенного галогенидного
иона, дырка может быть притянута и
удержана кулоновскими силами.
В
приведенном ؛примере
мы исходим из того, что дефекты в
кристаллической решетке существовали
до облучения кристалла, и результатом
облучения явилось образование электронов
и дырок, которые могут быть захвачены
дефектами. Однако важно заметить,
что ионизирующее излучение само может
образовывать подобные дефекты в
кристалле (вакансии и смещение ионов).
Вакансию
с захваченным электроном можно
рассматривать как систему, обладающую
разрешенными дискретными энергетическими
уронями, между которыми возможны
переходы, соответствующие испусканию
или поглощению квантов энергии. Такие
системы будем ،называть
центрами.
Поглощение
светового фотона может перевести
электрон из основного состояния на
более высокий возбужденный уровень и
даже вырвать его из «ловушки».
Центры,
образованные в результате захвата
дефектами решетки электронов и
дырок, влияют на оптические свойства
кристаллов. Например, центр, состоящий
из электрона, захваченного га-
логенидно-ионной вакансией, способен
поглощать часть спектра видимого света
и тем самым изменять цвет кристалла.
Такие центры часто называют /7-центрами
— центрами окраски.
Специфические
центры с захваченными дырками — так
называемые Я-центры— образуются в
результате облучения щелочно- галогенидных
кристаллов при очень низких температурах.
Полоса поглощения Я-центра находится
вблизи ультрафиолетовой области.
Переход
центра из возбужденного состояния в
основное может происходить без излучения
,(безрадиационный переход), с испусканием
света (люминесценция) или путем комбинации
этих двух процессов. Так, если стабильные
/7-центры
создаются ионизирующим излучением,
то они могут проявлять себя как центры
люминесценции при возбуждении светом
определенной частоты. Это явление и
называется радиофотолюминесценцией.
Таким образом, радиофотолюминесценция
происходит тогда, когда под действием
ионизирующего излучения в кристалле
создаются новые центры фотолюминесценции.
Спектр
поглощения и испускания /7-центра
иллюстрируется рис. 40. Спектр люминесценции,
возникающей при возвращении /7-центра
из возбужденного состояния в нормальное,
показан штриховой линией. Заштрихованная
область соответствует спектру
поглощения необлученного кристалла.
138
Рис.
40. Спектры поглощения и испускания
/7-центра |
*на /7/ |
|
|
с- |
1' 2' 3 'Н-Т- 1 2 3' |
|
|
~г٥ |
ж |
٠٠٠٠ |
|
|
٠
Электрон
о Дырка
Рис.
41. Механизм радиофотолюминесценции
Описанный
процесс радиофотолюминесценции можно
объяснить с помощью зонной теории.
На
рис. 41 показаны валентная зона А,
зона проводимости В
и
локальные энергетические уровни в
пределах запрещенной зоны.
Дефект
в кристалле образует ловушку с локальным
уровнем С.
Ионизирующее излучение переводит
электрон из валентной заполненной
зоны А
в зону проводимости В.
Затем электрон захватывается ловушкой
и переходит на уровень С. После захвата
электрона ловушка превращается -в
/,-центр
с несколькими дискретными разрешенными
уровнями энергии. При последующем
возбуждении видимым светом электрон
может занять один из верхних уровней
/-центра (1—1', 2—2'). Обратный переход на
основной уровень С
(3—3') сопровождается люминесценцией.
Рассмотренный
механизм радиофотолюминесценции в
чистом щелочно-галогенидном кристалле
поясняет принцип работы
радиофотолюминесцентных дозиметров
(ФЛД): при поглощении ионизирующего
излучения образуются /-центры; концентрацию
центров, пропорциональную дозе, можно
определить измерением либо поглощения
света, либо люминесценции.
На
практике, однако, создание дозиметра
на основе чистого кристалла, в котором
центры люминесценции создавались бы
за счет собственных дефектов, оказывается
невозможным. Ни эффективность, ни
воспроизводимость /-центров в чистом
кристалле не соответствует дозиметрическим
требованиям; кроме того, /-центры
эффективны при очень низких температурах
и люминесценция не может быть обнаружена
при нормальной температуре; если
производить измерение по поглощению
света, то в самом акте измерения /-центры
фактически разрушаются.
Таким
образом, чистые щелочно-галогенидные
соединения не годятся для применения
в качестве дозиметрических систем.
Положение, однако, меняется, если
щелочно-галогенидные соединения
содержат определенные химические
добавки в виде твердого
139
раствора.
Ионы серебра Ag+,
например, существенно .улучшают
люминесцентные свойства кристаллов.
До
облучения кристалл, активированный
серебром, прозрачен для^ ультрафиолетового
света. Следовательно, при освещении
све- том со спектром, близким к
ультрафиолетовой области, не может
возникнуть и люминесцентное возбуждение.
После воздействия ионизирующим
излучением возникают полосы поглощения
вблизи ультрафиолетовой области,
обусловленные образованными в ре-
зультате облучения центрами, содержащими
атомы и ионы сереб- ра. Последующее
облучение ультрафиолетовым светом
приводит к тому, что некоторые из этих
центров вызывают видимую ЛЮ- минесценцию.
Например, в кристалле NaCl
с
примесью ионов се- ребра возникают
полосы поглощения с максимумом при
250, 280, 310, 340 и 440 нм. Последний 'ПИК
соответствует центру, не даю- щему
люминесценции. Остальные обусловлены
центрами, испус- кающими люминесцентное
свечение с максимумом соответствен-
но при 275, 435, 556 и (567 нм.
Помимо
щелочно-галогенидных кристаллов
радиофотолюми- несцентными свойствами
обладают активированные серебром
фосфатные стекла, применяющиеся для
целей дозиметрии. При- рода центров и
процессы, приводящие к люминесценции
в стек- лах, полностью еще не изучены.
-Дозиметрические
стекла специфически реагируют на
кратко- временное воздействие ионизирующим
излучением: сразу после облучения
увеличивается интенсивность
-радиофотолюминесцен- ции (эффект
накопления), а затем наблюдается ее
затухание. Ки- нетика процесса зависит
от температуры, основного состава стек-
ла и концентрации серебра в стекле.
'Типичные кривые показаны на'рис. 42. По
О'СИ абсцисс отложено время, прошедшее
после кратковременного облучения
ионизирующим излучением; по оси ординат
— интенсивность люминесценции.
Параметром служит температура, при
которой хранится стекло от момента
облучения до момента измерения
люминесценции, причем интенсивность
ЛЮ- минесценции измеряют П'РИ комнатной
температуре. Чем выше температура и
выше концентрация серебра, тем быстрее
насту- пает максимум ؛свечения
'После прекращения облучения.
Один
из возможных вариантов объяснения этих
кривых осно
ван
на следующих рассуждениях.
В
необлученном стекле, активированном
серебром, примесь серебра образует
центры Р
со своими локальными энергетическими
уровнями. Возможно также существование
других локальных уровней /7, которые
неэффективны в отношении создания
люминесценции (рис. 43).
Ионизирующее
излучение переводит электроны в зону
проводимости (переход ،7).
Часть этих электронов непосредственно
захватывается положительно заряженными
атомами серебра или целыми агрегатами
(переход г). Это приводит к созданию
новых центров ٠.
Часть
электронов, попавших в зону проводимости,
сначала за-
140
150°С
Рис.
43. Кинетика люминесценции в стеклах
а
н
—
d
٩F٠
р
Q
г'
Рис.
42. Зависимость интенсивности люминесценции
стекол от времени выдержки
хватывается
на уровни Н
и лишь впоследствии осуществляет
термические переходы обратно в зону
؛проводимости
(переход Г), а оттуда они
могут попасть
на уровень Р
(переход г) и создать добавочно новые
центры Q.
Переходы
/' и Г
соответствуют возбуждению и испусканию
света необлученного стекла, а переходы
/’ и I
—
после облучения.
Таким
образом, сразу после облучения
продолжается процесс образования
центров люминесценции Q,
что
объясняет рост интенсивности
свечения. Дальнейшее затухание можно
объяснить рекомбинацией электронов,
находящихся на возбужденных уровнях
центра Q,
с
дырками (переход г').
С
повышением температуры увеличивается
вероятность перехода электронов,
первоначально попавших на уровень Н,
в зону проводимости (переход Г), что
ускоряет процесс образования новых
центров Q.
С
ростом концентрации серебра увеличивается
число центров Р, что ؛повышает
вероятность для электронов из зоны
проводимости попасть на центр Р
по сравнению с захватом ловушкой Н.
Это может объяснить ускорение эффекта
накопления при повышении температуры
и концентрации серебра в стекле.
Заканчивая
описание механизма радиофотолюминесценции,
подчеркнем следующие характерные черты
этого процесса:
спектр
люминесценции обусловлен центрами,
состоящими из положительно заряженных
атомов серебра, нейтральных атомов
и сложных конгломератов. Эти центры
создаются под действием ионизирующего
излучения с участием первоначально
инкорпорированных ионов Ag+;
созданные
таким образом люминесцентные центры
не разрушаются в процессе измерения
люминесценции. Они только возбуждаются
под действием измерительного света и
затем люми- несцируют. Эта процедура
может повторяться неоднократно.
141