- •Isbn 5-283-02968-9
- •Глава 1
- •§ 1. Основные понятия
- •§ 2. Скалярные характеристики поля излучения
- •§ 3. Дифференциальные характеристики поля излучения
- •§ 4. Векторные характеристики поля излучения
- •§ 5. Токовые и потоковые величины в рассеивающей
- •§ 6. Теорема фано
- •§ 7. Поглощенная энергия излучения
- •§ 8. Линейная передача энергии
- •§ 9. Поглощенная доза
- •§ 10. Экспозиционная доза
- •§ 11. Коэффициент качества излучения. Эквивалентная доза
- •§ 11 Коллективная доза
- •§ 14. Коэффициент передачи энергии излучения
- •§ 15. Электронное равновесие
- •§ 16. Эффективный атомный номер вещества
- •§ 17. Средняя энергия новообразования
- •§ 18. Соотношение брэгга—грея
- •§ 19. Энергетическая зависимость чувствительности дозиметрического детектора в поле фотонного излучения
- •§ 20. Обобщенный принцип дозиметрии
- •§ 21. Вводные замечания
- •§ 22. Закономерности ионизационных камер
- •§ 23. Универсальная характеристика ионизационной камеры
- •§ 24. Закономерности ионизационных амер
- •2/3٠|2باكإب1 непр'/
- •§ 27. Газоразрядные счетчики
- •§ 28. Полостные ионизационные камеры
- •§ 29. Роль 6-электронов
- •Глава 5
- •§ 30. Особенности полупроводниковых детекторов
- •§ 31. Носители электрических зарядов в беспримесном полупроводнике
- •§ 32. Примесные полупроводники
- •§ 34. Уравнение протекания тока через полупроводниковый детектор
- •§ 35. Вольт-амперная характеристика полупроводникового детектора с /,-«-переходом
- •§ 36. Дозиметрические характеристики полупроводниковых
- •Глава 6
- •§ 37. Принцип метода
- •§ 41. Оптические эффекты в люминофорах
- •§ 42. Механизм радиофотолюминесценции
- •§ 43. Радиофотолюминесцентные дозиметры
- •§ 44. Механизм радиотермолюминесценции
- •§ 45. Кинетика термолюминесценции
- •§ 46. Кривая термовысвечивания
- •§ 47. Влияние режима облучения на чувствительность термолюминесцентных дозиметров
- •§ 48. Затухание люминесценции
- •§ 49. Люминесцентные дозиметры
- •§ 50. Фотохимическое действие излучения
- •§ 51. Дозовля чувствительность фотодозиметрл
- •52 ا. Компенсация энергетической зависимости чувствительности. Индивидуальный фотоконтроль
- •§ 53. Радиационно-химические превращения
- •§ 54. Жидкие дозиметрические системы
- •Глава 9
- •§ 57. Преобразование энергии нейтронов в веществе
- •§ 59. Энергетическая зависимость тканевой дозы
- •§ 60. Дозиметрия быстрых нейтронов с помощью ионизационных камер
- •§ 61. Применение пропорциональных счетчиков для дозиметрии быстрых нейтронов
- •§ 62. Сцинтилляционный метод дозиметрии нейтронов
- •§ 63. Активационный метод дозиметрии нейтронов
- •§ 64. Трековые дозиметрические детекторы
- •§ 65. Другие методы дозиметрии нейтронов
- •§ 66. Особенности дозиметрии высокоинтенсивных потоков ионизирующего излучения
- •§ 67. Жидкостные ионизационные камеры
- •§ 68. Ионизационные камеры без внешнего источника напряжения
- •§ 69. Детекторы прямой зарядки (радиационные элементы)
- •§ 70. Твердотельный комптоновский дозиметр
- •§ 71. Применение электретов в дозиметрии
- •§ 72. Тепловое действие ионизирующего излучения
- •§ 73. Одиночный калориметр
- •§ 74. Квазиадиабатическии режим калориметра
- •§ 75. Дифференциальная калориметрическая система
- •§ ٢6. Особенности дозиметрии высокоэнергетического фотонного излучения
- •§ 78. Квантометр
- •§ 79. Метод разности пар ،метод тонких конверторов؛
- •§ 80. Дозиметрия ускоренных заряженных частиц
- •Глава 12
- •§ 81. Общие замечания
- •§ 82. Лпэспектры
- •§ 83. Формирование лпспектров. Средние значения
- •§ 84. Распределение длины пути в сферической полости
- •§ 85. Связь лпэ-распределения с амплитудным спектром
- •§ 86. Метод линейной суперпозиции показаний нескольких детекторов
- •§ 87. Структура ионизации в конденсированных средах
- •§ 88. Основные положения теории неравномерной ионизации
- •§ 89. Рекомбинационный метод
- •§ 90. Предмет микродозиметрии
- •§ 91. Статистическая природа первичной передачи энергии
- •§ 93. Микродозиметрические величины и функции их распределения
- •§ 94. Экспериментальные методы микродозиметрии
- •§ 95. Прикладное значение микродозиметрии
- •§ 96. Пути поступления радионуклидов внутрь организма
- •§ 97. Образование и свойства радиоактивных аэрозолей
- •§ 98. ٥С٥бенн٥сти биологического, действия радиоактивных -аэрозолей
- •§ 100. Формирование дозы излучения инкорпорированных радионуклидов
- •§ 101. Кинетика формирования дозы
- •§ 1٠3. Кинетика продуктов, распада радона на фильтре
- •§ 104. Метод скрытой энергии
- •§ 105. Дозовая функция очечного источника ?-частиц
- •§ 106. Теорема обратимости дозы
- •§ 107. Доза от протяженных источников
- •Глава 15
- •§ 108. Общие замечания
- •§ 109. Расчетные методы дозиметрии р-излучения
- •Элементы метрологии в области ионизирующих излучений и радиоактивности
- •Оптимизация приборной погрешности по экономическому
- •В чем проблема!
- •Два класса дозиметрических величин
- •Переводные коэффициенты
- •Концепция универсальной дозы
- •Представительные фантомно-зависимые величины
- •٥О о 0 0 ٠١0 105 106 107 Энергия, эВ
- •1. Поле ионизирующего излучения
- •2. Доза излучения
- •Глава 3. Физические основы дозиметрии фотонного излучения ٠
- •Г л а в а 8. Фотографический и химический методы дозиметрии фотонно го излучения
- •§ 89. Рекомбинационный метод
- •13. Микродозиметрия
- •Глава 15. Дозиметрия потоков заряженных частиц
- •§ 108. Общие замечания . . ...٠٠٠
- •§ 109. Расчетные методы дозиметрии р-излучения ,
равновесном
состоянии, когда можно пренебречь
влиянием элек- трического поля на
распределение зарядов. Если ВЛИЯНИЙ
ПОЛЯ пренебречь нельзя, то следует
пользоваться уравнениями (34.13^, решение
которых может представить значительные
трудности. Эти уравнения, однако, не
учитывают искажения ПОЛЯ простран-
ственными зарядами внутри полупроводника.
Для учета простра.н- ственных зарядов
необходимо еще добавить уравнение
Пуассо- на, которое для одномерного
случая изменения ПОЛЯ только 'вдоль
оси X
имеет вид
ئ٨بم)د:ذي
—
п
— NA),
дх е٠е
где
е٥
-
диэлектрическая проницаемость в
вакууме', е —отно- сительная диэлектрическая
проницаемость в материале полупро-
водника; Nd
—
концентрация атомов донорной примеси;
Na
—
концентрация
атомов акцепторной примеси, в дальнейшем
будем полагать, что справедливы уравнения
(34.15).
Пусть
к полупроводнику с /,-«-переходом
приложено внеш- нее напряжение и
(рис. 30). Слои рип
разделены областью перехода h.
в
пределах этой области положительные
заряды скон- центрированы у границы
«-слоя, а отрицательные распределены
по всему переходу, пространственный
заряд создает электриче- ское поле в
пределах области перехода h.
За
пределами этой области поле отсутствует.
Так как область перехода сильно обед-
нена носителями зарядов, ее сопротивление
неизмеримо выше сопротивления слоев
р и «. Это позволяет считать, что внешнее
напряжение и
полностью приложено к области перехода.
Введем
следующие обозначения: Рр
и /,„ — концентрация ды- рок в /,- и
«-области соответственно; «р и «„-
концентрация электронов в р-
и «-области.
Рассмотрим
поведение плотности тока дырок /'р в
«-области за границей перехода Хп.
Так как 'электрическое поле здесь рав-
но нулю, ток обусловлен только диффузией.'
Из формул (34.8) при 0=٠ة
получаем
٠ع,ه٠-"م)
Если
внешнее напряжение отсутствует,., то в
«-области уста- навливается равновесная
концентрация дырок р٠п
и нет направ- ленного движения носителей
зарядов. Предположим теперь, 'ЧТО к
области перехода приложено прямое
внешнее напряжение, ко- торое создает
направленное движение дырок к границе
Хп.
Это создаст некоторый избыток
положительных зарядов., на границе
«-области, и так как в «-слое поле
отсутствует, -то направленный поток
положительных зарядов за пределами
области перехода будет обусловлен их
диффузией. Через некоторое время после
117-§ 35. Вольт-амперная характеристика полупроводникового детектора с /,-«-переходом
Рис.
30. Полупроводник с р—«-переходом
Рис.
31. Вольт-амперная характеристика
полупроводникового детектора с р—«٠
переходом
|
1 ++ — -ا |
|
|
р |
ااببخ~ت؛ |
п |
|
' Рр-Мд |
؛+ب:تتا |
Dn=Np ' |
|
Xfl
Xp
подачи
напряжения установится равновесное
состояние с опре- деленным распределением
положительных зарядов в / слое. Ес- ли
считать этот слой бесконечно толстым
(по сравнению с р-п-
переходом
это вполне допустимо), то относительно
распределе- НИЯ концентрации положительных
зарядов р
можно сказать еле- дующее. Максимальное
значение концентрации р
будет на гра- нице Хп.
По мере удаления от этой границы вдоль
оси X
избы- точное число дырок уменьшается
вследствие рекомбинации, и при %٠٠ي
концентрация
Концентрация
дырок в любой области достаточно мала,
и можно считать, что они не взаимодействуют
между собой. Тогда их концентрация на
границе Хп,
где
потенциал равен رع,
опреде- лится формулой
Рх:хп
— Рп
ехр {еиря
)٠ (35.2)
Для
установления закона изменения
концентрации вдоль оси воспользуемся
первым уравнением системы (34.15).
Применительно к нашему случаю в этом
уравнении ،7РтР=0.
Тогда
<35-3) ■٠٥؛٦-٥٠٠
Совместим
начало координат с хп,
тогда граничным условием
будет р=рп
при х=٥٥,
а значение р
при х=0 определится фор-
мулой (35.2).
Решая
уравнение (35.3) с учетом граничных
условий, мож-
но
получить следующий закон распределения
р:
р=рп[ехр
(eU/kT)
— \}
exp (—
x/Lp)
+рп,
(35.4)
где
£٥=у٥٠тр—диффузионная
длина дырок в и-области. На расстоянии
х=Ьр
избыточная концентрация дырок уменьшается
в «е» раз — таков смысл диффузионной
длины.
118