Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Иванов В.И.docx
Скачиваний:
252
Добавлен:
25.03.2020
Размер:
992.68 Кб
Скачать

Глава 5

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ДОЗИМЕТРИЧЕСКИЕ ДЕТЕКТОРЫ

§ 30. Особенности полупроводниковых детекторов

Применение полупроводников в качестве дозиметрических де­текторов основано на их способности регистрировать ионизирую­щие частицы. В природе имеется огромное количество соединений, минералов и чистых элементов, которые относятся к классу полу­проводников, но лишь немногие из них нашли применение для регистрации ионизирующих излучений.

Общим признаком полупроводников является значение их электрической проводимости, которое занимает промежуточное место между электрической проводимостью диэлектриков и про­водников. Диапазон значений удельной электрической проводимо­сти полупроводников лежит в пределах 104—10-1٥ Ом •см-1, в то время как к диэлектрикам относят вещества с удельной электри­ческой проводимостью менее 10-1٠ Ом-1 •см-1, металлы (провод­ники) имеют удельную электрическую проводимость в пределах 106—104 Ом-1 •см-1. С точки зрения зонной теории полупроводни­ковыми свойствами обладают такие вещества, ширина запрещен­ной зоны которых не превышает 2—3 эВ. У диэлектриков запре­щенная зона значительно шире, у металлов она практически от­сутствует.

Полупроводник в качестве счетчика элементарных частиц вы­ступает как аналог импульсной ионизационной камеры, но в ос­нове работы счетчика лежит ионизация атомов твердого тела. По сравнению с газовыми ионизационными детекторами полупро­водниковые счетчики имеют особенности, которые определяют их преимущества и недостатки и возможность использования для до­зиметрии.

Результатом ионизации в полупроводнике является появление свободных электронов в зоне проводимости и дырок в валентной зоне. Ширина запрещенной зоны не превосходит нескольких элек­трон-вольт, поэтому и энергия, необходимая для образования па­ры электрон — дырка, является величиной того же порядка. Это одна из особенностей, отличающих их от газовых ионизационных камер, где средняя энергия образования одной пары ионов со­ставляет десятки электрон-вольт (для воздуха 34 эВ). Таким об­разом, в расчете на одинаковую поглощенную энергию в полупро­водниковом детекторе образуется примерно на порядок больше носителей электрических зарядов, чем в чувствительном объеме ионизационной камеры. Плотность вещества полупроводникового детектора на несколько порядков (примерно 103) выше плотности газа в обычной ионизационной камере, поэтому и поглощенная энергия (в расчете на одинаковую плотность потока излучения) в полупроводниковом детекторе на несколько порядков больше, чем в газовом.

100

Таким образом, в одном и том же поле излучения ионизацион­ный эффект в полупроводниковом детекторе будет на несколько порядков выше, чем в ионизационной камере. Это определяет их главное преимущество: высокая чувствительность при малых размерах.

Другая важная особенность полупроводниковых детекторов по сравнению с газовыми — высокая подвижность носителей заряда. Например, в кремнии при комнатной температуре подвижность отрицательных носителей (электронов) равна 1300 см2/(В٠с), а положительных (дырок)—500 см2/(В٠с). Для сравнения напом­ним, что подвижность ионов в воздухе при нормальных услови­ях около 1 см2/(В٠с). Высокая подвижность носителей зарядов определяет малое время собирания электрических зарядов на электроды и как следствие большую разрешающую способность детектора при счетно-импульсном режиме работы (временное раз­решение).

Малое время собирания существенно снижает вероятность ре­комбинации «положительных и отрицательных зарядов. В расчете на одннаков١٣ю напряженность электрического поля эффект ре­комбинации в полупроводниковом детекторе пренебрежимо мал по сравнению с газовыми камерами. Кроме того, большая подвиж­ность носителей зарядов при прочих равных условиях обеспечи­вает больший ионизационный ток. В расчете на одинаковый иони­зационный эффект полупроводниковый детектор требует на не­сколько порядков меньшего электрического напряжения, чем га­зовый. В этом еще одно преимущество полупроводников.

Сравнительно малая ширина запрещенной зоны обусловливает появление свободных электрических зарядов в результате флюкту­аций энергии теплового движения. Это приводит к тому, что срав­нительно высокая «фоновая» проводимость полупроводника су­щественно зависит от температуры. Здесь мы имеем дело с одной из наиболее серьезных трудностей при использовании полупровод، ников в качестве дозиметрических детекторов. Высокий темновой ток в некоторых случаях не позволяет применять полупроводни­ки в качестве детекторов.

Рассмотрим подробнее вопрос о флюктуациях фонового тока при импульсном режиме работы полупроводникового детектора. Пусть собственное сопротивление полупроводника будет /?, тогда при напряжении и фоновый ток 1=и!Я. Предположим, что в де­тектор попала ионизирующая частица, которая образовала N электрических зарядов. Под действием электрического поля эти заряды собираются на электроды за время собирания т. Но за это же время на электроды соберутся заряды фонового тока. Пусть число фоновых зарядов, попавших на электроды за время т, бу­дет Л٢ф. Тогда

(30.1)

,т/е= и%!еЯ؛=٨٢Ф

где е — элементарный заряд.

101

Надо сравнить число полезных отсчетов N с флюктуациями фона. Среднее квадратическое отклонение фона равно

У^ = уи^ёй.

Очевидно, измерения можно производить только в том случае, ес­ли полезный сигнал превосходит флюктуации фона. Введем вели­чину

Я = ٨٧٦١ (30.2)

Подставив сюда значение ٨٨ф из формулы (30.1), получим следу­ющую формулу для отношения сигнал — фон:

Л = (30.3)

Из формулы (30.3) следует, что при наличии фонового тока усло­вия регистрации сильноионизирующих частиц (большое значение Л٢) лучше, чем слабоионизирующих. Сравним это с условиями ра­боты ионизационной ка؛меры. Там темновой ток, обусловленный собственной проводимостью газа, пренебрежимо мал٠٠ Однако из- за эффекта рекомбинации более благоприятные условия измере­ния для обеспечения режима насыщения наблюдаются ،при изме­рении слабоионизирующих частиц.

Наличие флюктуаций темнового тока требует достаточно вы­сокого электрического сопротивления полупроводника. Согласно оценкам, для удовлетворительного измерения, например, а-излу- чения детектором толщиной 0,1 см при площади поперечного се­чения 0,1 см2 удельное сопротивление полупроводника должно быть больше 105 О؛м٠см. Однако чистые кристаллы важных в практическом отношении полупроводников имеют значительно

Таблица 4. Характеристика полупроводниковых материалов

Полупроводник

Ширина запре- !Ценной зоны при

300 К» эВ

1

ЯП

1

Атомный номер

Подвижность при 300 К, см٥/(В٠с)

Время жизни, с

электро­нов

дырок

электронов в полупро- воднике ^-типа

дырок в полу­проводнике п-типа

Кремний

1,08

3,6

14

1500

500

3-10-3

З-10-з

Германий

0,67

2,94

32

3800

1800

10-3

Ю-з

Алмаз

١6

10

6

1800

1200

Селенид кадмия

1,7

48,34

200

10-3—10-3

Сульфид кадмия

2,4

7,3

48,16

300

10

0-8

Теллурид кадмия

1,5

-

48,52

١100

00

4.10-3

>10-3

Фо٠д галлия

2,25

-

31,15

140

150

10-8

10-8

Арсенид галлия

1,43

6,3

31,33

8500

420

10-’

10~7

Сурьмид галлия

0,67

31,51

4000

1400

- 10-8

8~١10

Фосфид индия

1,25

49,15

4800

150

-

Арсенид индия

0,4

49,33

20 000

240

Сурьмид индия

9,17

0,6

49,51

78 000

750

~10 ’

١ю 7

Сульфид свинца

0,37

٠

82,16

400

600

2-10-”

102

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]