- •Введение
- •1. История развития теории надежности
- •2. Надежность как прикладная научная дисциплина
- •3. Надежность и качество
- •4. Физико-химические процессы, влияющие на надежность
- •Влияние некоторых внешних воздействий на полупроводниковые приборы
- •5. Классификация основных состояний объекта
- •6. Номенклатура и классификация показателей надежности
- •Номенклатура показателей надежности
- •7. Количественные характеристики надежности технических устройств
- •7.1. Показатели безотказности невосстанавливаемых объектов
- •7.2. Показатели безотказности восстанавливаемых объектов
- •7.3. Показатели долговечности
- •7.4. Показатели ремонтопригодности
- •7.5. Показатели сохраняемости
- •7.6. Комплексные показатели надежности
- •7.7. Аналитические зависимости между показателями надежности
- •8. Нормирование показателей надежности
- •9. Моделирование и анализ надежности технических устройств и систем
- •9.1. Методология моделирования надежности
- •9.2. Методы анализа структурной надежности сложных технических систем (см. Также пз 2)
- •9.2.1. Основные типы структурных схем надежности Системы с последовательным соединением элементов
- •Системы с параллельным соединением элементов
- •9.2.2. Структурно-логический метод анализа системы
- •9.3. Вероятностные методы анализа надежности
- •9.3.1. Вероятностная модель внезапного отказа
- •9.3.2. Вероятностная модель постепенного отказа
- •9.4. Топологические методы
- •9.5. Принципы расчета надежности при проектировании
- •Обоснование норм надежности
- •Расчет надежности
- •Значения поправки для разных условий эксплуатации
- •Интенсивности отказов элементов радиоэлектронной аппаратуры
- •10. Методы повышения и обеспечения надежности
- •10.1. Методы повышения структурной надежности
- •Классификация способов резервирования элементов систем
- •10.2. Надежность систем при разных способах структурного резервирования
- •10.3. Обеспечение надежности при эксплуатации
- •Классификация ремонта
- •11. Испытания на надежность (определение надежности по экспериментальным данным)
- •11.1. Классификация испытаний и планов испытаний на надежность
- •Классификация испытаний технического объекта
- •Цели испытаний технических устройств
- •Планы испытаний на надежность
- •Рекомендуемые планы испытаний на надежность
- •11.2. Определительные испытания на надежность
- •Планирование испытаний
- •Определение объема испытаний для плана испытаний [nun]
- •Определение объема испытаний для плана [nUr]
- •Определение объема испытаний для плана [nuт]
- •Определение объема испытаний для планов [nMr], [nmt], [nRr], [nrt]
- •11.3. Оценка показателей надежности
- •11.3.1. Экспериментальные методы
- •Точечная оценка непараметрическим методом
- •Формулы для вычисления значений точечных оценок показателей надежности
- •Точечная оценка параметрическим методом
- •Формулы для вычисления значений точечных оценок показателей надежности при известном законе распределения
- •Точечные оценки параметра λ экспоненциального распределения
- •Интервальные оценки показателей надежности
- •Вычисление интервальных оценок показателей надежности непараметрическим методом
- •Экспоненциальное распределение
- •Распределение Вейбулла
- •Интервальные оценки показателей надежности
- •Оценка остаточного ресурса по результатам испытаний
- •Оценка показателей безотказности при испытаниях с измерением определяющих параметров
- •11.3.2. Расчетно-экспериментальные методы
- •Коэффициенты отношения параметров распределений
- •Типовые ситуации
- •Интервальная оценка вероятности безотказной работы систем с последовательной ссн при биномиальных испытаниях
- •Оценка показателей безотказности систем с последовательной ссн при планах испытаний с измерением наработки до отказа
- •Оценки параметра λ
- •Оценка показателей долговечности систем с последовательной ссн
- •Оценки среднего ресурса системы по ресурсу элементов
- •Оценка гамма – процентного ресурса системы
- •11.3.3. Контрольные испытания на надежность
- •Применяемость контрольных испытаний на надежность по гост 27.410-87
- •Метод одноступенчатого контроля
- •Контроль показателя безотказности Один контрольный уровень
- •Два контрольных уровня
- •Одноступенчатые планы контроля вероятности безотказной работы
- •Контроль наработки
- •Одноступенчатые планы контроля наработки
- •Метод многоступенчатого контроля
- •Метод последовательного контроля
- •Контроль безотказности
- •Контроль наработки
- •11.3.4. Контроль надежности сложных систем по данным о надежности их элементов
- •Объем испытаний для контроля вероятности безотказной работы при биномиальном плане
- •Объем испытаний для контроля наработки при экспоненциальном законе распределения
- •11.3.5. Методы ускоренных испытаний
- •12. Исследование риска
- •12.1. Методы анализа риска Стандарты, устанавливающие и использующие понятия риска и его оценок, а также относящиеся непосредственно к менеджменту риска:
- •Перечень наиболее распространенных методов, используемых при анализе риска (по гост р 51901.1-2002)
- •Перечень дополнительных методов, используемых при анализе риска
- •Исследование опасности и связанных с ней проблем (hazop)
- •Анализ видов и последствий отказов (fmea)
- •Анализ диаграммы всех возможных последствий несрабатывания или аварии системы (анализ «дерева неисправностей») (fта)
- •Анализ диаграммы возможных последствий события (анализ «дерева событий») (ета)
- •Предварительный анализ опасности (рна)
- •Оценка влияния на надежность человеческого фактора (hra)
- •12.2. Оценивание риска
- •Матрица риска
- •Матрица критичности отказов
- •12.3. Количественный анализ технического риска
- •Рекомендации по выбору методов анализа риска
- •Рассмотрим простой экспрессный метод количественного анализа риска
Контроль показателя безотказности Один контрольный уровень
Испытания по этому плану могут проводиться на N0образцах или на одном образце, при условии, что в процессе испытаний образца не производятся воздействия, влияющие на его надёжность (накопление повреждений, восстановление, доработка и пр.). Биномиальный план обладает наибольшей общностью, но и требует больших объемов испытаний для подтверждения высоких требований по надежности. Сокращение объема испытаний возможно при их форсировании или учете коэффициента функциональной избыточности системыu. Число образцов для испытаний при биномиальном плане на интервале времени [0,t0] в номинальном режиме без утяжеления определяется по соотношению:
N0=lnβ/lnPнорм
при допустимом числе отказов lдоп=0 или при допустимом числе отказовlдоп>0 по соотношению:
N0=minN, определяемого из неравенства
f2(N,lдоп,1-β)≥Pнорм,
где f2- табулированная функция биномиального распределения (функция Клоппера – Пирсона), характеризующая нижнюю доверительную границу вероятности безотказной работы при уровне доверия (1-β).
При коэффициенте функциональной избыточности u> 0 значение нормируемого показателяPнормв расчетных соотношениях заменяют на отношение: (Pнорм - u)/(1 - u).
Структурная избыточность определяется числом ребер неориентированного связного графа с n вершинами по отношению к минимально необходимому:
Коэффициент структурной избыточности определяется по формуле:
При биномиальном плане испытаний при тех же допущениях, но с остановкой, объем выборки определяют по соотношениям:
N0=β-1-1 приlдоп=0,
N0=2β-1-1 приlдоп=1.
План испытаний с остановкой отличается от обычного биномиального плана тем, что в нем испытания ведутся последовательно в заданном интервале времени, а не одновременно, и на планируемый объем испытаний не накладываются ограничения по постоянству показателя надежности.
ПРИМЕР 34
Задано требуемое значение вероятности безотказной работы системы Pнорм=0,9 на интервале [0,t0] в номинальном режиме, при допустимом риске потребителяβ= 0,1, приlдоп=0 иlдоп=1. Определить требуемый объем испытаний при биномиальном плане.
Для случая без отказов N0=lnβ/lnPнорм=ln0,1/ln0,9=22. Для случая с одним отказомN0 находим из неравенстваf2(N,lc,1-β)≥Pнормс помощью табл.2 Приложения [4Т, том 6]N0=22.
Примечание: Если бы мы задали более высокий уровень надежности, например, Pнорм=0,99, то, при том же риске потребителя, объем испытаний для двух рассматриваемых случаев (без и с отказом) был бы существенно различным: 229 и 300 образцов соответственно.
Два контрольных уровня
При планировании контрольных биномиальных испытаний по двум контрольным уровням вероятностного параметра надежности Рнеобходимо определить объём испытаний (выборки) и контрольные нормативы по числу отказов. Для их вычисления используется оперативная характеристика плана контроля, которая для одноступенчатых испытанийNизделий в течение заданной наработки (план типа [NUt0]) выражается формулой:
,
где: c– нормируемое число отказов;
СrN– биномиальный коэффициент;
r– фактическое число отказов, имевших место в испытаниях;
П1(N,с) – обозначение плана одноступенчатого контроля при контроле показателя безотказности.
Должны быть найдены минимальные значения N0ис, удовлетворяющие неравенствам (см. рис. 22):
Условия приемки: при r≤cиP=Pпрпринимается нулевая гипотеза, приr>cиP=Pбрнулевая гипотеза отвергается. Значения можно вычислить по приведенным выше формулам или найти по таблицам. Фрагмент такой таблицы приведен ниже (табл. 27). Согласно ГОСТ 27.403-2009 контрольные уровни могут быть заданы двумя способами: 1)Рα– приемочный уровень,Рβ– браковочный уровень; 2)Рα– приемочный уровень и разрешающий коэффициентD= (1- Рβ)/(1 - Рα). Смотри также ЛР 2.
Таблица 27