- •Содержание
- •VI. Лазерные стандарты длины и частоты
- •Yi. Автомодуляция излучения в резонаторе лазера на твердом теле
- •Yii. Лазеры ультракоротких импульсов
- •Yiii. Свойства ультракоротких импульсов
- •IX. Измерение параметров ультракоротких лазерных импульсов
- •X. Полупроводниковые лазеры
- •Краткая история создания лазеров Цезиевый атомно-лучевой квантовый стандарт частоты
- •Принцип работы лазера
- •Лазер, как автоколебательная система
- •I. Взаимодействие света с веществом
- •1.1. Спектр излучения
- •1.2. Тепловое излучение
- •1.3. Коэффициент поглощения
- •1.5. Люминесценция
- •1.7. Сверхизлучение
- •1.8. Энергетические характеристики электромагнитного поля
- •Объемная плотность энергии в пучке
- •1.9. Оценки частоты Раби и мощности излучения, необходимой для проявления когерентрных эффектов взаимодействия поля с веществом
- •2.1. Газоразрядные лампы для оптической накачки лазеров
- •2.2. Многослойные диэлектрические зеркала
- •2.3. Лазеры на активированных кристаллах
- •2.4. Система оптической накачки лазеров на твердой активной среде
- •2.5. Неодимовый лазер
- •III. Лазерные резонаторы
- •3.1. Лазерные пучки
- •3. 3. Гауссовы пучки света
- •3.4. Фокусировка гауссова пучка линзой
- •3.5. Идеальный открытый оптический резонатор
- •Iy. Лазерная генерация
- •4.1. Вероятности переходов
- •4.2. Схемы накачки активной среды лазеров
- •4.4. Энергетическое условие стационарной генерации
- •4.5. Расчет коэффициента усиления активной среды для твердотельных лазеров с импульсной оптической накачкой
- •4.6. Пороговая энергия накачки лазера с импульсной накачкой
- •4.7. Определение коэффициента усиления и скорости накачки по
- •4.8. Фазовое условие генерации
- •4.9. Селекция мод лазерного резонатора
- •4.10. Принцип конкуренции мод
- •4.11. Принцип максимальной ширины спектра излучения лазера
- •4.12. Перестройка частоты излучения одночастотного лазера путем микроперемещения лазерного зеркала
- •4.13. Лазеры со стабилизацией частоты излучения
- •4.14. Оптическое гетеродинирование
- •4.15. Лазерные стандарты длины и частоты. Измерение частоты и длины волны лазерного излучения
- •4.16. Многочастотный спектр излучения лазера
- •4.17. Мощность стационарной генерации лазера
- •5.2. Моноимпульсная генерация
- •5.3. Пассивная модуляция добротности резонатора
- •5.4. Измерение энергии и мощности лазерных импульсов
- •5.5. Регистрация формы лазерных импульсов электронно-оптической камерой
- •Yi. Автомодуляция излучения в лазерном резонаторе
- •6.2. Измерения мощности лазерного излучения в широком динамическом диапазоне
- •6.3. Динамика лазера с неустойчивым и разъюстированным плоским резонатором
- •6.4. Механизмы автомодуляции потерь лазерного резонатора
- •6.4.1. Самонаведенная линзовость в активной среде лазера
- •6.4.2. Автомодуляция излучения лазера самонаведенной амплитудно-фазовой решеткой
- •6.4.3. Автомодуляция излучения в сложном резонаторе
- •Yii. Лазеры ультракоротких импульсов
- •7.1. Первые исследования сверхкоротких лазерных импульсов
- •7.2. Автокорреляция лазерных импульсов. Интерферометр Майкельсона
- •7.3. Автокорреляционная функция лазерного импульса
- •7.4. Описание излучения на выходе лазера как суперпозиции эквидистантных монохроматических плоских волн
- •7.5. Модулированные оптические волны
- •7.6. Сверхкороткие импульсы, генерируемые двухчастотным лазером с постоянной накачкой
- •Зависимость интенсивности излучения от времени можно записать следующим образом:
- •7.7. Пульсации излучения непрерывного двухчастотного гелий-неонового лазера
- •7.8. Регулярные пульсации излучения гелий неонового лазера, в спектре которого регистрируются 7 дискретных частот
- •7.9. Современные лазеры ультракоротких импульсов
- •Yiii. Свойства ультракоротких импульсов
- •Зависимость спектра импульсного лазерного излучения от времени
- •8.2. Квазимонохроматическое приближение
- •8.3. Импульс гауссовой формы в среде с дисперсией
- •8.4. Фазовая модуляция — уширение и сжатие импульсов с линейным чирпом
- •8.5. Фемтосекундные лазерные системы
- •IX. Измерение параметров ультракоротких лазерных импульсов
- •9.1. О некоторых заблуждениях в области корреляционных измерений длительности ультракоротких лазерных импульсов
- •9.3. Измерение акф для периодической последовательности импульсов
- •9.4. Влияние линейной фазовой модуляции несущей частоты на корреляционные функции излучения
- •X. Полупроводниковые лазеры
- •10.1. Оптические свойства полупроводников
- •10.2. Cвойства p-n переходов
- •10.3. Полупроводниковые лазеры на гетеропереходах
- •11.1. Накачка газовых активных сред
- •11.2.2. Химическая накачка
- •11.2.3. Лазеры с газодинамической накачкой
- •11.3. Лазеры на нейтральных атомах
- •11.3.1. Гелий-неоновый лазер
- •11.4. Молекулярные лазеры
- •11.5. Газовые лазеры на ионах аргона
- •11.4.1. Гелий-кадмиевый лазер
- •11.5. Эксимерные лазеры
- •Основные принципы, соотношения и константы физики лазеров
- •Тестовые задания
- •Раздел 1. Общие вопросы. Конструктивные элементы лазеров
- •Раздел 2. Взаимодействие излучения с веществом
- •Раздел 3. Лазерные резонаторы и световые пучки
- •Раздел 4. Лазерная генерация
- •Раздел 5. Динамика лазеров
5.5. Регистрация формы лазерных импульсов электронно-оптической камерой
Современные время-анализирующие электронно-оптические камеры теоретически обладают временным разрешением вплоть до ~ 0,5 фс [3]. В этих приборах импульсное оптическое излучение с помощью фотокатода с внешним фотоэффектом преобразуют в электронный импульс. Пучок электронов в вакуумированной колбе электронно-оптического преобразователя с помощью элементов электронной оптики фокусируют на люминесцентный экран и разворачивают во времени поперечным относительно оси пучка электрическим полем так, как это делается в электронном осциллографе. Для повышения интенсивности изображения в современных электронно-оптических камерах используют усилители электронного изображения на микроканальных пластинах.
Дебройлевская длина волны электронов с энергией в несколько десятков килоэлектронвольт соответствует сотым и тысячным долям нанометра. Это означает, что в пучке электронов в принципе может быть достигнуто временное разрешение, на несколько порядков превышающее период оптических колебаний.
На практике минимально достижимое временное разрешение ЭОП ограничено существованием разброса времени пролета электронов от фотокатода до экрана. Этот разброс связан с различием начальных скоростей фотоэлектронов, кулоновским взаимодействием электронов в пучке и аберрациями элементов электронной оптики прибора: фокусирующих электроны линз и отклоняющих систем.
Повышение точности временных измерений достигается компьютерной обработкой развернутых во времени фотоэлектронных изображений.
Опыт использования в нашей лаборатории электронно-оптической камеры «Агат» с временным разрешением в несколько пикосекунд показал, что высокого временного разрешения для успешного применения камеры недостаточно. Экспериментальной проблемой становится синхронизация начала развертки камеры с исследуемым ультракоротким процессом. Такая синхронизация может осуществляться электронными методами с максимальными точностями порядка долей наносекунды. Этой точности недостаточно для регистрации одиночных пикосекундных процессов. Поэтому процесс регистрации необходимо проводить многократно ожидая удачного случайного совпадения начала развертки с исследуемым процессом.
В случае использования квазинепрерывных лазеров, генерирующих периодическую последовательность ультракоротких импульсов, ситуация с синхронизацией развертки облегчается, так как ее в этом случае можно вообще не осуществлять. Однако возникает другая проблема – паразитная засветка экрана непрерывным лазерным излучением. Время срабатывания затвора, перекрывающего луч непрерывного лазера, и защищающего ЭОП от паразитной засветки также определяется возможностями электроники, а это в лучшем случае наносекунды.
Таким образом, получение качественных экспериментальных данных с помощью пикосекундной электронно-оптической камеры превращается в далеко не простую задачу и не всегда возможно.
Рис. 8.15. Осциллограмма излучения гелий-неонового лазера ЛГ-79, зарегистрированная с помощью стробоскопического осциллографа. Период следования импульсов равен 5 нс.
Рис.8.16. Развертка того же излучения, полученная с помощью электронно-оптической камеры «Агат».
Рис. 8.17. Результат фотометрирования развертки рис.8.16.
Для измерений формы моноимпульсного излучения твердотельных лазеров широко используют специальные коаксиальные вакуумные фотоэлементы ФЭК. В таких фотоэлементах поток электронов возникает при облучении фотокатода мощным моноимпульсом. Форма фотоприемной области прибора выбирается такой, чтобы она электрически согласовывалась со стандартным с электрическим кабелем, имеющим волновое сопротивлений 50 или 75 Ом. Таким образом, импульсный фототок не порождает паразитных импульсов, неизбежной возникающих из-за электрического рассогласования элементов регистрирующей системы, и может достигать долей Ампера. Однако, так как волновая нагрузка стандартного кабеля (50 или 75 Ом) невелика, чувствительность коаксиальных фотоэлементов оказывается низкой, хотя сигнал ФЭКа достаточен для прямого наблюдения одиночных или периодических сигналов нано- и субнаоносекундной длительности с помощью осциллографа бегущей волны. Усиление электрических сигналов с шириной спектра более Гигагерца малоэффективно.