- •Глава 1. Уравнения Максвелла 3
- •§2. Ток смещения
- •§3. Закон полного тока с учетом тока смещения
- •§4. Система уравнений Максвелла в интегральной форме
- •§5. Система уравнений Максвелла в дифференциальной форме
- •§6. Волновое уравнение
- •Глава 2. Волны. Поляризация волн §1. Виды волн. Общие свойства волн
- •§2. Плоские монохроматические волны
- •§3. Основные свойства эм-волн
- •§4. Поведение эм-волн на границе раздела двух сред
- •§5. Линзы
- •§8. Получение света с эллиптической или круговой поляризацией
- •§9. Двойное лучепреломление. Способы получения линейно поляризованного света
- •§10. Закон Малюса
- •§11. Степень поляризации света
- •§12. Прохождение светового луча через систему изNполяризаторов с потерями
- •§13. Построение волновых фронтов о- и е-волн и определение направления распространения о- и е-лучей в одноосных кристаллах по Гюйгенсу
- •§14. Длина волны и волновое число при переходе волны из вакуума в среду
- •14.1. Длина волны
- •14.2. Волновое число
- •§15. Фазосдвигающие пластинки. Получение света с произвольной поляризацией
- •§16. Искусственная анизотропия
- •§17. Оптически активные вещества
- •Глава 3. Интерференция волн §1. Основные понятия. Способы получения когерентных световых пучков
- •§2. Количественное описание интерференции. Условия минимумов и максимумов
- •§3. Степень когерентности излучения источника. Интерференция частично когерентных волн
- •§4. Опыт Юнга (деление волнового фронта)
- •§5. Пространственная и временная когерентность излучения источника. Время и длина когерентности
- •§6. Бипризма Френеля
- •§7. Интерференция света на тонких пленках
- •§8. Интерференция света на тонком клине
- •§9. Интерференция света на плоском сферическом клине (кольца Ньютона)
- •Глава 4. Дифракция волн §1. Принципы Гюйгенса и Гюйгенса–Френеля
- •§2. Дифракция волн. Виды дифракции
- •§3. Дифракция Френеля на круглом отверстии
- •§4. Зоны Френеля
- •§5. Дифракция Фраунгофера на щели
- •§6. Дифракционная решетка
- •I(φ) sin φ
- •§7. Угловая и линейная дисперсия. Разрешающая способность
- •Глава 5. Тепловое излучение §1. Определение теплового излучения
- •§2. Поглощательная и излучательная способности тела. Абсолютно черное, белое и серое тела
- •§3. Энергетические характеристики излучения
- •§4. Связь междуrνTиrλT
- •§5. Законы Стефана-Больцмана и Вина
- •§6. Закон Кирхгофа
- •§7. Формула Планка. Доказательство с ее помощью законов Стефана-Больцмана и Вина
- •§8. Излучение серых тел
- •§9. Оптическая пирометрия. Цветовая, яркостная и радиационная температуры
- •Глава 6. Элементы релятивистской механики §1. Релятивистские масса, импульс, энергия
- •§2. Частицы с нулевой массой покоя — фотоны
- •§3. Постулат Эйнштейна о фотонах
- •§4. Волновые и корпускулярные свойства света и микрочастиц. Корпускулярно-волновой дуализм
- •§5. Внешний и внутренний фотоэффект
- •§6. Опытные законы внешнего фотоэффекта
- •§7. Теория фотоэффекта Эйнштейна
- •§8. Давление света
- •§9. Рэлеевское и комптоновское рассеяние света
- •§10. Описание эффекта Комптона
- •§11. Алгоритм решения задач на эффект Комптона
- •Глава 7. Волновые свойства микрочастиц §1. Гипотеза де Бройля. Уравнение волны де Бройля
- •§2. Интерпретация волновой функции
- •§3. Соотношения неопределенностей Гейзенберга
- •§4. Опытное подтверждение гипотезы де Бройля. Опыт Дэввисона и Джермера
- •Глава 8. Уравнение Шредингера §1. Зависящее от времени уравнение Шредингера
- •§2. Стационарное уравнение Шредингера
- •§3. Стандартные условия, налагаемые на волновую функцию
- •§4. Собственные значения и собственные функции оператора Гамильтона. Квантование энергии микрочастиц
- •§5. Смысл волновой функции
- •§6. Простейшая задача квантовой механики: частица в потенциальной яме с бесконечно высокими стенками
I(φ) sin φ
Из рисунка видно, что в ИК имеются резкие максимумы, называемые главными,между которыми наблюдаются малоинтенсивные максимумы и минимумы, называемыепобочными.
Рассмотрим формирование главных максимумов. Они наблюдаются в направлениях, определяемым условием (но при этом, что приводит к неопределенности вида 0/0≠0). Условиедаетили
(5)
где k—порядок главного максимума.
Рассмотрим формирование минимумов. Первое условие sin u=0 приu≠0приводит к условию главных минимумов, такому же как в случае одной щели
(6)
Второе условие приопределяет положение побочных минимумов при значениях
π, … (N−1)π; (7)
… (2N−1)π;
… (3N−1)π;
Подчеркнутые значения кратны Nи приводят к условию главных максимумовили.Эти значенияδдолжны быть исключены из списка побочных минимумов. Оставшиеся значения можно записать в виде
, (8)
откуда получаем условие побочных минимумов
, (9)
где k—фиксированный порядок главного максимума. Мы допускаем отрицательные значенияр= −1,−2, …−(N−1),которые дадут положение побочных минимумов слева отk-го главного максимума.
Из условий главных и побочных максимумов и минимумов следует, что излучению с другой длиной волны λбудет соответствовать другое угловое расположение минимумов и максимумов в дифракционной картине. Это означает, что дифракционная решетка осуществляет разложение немонохроматического излучения источника в спектр.
§7. Угловая и линейная дисперсия. Разрешающая способность
Любой спектральный прибор осуществляет разложения излучения на монохроматические составляющие путем их пространственного разделения с помощью диспергирующего элемента(призмы, дифракционной решетки и т.д.) Чтобы извлечь необходимую информацию из наблюдаемых спектров, прибор должен давать хорошее пространственное разделение спектральных линий, а также обеспечивать возможность раздельного наблюдения близких спектральных линий.
В связи с этим для характеристики качества спектрального прибора вводят следующие величины: угловуюDφ=dφ/dλилилинейнуюDl=dl/dλдисперсииприбора и егоразрешающую способность(разрешающую силу)R=λ/Δλ, где Δλ— минимальнаяразность длин волн спектральных линии, которые прибор позволяет видеть раздольно. Чем меньше разность Δλ,«видимая» прибором, тем выше его разрешающая способностьR.
Угловая дисперсия Dφопределяет угол Δφ=DφΔλ,на который разводит прибор две спектральные линии, длины волн которых отличаются на единицу (например, в оптике полагают Δλ=1нм). Линейная дисперсияDlопределяет расстояние Δl=DlΔλмежду спектральными линиями на экране, длины волн которых отличаются на единицу (Δλ=1 нм). Чем выше значенияDφиDl, тем выше способность спектрального прибора к пространственному разделению спектральных линий.
Конкретные выражения для дисперсий прибора DφиDlи его разрешающей способностиRзависят от типа прибора, используемого для регистрации спектров излучения различных источников. В данном курсе вопрос о вычислении спектральных характеристик прибора будет рассмотрен на примередифракционной решетки.
Выражение для угловой дисперсии дифракционной решетки можно найти дифференцируя условие главных максимумов поλ.Получим,откуда
. (1)
Вместо угловой дисперсии можно использовать линейную
. (2)
Учитывая, что положение спектральной линии, отсчитываемое от центра дифракционной картины равно l=F tg φ,гдеF —фокусное расстояние линзы в фокальной плоскости которой регистрируется спектр, получим
, что дает (3)
Большая угловая дисперсия является необходимым, но недостаточным условием раздельного наблюдения близких спектральных линий. Это объясняется тем, что спектральные линии имеют ширину. Любой детектор (в том числе и глаз) регистрирует огибающую спектральных линий, которые в зависимости от их ширины могут восприниматься либо как одна, либо как две спектральные линии.
В связи с этим вводится дополнительная характеристика спектрального прибора —его разрешающая способность: R=λ/Δλ,где Δλ —минимальная разность длин волн спектральных линий, которые прибор позволяет видеть раздельно.
Чтобы получить конкретное выражение для Rдля данного прибора, необходимо задаться критерием разрешения. Известно, что глаз воспринимает две линии раздельно, если глубина «провала» в огибающей спектральных линий составляет не менее 20%от интенсивности в максимумах спектральных линий. Этому условию удовлетворяет критерий, предложенный Рэллеем: две спектральные линии одинаковой интенсивности можно наблюдать раздельно, если максимум одной из них совпадает с «краем» другой. За «края» линии можно принять положение ближайших к ней побочных минимумов.
На рис. изображены две спектральные линии, соответствующе излучениям с длиной волны λ<λ
Совпадение «края» одной линии с максимумом другой эквивалентно одинаковому угловому положению φ,например, максимума, левой линии, соответствующей длине волны,и левого «края» линии, соответствующей длине волныλ.
Положение k-го максимума спектральной линии с длиной волныопределяется условием
(1)
Положение левого «края» линии с длиной волны λопределяется угловым положением ее первого левого побочного минимума (р=−1)
. (2)
Приравнивая правые части формул (1) и (2), получим
, или, (3)
откуда
. (4)
Получили, что разрешающая способность R=kNдифракционной решетки увеличивается с увеличением числаNштрихов на решетке, а при фиксированномNс увеличением порядкаkспектра.