- •Экзаменационный билет № 1
- •1. Стадии жизненного цикла радиоэлектронных устройств и микропроцессорных систем.
- •2. Индикатор тока.
- •Использование индикатора тока
- •Экзаменационный билет № 2
- •1. Сетевой график процесса проектирования мпс и место диагностики и отладки в нем.
- •2. Методика поиска неисправностей с помощью логического анализатора и генератора слов. Логические анализаторы
- •Анализаторы логических состояний
- •Генераторы слов.
- •Экзаменационный билет № 3
- •Параметры функционального использования мпс.
- •Контроль цп.
- •Экзаменационный билет № 4
- •1.Технические параметры мпс.
- •2. Функциональный контроль пзу.
- •Экзаменационный билет № 5
- •1.Параметры технической эксплуатации.
- •2. Тестовый контроль озу.
- •Экзаменационный билет № 6
- •1. Ошибки, неисправности, дефекты. Цель предварительных испытаний.
- •2.Контроль блоков питания мпс
- •Экзаменационный билет № 7
- •1.Техническая диагностика. Термины и определения.
- •2. Контроль увв
- •Экзаменационный билет № 8
- •1.Задачи и классификация систем технического диагностирования.
- •2. Внутрисхемный эмулятор.
- •Экзаменационный билет № 9
- •1.Проблемы контроля из-за двойственной природы мпс.
- •2. Логический анализатор.
- •Экзаменационный билет № 10
- •1.Общая методика поиска неисправностей в мпс.
- •Методы поиска неисправностей в электрических схемах электрооборудования кранов
- •2. Генераторы слов.
- •Экзаменационный билет № 11
- •1.Локализация отказов. Дерево поиска неисправностей.
- •Дерево поиска неисправностей (дпн).
- •2. Тестовый контроль последовательного канала связи.
- •Экзаменационный билет № 12
- •1.Метод тестирования микропроцессорной системы статическими сигналами.
- •2. Логический пульсатор.
- •Использование логического пульсатора
- •Тестирование «стимул—реакция» с помощью пульсатора и пробника
- •Экзаменационный билет № 13
- •1.Основные функции и состав отладочных средств. Основные функции средств отладки
- •Состав отладочных средств
- •2. Функциональный контроль параллельного канала связи.
- •Экзаменационный билет № 14
- •1.Тестирование нагрузками.
- •2. Контроль схем сброса.
- •Экзаменационный билет № 15
- •1.Сигнатурный анализатор и его применение.
- •2. Автоматизация программирования мпс.
- •Экзаменационный билет № 16
- •1.Методика поиска дефектов с помощью системы поэлементного контроля на базе сигнатурного анализатора.
- •2. Контроль системной магистрали мпс.
- •Экзаменационный билет № 17
- •1.Эмулятор микропроцессора.
- •2. Контроль систем прерывания.
- •Экзаменационный билет № 18
- •1.Ручные инструментальный средства. Номенклатура, характеристики.
- •2. Эмулятор пзу. Экзаменационный билет № 19
- •1.Классификация комплексов средств отладки.
- •2. Методика поиска дефектов в шинах питания.
- •2. Тестовый контроль клавиатуры. Экзаменационный билет № 22
- •1.Оценочные комплексы.
- •2. Контроль системного ядра мпс.
- •Экзаменационный билет № 23
- •1.Отладочные комплексы.
- •2. Контроль системы синхронизации.
- •Экзаменационный билет № 24
- •1.Комплексы развития.
- •2. Логический пробник.
Экзаменационный билет № 6
1. Ошибки, неисправности, дефекты. Цель предварительных испытаний.
Для каждой стадии ЖЦ МПС существует вероятность возникновения конструктивных или физических неисправностей, приводящих систему в неработоспособное состояние.
Исправное состояние – это такое состояние объекта, при котором он соответствует всем требованиям КТД.
Неисправное состояние – это такое состояние объекта, при котором он не соответствует хотя бы одному из этих требований.
Работоспособное состояние - состояние, при котором значение всех параметров, характеризующих способность выполнять заданные функции, соответствуют требованиям НТД.
Неработоспособное состояние - состояние, при котором значение хотя бы одного параметра, характеризующего способность выполнять заданные функции, не соответствуют требованиям НТД.
В неработоспособном состоянии система может функционировать, но не может использоваться по полному назначению, т.е. ее работоспособность должна быть восстановлена.
В работоспособном состоянии система может быть исправна или неисправна.
В неработоспособном состоянии система может быть только неисправна.
В исправном состоянии система может быть только работоспособна.
В неисправном состоянии система может быть работоспособна или неработоспособна.
Система может быть:
1 – исправна и работоспособна;
2 – неисправна и неработоспособна;
3 – неисправна но работоспособна;
4 - но не может быть исправна но не работоспособна.
Каждое отдельное несоответствие изделия или его элемента установленным требованиям – есть дефект. В состоянии неисправности изделие может иметь несколько дефектов!
Неисправности классифицируются в соответствии с причинами их возникновения:
физические неисправности – непредусмотренные, нежелательные изменения значения одной или нескольких логических переменных в системе (возникают вследствие дефектов элементов или физического воздействия окружающей среды;
субъективные неисправности – конкретные проявления недостатков программного или аппаратного обеспечения и неправильных действий оператора (возникают вследствие недостатков схем, конструкций, программных средств эксплуатации таких, как компиляторы, ассемблер, программы автоматизации проектирования, инструкции по эксплуатации, процедуры и средства контроля);
проектные неисправности вносятся при проектировании, разрабртке алгоритмов и программ, кодировании ПО, модификации аппаратного и программного обеспечения;
интерактивные неисправности возникают в процессе работы, ТО, отработки системы вследствие ввода оператором ложной информации.
Ошибка – проявление неисправности (физической или субъективной). Неисправность может приводить или не приводить к ошибке в зависимости от состояния системы. Возникновения ошибки обязательно говорит о существовании неисправности. Одна и та же ошибка может быть вызвана множеством неисправностей, в то же время – одна неисправность может быть причиной множества ошибок.
Дефект – физическое изменение параметров компонентов системы, выходящее за допустимые пределы. Если дефект имеет временный характер, происходит сбой в работе системы; если дефект постоянный, происходит отказ системы. Дефекты подразделяются на:
явные (для их выявления в КТД предусмотрены правила, методы и средства);
скрытые (для их выявления в КТД не предусмотрены правила, методы и средства);
значительные (влияют на эффективность использования МПС);
критические (при их наличии использование изделия невозможно или нецелесообразно; при достижении дефектом критического уровня происходит отказ системы);
устранимые (устранение таких дефектов технически возможно и экономически целесообразно).
ОШИБКА
неисправность
→ дефект
субъективная
неисправность
Для выявления возможных дефектов и разработки правил, методов и средств их устранения на этапе проектирования проводят предварительные испытания (одноразовые). При этом изделия подвергают
климатическим испытаниям (температура, влажность, солнечная радиация, туман, агрессивные среды),
механическим воздействиям (удары, вибрация, ускорения, звуковое давление),
электрическим нагрузкам,
специальным воздействиям (грибки, плесень, крысы и т.п.),
испытаниям на надёжность (электромагнитные, химические, бактериологические).