- •Экзаменационный билет № 1
- •1. Стадии жизненного цикла радиоэлектронных устройств и микропроцессорных систем.
- •2. Индикатор тока.
- •Использование индикатора тока
- •Экзаменационный билет № 2
- •1. Сетевой график процесса проектирования мпс и место диагностики и отладки в нем.
- •2. Методика поиска неисправностей с помощью логического анализатора и генератора слов. Логические анализаторы
- •Анализаторы логических состояний
- •Генераторы слов.
- •Экзаменационный билет № 3
- •Параметры функционального использования мпс.
- •Контроль цп.
- •Экзаменационный билет № 4
- •1.Технические параметры мпс.
- •2. Функциональный контроль пзу.
- •Экзаменационный билет № 5
- •1.Параметры технической эксплуатации.
- •2. Тестовый контроль озу.
- •Экзаменационный билет № 6
- •1. Ошибки, неисправности, дефекты. Цель предварительных испытаний.
- •2.Контроль блоков питания мпс
- •Экзаменационный билет № 7
- •1.Техническая диагностика. Термины и определения.
- •2. Контроль увв
- •Экзаменационный билет № 8
- •1.Задачи и классификация систем технического диагностирования.
- •2. Внутрисхемный эмулятор.
- •Экзаменационный билет № 9
- •1.Проблемы контроля из-за двойственной природы мпс.
- •2. Логический анализатор.
- •Экзаменационный билет № 10
- •1.Общая методика поиска неисправностей в мпс.
- •Методы поиска неисправностей в электрических схемах электрооборудования кранов
- •2. Генераторы слов.
- •Экзаменационный билет № 11
- •1.Локализация отказов. Дерево поиска неисправностей.
- •Дерево поиска неисправностей (дпн).
- •2. Тестовый контроль последовательного канала связи.
- •Экзаменационный билет № 12
- •1.Метод тестирования микропроцессорной системы статическими сигналами.
- •2. Логический пульсатор.
- •Использование логического пульсатора
- •Тестирование «стимул—реакция» с помощью пульсатора и пробника
- •Экзаменационный билет № 13
- •1.Основные функции и состав отладочных средств. Основные функции средств отладки
- •Состав отладочных средств
- •2. Функциональный контроль параллельного канала связи.
- •Экзаменационный билет № 14
- •1.Тестирование нагрузками.
- •2. Контроль схем сброса.
- •Экзаменационный билет № 15
- •1.Сигнатурный анализатор и его применение.
- •2. Автоматизация программирования мпс.
- •Экзаменационный билет № 16
- •1.Методика поиска дефектов с помощью системы поэлементного контроля на базе сигнатурного анализатора.
- •2. Контроль системной магистрали мпс.
- •Экзаменационный билет № 17
- •1.Эмулятор микропроцессора.
- •2. Контроль систем прерывания.
- •Экзаменационный билет № 18
- •1.Ручные инструментальный средства. Номенклатура, характеристики.
- •2. Эмулятор пзу. Экзаменационный билет № 19
- •1.Классификация комплексов средств отладки.
- •2. Методика поиска дефектов в шинах питания.
- •2. Тестовый контроль клавиатуры. Экзаменационный билет № 22
- •1.Оценочные комплексы.
- •2. Контроль системного ядра мпс.
- •Экзаменационный билет № 23
- •1.Отладочные комплексы.
- •2. Контроль системы синхронизации.
- •Экзаменационный билет № 24
- •1.Комплексы развития.
- •2. Логический пробник.
Экзаменационный билет № 18
1.Ручные инструментальный средства. Номенклатура, характеристики.
По-видимому, первыми образцами приборов, специально предназначенных для поиска неисправностей в цифровых схемах, были логический пробник, логический пульсатор, индикатор тока и логический компаратор. За исключением логического компаратора, они применяются либо для возбуждения, либо для контроля отдельных узлов в логической системе и помогают определить логическое состояние узла и его работоспособность. Ручные средства применяются в отдельности при проверке системы или совместно для реализации проверок по принципу «стимул-реакция». Обычно их питание осуществляется от проверяемой системы, а конструктивно ручные средства оформлены как небольшие и очень удобные приборы.
Кроме перечисленных логического пробника, пульсатора и индикатора тока имеются логические клипсы и компараторы. Они применяются для функционального контроля одной микросхемы при работе ее в системе. Логическая клипса надевается на проверяемую ИС и получает питание от вывода самой ИС. Логическая схема внутри клипсы определяет полярность питания, а светодиоды на торце клипсы показывают логические состояния выводов ИС. Логическая клипса может проверять одно логическое семейство, например ТТЛ, и даже с ограничениями внутри семейства из-за большого разнообразия способов подключения питания и значительного числа типов корпусов ИС. Например, клипса может проверять ИС в корпусах типа DIP (с двусторонним расположением выводов), имеющих 14 или 16 выводов. Даже среди микросхем с такими корпусами клипса может проверять не все микросхемы. Внутри клипсы имеется схема с довольно ограниченными возможностями, поэтому быстрые импульсные события на выводах проверяемой микросхемы нельзя видеть на светодиодах, индицирующих состояния этих выводов. Большинство ограничений, свойственных логической клипсе, устранено в логическом компараторе, который воспринимает сигналы от проверяемой микросхемы через пассивную клипсу и плоский кабель. В компаратор помещается ИС, аналогичная проверяемой, и любые различия в работе двух микросхем индицируются на светодиодах. Обе микросхемы работают параллельно, но выходы микросхемы, находящейся в компараторе, действуют только в самом компараторе для получения и последующей индикации сигналов «правильно/неправильно». Обычно логические компараторы оснащаются платой персонификации для каждой проверяемой микросхемы; эта плата настраивает прибор и дает информацию о выводах питания, входах и выходах. Логический компаратор универсальнее логической клипсы и может проверять большинство микросхем семейства элементов при наличии панелек для эталонных микросхем и кабелей для разных типов корпусов.
Ограниченные возможности ручных инструментальных средств
Логические пробники и пульсаторы, индикаторы тока и логические компараторы продолжительное время доминировали в качестве инструментальных средств поиска неисправностей в цифровых схемах. Однако им свойственны ограничения в том смысле, что пульсатор может возбуждать одновременно только ограниченное число узлов в системе, а логический пробник проверяет только один узел. Пробник может дать полезную информацию о статическом состоянии узла или показать наличие импульсов в цепи, однако он не может дать содержательной информации о последовательностях импульсов. Ручные инструментальные средства играют важную роль при анализе отказов в обычных логических схемах, но они почти бесполезны при анализе систем с шинной структурой, где информация обновляется последовательно во времени на большом числе линий одновременно. Чтобы разобраться в работе микропроцессорной системы, исследователю требуются приборы, которые фиксируют и индицируют в удобной форме информацию со многих линий и могут выделить нужную ему информацию. Очевидно, что простым инструментальным средствам такие функции недоступны, что привело к необходимости разработки аппаратуры, предназначенной для поиска неисправностей в сложных системах с шинной структурой.