- •Экзаменационный билет № 1
- •1. Стадии жизненного цикла радиоэлектронных устройств и микропроцессорных систем.
- •2. Индикатор тока.
- •Использование индикатора тока
- •Экзаменационный билет № 2
- •1. Сетевой график процесса проектирования мпс и место диагностики и отладки в нем.
- •2. Методика поиска неисправностей с помощью логического анализатора и генератора слов. Логические анализаторы
- •Анализаторы логических состояний
- •Генераторы слов.
- •Экзаменационный билет № 3
- •Параметры функционального использования мпс.
- •Контроль цп.
- •Экзаменационный билет № 4
- •1.Технические параметры мпс.
- •2. Функциональный контроль пзу.
- •Экзаменационный билет № 5
- •1.Параметры технической эксплуатации.
- •2. Тестовый контроль озу.
- •Экзаменационный билет № 6
- •1. Ошибки, неисправности, дефекты. Цель предварительных испытаний.
- •2.Контроль блоков питания мпс
- •Экзаменационный билет № 7
- •1.Техническая диагностика. Термины и определения.
- •2. Контроль увв
- •Экзаменационный билет № 8
- •1.Задачи и классификация систем технического диагностирования.
- •2. Внутрисхемный эмулятор.
- •Экзаменационный билет № 9
- •1.Проблемы контроля из-за двойственной природы мпс.
- •2. Логический анализатор.
- •Экзаменационный билет № 10
- •1.Общая методика поиска неисправностей в мпс.
- •Методы поиска неисправностей в электрических схемах электрооборудования кранов
- •2. Генераторы слов.
- •Экзаменационный билет № 11
- •1.Локализация отказов. Дерево поиска неисправностей.
- •Дерево поиска неисправностей (дпн).
- •2. Тестовый контроль последовательного канала связи.
- •Экзаменационный билет № 12
- •1.Метод тестирования микропроцессорной системы статическими сигналами.
- •2. Логический пульсатор.
- •Использование логического пульсатора
- •Тестирование «стимул—реакция» с помощью пульсатора и пробника
- •Экзаменационный билет № 13
- •1.Основные функции и состав отладочных средств. Основные функции средств отладки
- •Состав отладочных средств
- •2. Функциональный контроль параллельного канала связи.
- •Экзаменационный билет № 14
- •1.Тестирование нагрузками.
- •2. Контроль схем сброса.
- •Экзаменационный билет № 15
- •1.Сигнатурный анализатор и его применение.
- •2. Автоматизация программирования мпс.
- •Экзаменационный билет № 16
- •1.Методика поиска дефектов с помощью системы поэлементного контроля на базе сигнатурного анализатора.
- •2. Контроль системной магистрали мпс.
- •Экзаменационный билет № 17
- •1.Эмулятор микропроцессора.
- •2. Контроль систем прерывания.
- •Экзаменационный билет № 18
- •1.Ручные инструментальный средства. Номенклатура, характеристики.
- •2. Эмулятор пзу. Экзаменационный билет № 19
- •1.Классификация комплексов средств отладки.
- •2. Методика поиска дефектов в шинах питания.
- •2. Тестовый контроль клавиатуры. Экзаменационный билет № 22
- •1.Оценочные комплексы.
- •2. Контроль системного ядра мпс.
- •Экзаменационный билет № 23
- •1.Отладочные комплексы.
- •2. Контроль системы синхронизации.
- •Экзаменационный билет № 24
- •1.Комплексы развития.
- •2. Логический пробник.
2. Методика поиска дефектов в шинах питания.
Короткие замыкания в цепях питания. Одним из наиболее труднолокализуемых отказов является короткое замыкание в шинах питания на печатной плате. Напряжение питания 5В, принятое в большинстве логических семейств, подводится почти к каждой ИС на печатной плате; к шинам питания подключено также множество керамических и танталовых конденсаторов. На схемной плате с 20 микросхемами находится 10—15 развязывающих конденсаторов. В ИС может возникнуть короткое замыкание между питанием и землей без видимых проявлений. Но обычно при таком Отказе в центре корпуса DIP наблюдается заметное почернение. Впрочем, подобный отказ возникает относительно редко. Однако короткое замыкание в развязывающих конденсаторах встречается гораздо чаще, а так как все конденсаторы включены параллельно, для нахождения дефектного конденсатора приходится по очереди отключать каждый из них. На печатных платах с высокой плотностью упаковки элементов такая операция оказывается сложной и длительной.
Рассматриваемый отказ можно локализовать путем отключения питания от печатной платы, возбуждения шины питания при помощи логического пульсатора и прослеживания пути протекания тока индикатором тока. Для питания пульсатора и индикатора тока необходим отдельный источник (обычно пользуются блоком, отключенным от платы), а подключение к земле нужно оставить на плате. Пульсатор настраивается на режим непрерывных импульсов с частотой 100 Гц, а индикатор тока регулируется в соответствии с рис. 1.15. Затем индикатор тока перемещается по шине питания до достижения места, где его лампа выключается. Возможно, что здесь шина питания разделяется, и индикатор нужно оставить на том проводнике, в котором течет ток. В конце концов индикатор окажется в такой точке, где разветвления нет, а его лампа гаснет. В обнаруженной области находится неисправный элемент, которым может быть конденсатор или ИС. Если ИС вставлена в панельку, прежде всего микросхему нужно вынуть и посмотреть, не исчез ли отказ. Если отказ сохраняется, то подозрение падает на развязывающий конденсатор, находящийся в просматриваемой области.
На рис. 1.20 предполагается, что короткое замыкание имеется в конденсаторе С2. Питание 5 В подается на пульсатор и индикатор тока от блока питания, который отключен от печатной платы. Зонд пульсатора касается контакта питания разъема печатной платы, и индикатор тока перемещается по шине питания до тех пор, пока его лампа не погаснет. В данном примере это произойдет сразу после конденсатора С2, что указывает на то; что именно он является дефектным элементом.
Рис. 1.20. Короткое замыкание в цепи питания
ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ № 20
1. Средства разработки и корректировки программ МПС
2. Эмулятор внешних устройств.
ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ № 21
1.Комплексы диагностирования
Комплексы диагностирования объединяют возможности логических анализаторов и генераторов слов; способны подавать входные воздействия на диагностируемую систему, собирать и анализировать ответные реакции МПС. При этом в КД логический анализатор и генератор слов функционируют как единое целое под общим управлением микропроцессора, с общим программным обеспечением, с согласованными по времени распространения сигналами.
Комплексы диагностирования используют при проектировании АС МПС, а также для проверки работоспособного состояния (контроль) и диагностики неисправностей МПС при их производстве, ПСИ и эксплуатации (ремонт).
Обобщенная структура системы комплексного диагностирования.
μ-ЭВМ подготавливает тестовые наборы, настраивает режим работы генератора слов и логического анализатора, обрабатывает информацию о поведении ОД (объекта диагностирования), представляет информацию о её поведении на языках, используемых при проектировании, осуществляет диалог с человеком.
Примеры комплексов диагностирования, разработанных на кафедре ВТ МГИЭТ (ТУ):
система функционального контроля (пульт МПЭ)
система поэлементного контроля (сигнатурного анализа)