Экзаменационный билет № 16

1.Методика поиска дефектов с помощью системы поэлементного контроля на базе сигнатурного анализатора.

Сигнатурный анализ представляет собой простой спо­соб тестирования, заключающийся в проверке отдельных узлов схемы и сравнении их сигнатур с документиро­ванными значениями. Умелое его применение позволяет быстро идентифицировать неисправность в системе, а затем локализовать неисправный компонент.

Для сигнатурного анализа важно:

1. разработка стимулирующих тестов

2. качественная документация и ее модификация

(любые изменения в МПС влекут за собой необходимость пересъема сигнатур, поэтому при ее модификациях и усовер­шенствованиях необходимо составлять скорректирован­ные таблицы сигнатур. Часто системы модифицируются, а измене­ния в принципиальные схемы не вносятся. Это обстоя­тельство само по себе создает проблемы тестирования, но, если не корректируются и таблицы сигнатур, сам способ оказывается неработоспособным и бесполезным, так как полученные сигнатуры не имеют смысла без со­ответствующих правильных документированных значе­ний).

Структурная схема платы сигнатурного анализатора и компонентов системы поэлементного контроля.

Структурная схема щупа.

Основные функции платы СА:

• выдает на ОД 2К 32-разрядных слов тестового воздействия с дискретно задаваемой частотой выдачи от 300 ГЦ до 1152 кГц

• принимает 32-разрядные слова в параллельный SR с последующей их сверткой в сигнатуру (режим используется для самоконтроля платы СА)

• принимает логическую цифровую информацию от контактного узла СА в последовательный сигнатурный регистр с последующей сверткой её в сигнатуру.

Контактный щуп СА предназначен для съема электрического сигнала в контролируемой точке схемы ОД путем зондового контактирования, преобразования физического сигнала в логический цифровой и подачи его на вход последовательного сигнатурного регистра. С помощью кнопки, и 2-х светодиодов, расположенных непосредственно на щупе, оператор может управлять и фиксировать режим работы систем ПК, например переходить к контролю последующий точки в соответствии с деревом поиска неисправностей.

Принцип работы СПК:

• с системной магистрали μ-ЭВМ в регистры блока управления записывается управляющее слово режима загрузки ОЗУ

• в ОЗУ загружается подготовленное для ОД тестовое воздействие

• в процессе диагностирования тестовое воздействие с заданной предварительно (в управляющем подается на ОД. При помощи контактного щупа снимается образуемая в контролируемой точке последовательность сигналов, которая поступает в SR и свертывается в сигнатуру, которая считывается в μ-ЭВМ и сравнивается с эталонной сигнатурой, хранимой в μ-ЭВМ.

• по результатам сравнений делается вывод о неисправности элемента и выбирается соответствующая ветвь дерева поиска неисправностей.