- •Билет 1. Классификация веществ. Зонная диаграмма. Понятие носителей заряда. Теория проводимости. Собственная и примесная проводимость.
- •Билет 3 . Уравнение Шредингера.
- •Билет 5. Циклотронный резонанс.
- •Билет 11. Концентрация носителей в соб.
- •Билет 12. Рассеяние на ионах примеси.
- •Билет 13. Рассеяние на атомах примеси и дислокациях. Рассеяние на нейтральных примесях
- •Рассеяние на ионизированной примеси
- •Билет 15. Подвижность носителей заряда.
- •Билет 16. Удельная проводимость и удельное сопротивление полупроводника.
- •Билет 17. Рекомбинация полупроводника в условиях равновесного состояния.
- •Билет 18. Рекомбинация полупроводника в условиях неравновесного состояния.
- •Билет 19. Механизм рекомбинации носителей на ловушках.
- •Билет 20. Механизм поверхностной рекомбинации.
- •Билет 21. Движение носителей заряда. Уравнение непрерывности для электронов и дырок. Плотности электронного и дырочного токов.
- •Билет 22. Диффузионный и дрейфовый токи. Диэлектрическая релаксация.
- •Билет 23 и 24. Эффект поля. Зонная диаграмма при эффекте поля
- •Билет 25. Диффузионный ток в полупроводнике.
- •Билет 26. Диффузия и дрейф неравновесных носителей заряда в случае монополярной проводимости. Движение неосновных носителей заряда.
- •Билет 27. Монополярная диффузия носителей.
- •Билет 28. Биполярная диффузия носителей.
- •Билет 29. Образование p-n перехода, база диода, энергетическая диаграмма. Структура и классификация диодов.
- •Билет 30. P-n переход в равновесном состоянии.
- •Билет 31. P-n переход в неравновесном состоянии.
- •Билет 32. Невыпрямляющий контакт металл-полупроводник
- •Билет 35. Идеальная модель диода. Характеристические сопротивления и тепловой ток.
- •Билет 36. Особенности реального диода. Обратная вах. Эквивалентная схема диода при обратном смещении.
- •Билет 37. Туннельный пробой p-n перехода.
- •Билет 38. Лавинный пробой p-n перехода.
- •Билет 39. Тепловой пробой p-n перехода.
- •Билет 40. Прямая характеристика реального диода. Ток рекомбинации. Сопротивление базы.
- •Билет 41. Прямая характеристика реального диода. Зависимость напряжения прямой характеристики от температуры. Работа диода при высоком уровне инжекции. Распределение токов в базе.
- •Билет 42. Прямая характеристика реального диода. Дрейфовая составляющая тока инжектированных носителей. Коэффициент инжекции.
- •Билет 43. Прямая характеристика реального диода. Модуляция сопротивления базы. Эквивалентная схема диода при прямом смещении.
- •Билет 44. Инерционные свойства диодов. Барьерная емкость.
- •Билет 45. Инерционные свойства диодов. Диффузионная емкость.
- •Билет 47. Туннельный диод. Диод Шоттки.
- •Билет 48. Биполярный транзистор. Структура и режимы работы биполярного транзистора. Транзисторный эффект.
- •Билет 49. Биполярный транзистор. Режимы работы биполярного транзистора при схеме включения с Общей Базой.
- •Билет 50. Биполярный транзистор. Эффект Эрли.
- •Билет 52. Эквивалентная схема Эберса-Молла.
- •52. Биполярный транзистор. Входные и выходные вах идеального транзистора в схеме об. Вах идеального транзистора в схеме ок.
- •Билет 57. Сопротивления эмиттерного и коллекторного переходов.
- •Билет 63. Мдп транзистор. Вах идеального мдп транзистора. Физические причины насыщения тока стока. …
- •Билет 64. Мдп транзистор. Выбор рабочей точки. Крутая и пологая область мдп. Удельная крутизна транзистора.
- •Билет 65. Мдп транзистор. Равновесные и неравновесные состояния.
- •Билет 66. Мдп транзистор. Эквивалентная сх, сх.Вкл.
- •Билет 67. Фотоэлектрический явления. Внутренний фотоэффект.
- •Билет 68. Фотоэлектрический явления. Теория фотопроводимости.
- •Билет 72. Эффект Холла
Рассеяние на ионизированной примеси
Пусть имеем положительно заряженную примесь. Между e и примесью действуют кулоновские силы притяжения.
d - прицельный диаметр, - угол рассеяния, это угол между направлением первоначального движения и последующим. Угол зависит от d и Э. Чем больше энергия частицы и чем дальше находится она, тем угол меньше. Впервые механизм этого рассеяния рассмотрел Резерфорд и получил:
a - постоянная, определяющаяся диэлектрическими свойствами вещества и средней энергией частиц.
Рассеяние на дислокации (линейный дефект)
Параллельно действуют два механизма рассеяния: 1).Связан с локальной деформацией кристаллической решетки (можно рассматривать как рассеяние носителей на акустических фононах). 2).Связан с тем, что дислокация всегда заряжена отрицательно. Отрицательный заряд дислокации всегда экранируется положительным зарядом (рассеяние на заряженной, т.е. ионизированной примеси).
Билет 14. Рассеяние на тепловых колебаниях кристаллической решетки.
Кристаллическая решетка представляет собой упорядоченное расположение атомов, которые находятся, в колебательном движении. С повышением температуры амплитуда колебаний растет. Равновесное положение атомов кристаллической решетки определяется силами, которые действуют между атомами. Рассмотрим одномерный кристалл в виде цепочки из атомов. С увеличением температуры увеличится отклонение атомов от положения равновесия. Между атомами действуют упругие силы, описываемые законом Гука:
c - упругая постоянная, x - смещение от положения равновесия.
С другой стороны движение атомов представляет собой гармонические колебания, описываемые уравнения вида:
Ma - масса n-го атома, t - время. Решением этого уравнения будет уравнение упругой волны
,где ai - амплитуда i-ой волны, i и ki - ее круговая частота и волновое число x*n=a*n - координата n-го атома цепочки a - параметр кристаллической решетки, когда W минимальна n - порядковый номер n-го атома. Это решение справедливо лишь при определенном соотношении между частотой и волновым числом k, а именно это соотношение называется дисперсионным законом.
При k0, для которых кристалл можно рассматривать как непрерывную среду, фазовая и групповая скорости обращаются в постоянную величину, представляющую собой скорость распространения звука в кристалле.
Однако для коротких волн сосредоточения массы системы в отдельных точках вносит в колебательный процесс существенные изменения, приводящие к снижению скорости ф с уменьшением (с увеличением k). Это означает, что кристалл ведет себя как среда с нормальной дисперсией.
Теория твердого тела вводит некоторую характеристическую температуру, которая связана со спектром колебаний. Оптические колебания возбуждаются только при такой температуре, при которой энергия kT становится сравнимой с энергией h0. Эта температура называется температурой Дебая.
Билет 15. Подвижность носителей заряда.
Подвижность носителей, по определению, есть их средняя направленная скорость в электрическом поле с напряженнoстью 1 В/см. Соответственно дрейфовою скорость можно записать в виде .
Направленное движение носителей в твердом теле под действием поля сочетается с их хаотическим (тепловым) движением. Последнее характеризуется средней тепловой скоростью: . Зависящей от температуры. Температура носителей определяется температурой кристаллической решетки. Подвижность тогда: , где Tср – среднее время свободного пробега частицы; Lср – средняя длина ее свободного пробега. Эти величины характеризуют частоту столкновений с теми или иными препятствиям. В результате столкновений происходит их рассеяние. В области обычных рабочих температур рассеяние обусловлено главным образом фононами и ионизированными примесями. Подвижность тогда:
Результирующая определяется наименьшим из этих . При ионном рассеянии получается:
– концентрация ионизированной однозарядной примеси. В обычном температурном диапазоне полупроводниковых приборов и при не очень высокой концентрации примеси выполняется условие μL<μI. Тогда результирующая подвижность определяется решеточным рассеянием и зависимость подвижности от температуры должна иметь вид: , где μ0 – подвижность при температуре T0, c=1,5-коэффициент при комнатной температуре. Для достаточно больших концентраций: Иногда удобна чисто эмпирическая аппроксимация: , где Δμ – изменение подвижности на декаду приращения концентрации. Зависимость подвижности от напряжения электрического поля. Если напряженность превышает критическое значение Eкр то: , где Е>Eкр, а – подвижность при Е= Eкр.