- •«Управление качеством электронных средств»
- •Введение
- •Постулаты Эдварда у. Деминга
- •Цикл Эдварда у. Деминга
- •Жизненный цикл продукции или петля качества
- •Структурная модель управления качеством
- •Концепция управления качеством
- •Модель управления качеством на этапе производства
- •Схемы управления технологическими процессами
- •Модель управления качеством на этапе прогнозирования
- •Математические модели в управлении качества радиоэлектронных средств Классификация моделей
- •Электрические модели приборов
- •Физико-топологические модели
- •Технологические модели
- •Стоимостные модели
- •Надежностные модели
- •Статистические методы анализа качества электронных средств Методы расслаивания
- •Расслаивание общей изменчивости с помощью дисперсионного анализа
- •Диаграмма разброса (поле корреляции)
- •Диаграмма Парето
- •Причинно-следственная диаграмма
- •Статистические методы оценки качества
- •Определение доверительных интервалов оценок генеральных характеристик
- •Оценка генеральной средней м(х) с помощью среднего значения выборки
- •Определение неизвестной генеральной средней по выборочной средней
- •Сравнение однородных средних
- •Оценка генеральной характеристики рассеивания с помощью выборочных характеристик рассеивания
- •Анализ качества технологического процесса производства электронных средств Выбор информативных параметров качества
- •Аппаратурно-технологическая схема или схема преобразования параметров
- •Структурная модель типа «Черный ящик»
- •Технологическая схема контроля
- •Преобразование информации в апе
- •Оценка информативности и выбор контролируемых параметров
- •Точность и стабильность технологических процессов Основные понятия о точности и стабильности
- •Критерии точности технологического процесса
- •Особенности групповых методов обработки
- •Оценка качества технологического процесса
- •Устойчивость и стабильность технологических процессов
- •Теоретические законы распределений погрешностей параметров качества в производстве электронных средств
- •Анализ качества тп производства рэс по критериям точности и стабильности
- •Аттестация разрабатываемых технологических процессов
- •Структурная модель оптимизации технологического процесса
- •Сертификация фирм и изделий Направление деятельности в области качества. Требования к системам качества
- •Стандарты iso серии 9000 и tqm
Математические модели в управлении качества радиоэлектронных средств Классификация моделей
Прогресс проектирования электронных средств базируется на «трех китах»:
физические основы;
технологические основы;
схема и системотехнические основы проектирования.
Эти основы проектирования должны базироваться на определенном математическом и алгоритмическом базисе. Таким базисом могут быть математические методы анализа и математические методы синтеза аппаратуры.
Основу этих методов составляют математические модели. Использование математических моделей позволяет сократить сроки проектирования, уменьшить стоимость и повысить качество.
Под математической моделью понимается система уравнений (или математическое описание другого вида), позволяющая определить характеристики устройства и элементов при заданных условиях эксплуатации. Математические модели в зависимости от системы исходных данных параметров и этапа проектирования можно подразделить на:
электрические,
физико-топологические (конструкторские),
технологические,
стоимостные,
надежностные.
Рис. 8. Классификация и область применения ИМС
В электрических моделях исходными являются электрические параметры (коэффициент усиления, крутизна, сопротивление и т.д.). В физико-топологических моделях исходными являются геометрические (топологические) размеры элементов, форма элементов, а также параметры слоев (ширина базы, профиль легирования, подвижность носителей заряда, примесный профиль и т.д.). В технологических моделях исходными являются режимы операций (время диффузии, температура диффузии, температура вжигания, скорость фрезирования, количество диффузанта, состав и концентрация травителей и т.п.). В стоимостных моделях в качестве исходных параметров используют параметры, характеризующие качество и совершенство технологического процесса (точность, стабильность, уровень дефективности, трудоемкость и т.д.), а также параметры, характеризующие конструктивную сложность ИМС (минимальные размеры элементов, их количество и т.д.). В надежностных моделях исходными являются эксплуатационные факторы, которые влияют на точность и эффективность функционирования ИМС.
Электрические модели приборов
В качестве примера рассмотрим биполярный транзистор. Так коэффициент передачи тока одномерного биполярного транзистора (БТ), включенного по схеме с общим эмиттером, можно записать следующим образом:
,
где - эффективность эмиттера;
Т – коэффициент переноса.
;
.
Физико-топологические модели
Пусть мы имеем гибридную интегральную микросхему. В качестве примера физико-топологической модели гибридной ИМС можно привести следующую:
.
Рис. 9. Физико-топологическая модель гибридной ИМС
Характеризует удельное поверхностное сопротивление.
Здесь N- число квадратов резистивного элемента; - отношение площади контактных площадок к площади резистивного слоя (по всем элементам); b- ширина резистивного слоя, l – контактная площадка.
Данная модель может быть использована для обоснования технологических ограничений при проектировании прицензионно - резистивных плат.
В качестве аналогичного примера для полупроводниковой микросхемы можно рассмотреть модель подвижности основных носителей заряда. При небольших концентрациях легирующих примесей можно использовать следующее эмпирическое выражение:
,
где СТ=СА+СД - полная концентрация легирующих примесей; причем для электронов ; ; ; ; для дырок соответственно ; ; ; .
Зависимость подвижности от напряженности электростатического поля описывается следующим соотношением:
,
где Е – напряженность поля; - подвижность в слабых полях; =2; ; - скорость носителей заряда (зависит от температуры); причем максимальные скорости носителей заряда и не зависят от концентрации примесей.