- •«Управление качеством электронных средств»
- •Введение
- •Постулаты Эдварда у. Деминга
- •Цикл Эдварда у. Деминга
- •Жизненный цикл продукции или петля качества
- •Структурная модель управления качеством
- •Концепция управления качеством
- •Модель управления качеством на этапе производства
- •Схемы управления технологическими процессами
- •Модель управления качеством на этапе прогнозирования
- •Математические модели в управлении качества радиоэлектронных средств Классификация моделей
- •Электрические модели приборов
- •Физико-топологические модели
- •Технологические модели
- •Стоимостные модели
- •Надежностные модели
- •Статистические методы анализа качества электронных средств Методы расслаивания
- •Расслаивание общей изменчивости с помощью дисперсионного анализа
- •Диаграмма разброса (поле корреляции)
- •Диаграмма Парето
- •Причинно-следственная диаграмма
- •Статистические методы оценки качества
- •Определение доверительных интервалов оценок генеральных характеристик
- •Оценка генеральной средней м(х) с помощью среднего значения выборки
- •Определение неизвестной генеральной средней по выборочной средней
- •Сравнение однородных средних
- •Оценка генеральной характеристики рассеивания с помощью выборочных характеристик рассеивания
- •Анализ качества технологического процесса производства электронных средств Выбор информативных параметров качества
- •Аппаратурно-технологическая схема или схема преобразования параметров
- •Структурная модель типа «Черный ящик»
- •Технологическая схема контроля
- •Преобразование информации в апе
- •Оценка информативности и выбор контролируемых параметров
- •Точность и стабильность технологических процессов Основные понятия о точности и стабильности
- •Критерии точности технологического процесса
- •Особенности групповых методов обработки
- •Оценка качества технологического процесса
- •Устойчивость и стабильность технологических процессов
- •Теоретические законы распределений погрешностей параметров качества в производстве электронных средств
- •Анализ качества тп производства рэс по критериям точности и стабильности
- •Аттестация разрабатываемых технологических процессов
- •Структурная модель оптимизации технологического процесса
- •Сертификация фирм и изделий Направление деятельности в области качества. Требования к системам качества
- •Стандарты iso серии 9000 и tqm
Оценка качества технологического процесса
Пусть элемент рассматриваемого ЭС характеризуется m функциональными параметрами . На каждый функциональный параметр yj установлены допустимые пределы его изменения
yj min=M(yj)- и yj max=M(yj)+,
где M(yj) – номинальное значение функционального параметра качества yj;
- абсолютная величина половины поля допуска на параметр yj.
Практически любой функциональный параметр качества любого элемента ЭС можно выразить через физические и геометрические характеристики элемента:
где k – k-я физическая характеристика элемента;
ql – l-я геометрическая характеристика элемента.
Например, сопротивление как функциональный параметр качества резистивного элемента ЭС может быть представлено в следующем виде:
,
где v-объемное удельное сопротивление резистивного элемента (физическая характеристика);
l, b, d – соответственно его длина, ширина и толщина (геометрические характеристики).
Отклонение функционального параметра качества yj конкретного элемента ЭС от среднего значения или номинального значения этого параметра обусловлено соответствующими отклонениями физических и геометрических характеристик от их номинальных значений. В производственных условиях отклонения могут служит оценкой погрешностей АПЕ. Следовательно, качество каждой АПЕ многооперационного технологического процесса изготовления элементов ЭС может быть оценено систематическими k, ql и случайными погрешностями значений физических и геометрических характеристик.
Для получения коэффициента выхода годных ЭС близким единице необходимо обеспечить трехсигмовое изменение функционального параметра качества в пределах поля допуска, т.е.
Тогда задача сводится к определению и обеспечению соответствующих погрешностей АПЕ. При этом для расчета необходимых погрешностей АПЕ можно использовать известную зависимость:
, (5)
где .
Однако в большинстве случаев реализовать условие 100% - ого выхода годных ЭС практически не удается. Поэтому на практике ставиться задача обеспечения не 100%-ого выхода годных изделий, а: P Pmin
В этом случае с помощью формулы (5) определяют y, которая соответствует установленному Pmin,. Далее определяем и .
В тех случаях, когда функциональный параметр качества yj распределен по гауссовскому закону, зависимость (5) может быть записана следующим образом:
, (6)
где ;
; - коэффициенты весомости;
Формула (6) позволяет подготовить решение об очередности эффективной настройки АПЕ технологического процесса. При одинаковой трудоемкости настройки эффект от этого процесса будет больше в тех случаях, когда коэффициенты влияния будут больше.
Анализ ТП только по критериям точности во многих случаях является недостаточным ввиду того, что он не учитывает фактор времени (расстройка). Поэтому вводят другие показатели: понятие устойчивости и стабильности технологического процесса.