- •Статистические методы управления качеством.
- •Введение.
- •Классификация статистических методов управления качеством
- •Реализация статистических методов в полном жизненном цикле изделия.
- •Основные статистические понятия.
- •Семь простых инструментов качества. Гистограммы
- •Симметричная (обычная)
- •Гребенка (мультимодальная)
- •Гистограмма с асимметрией ( положительная и отрицательная).
- •Гистограмма с обрывом (слева или справа).
- •«Плато»
- •Бимодальная
- •Гистограмма с изолированным пиком.
- •Типы гистограмм
- •Методика построения гистограмм
- •Выбор размаха (диапазона)
- •Определение числа интервалов (классов)
- •Определение размера интервала (класса)
- •Сортировка
- •Нанесение гистограммы на график
- •Сравнение гистограмм с границами допусков.
- •Контрольный листок
- •Контрольный листок видов дефектов.
- •Контрольный листок причин дефектов.
- •Листок входного контроля
- •Контрольный листок для регистрации распределения сопротивлений интегральных размеров.
- •Диаграмма Парето
- •Диаграмма Исикавы
- •Диаграмма разброса
- •Стратификация
- •Контрольные карты
- •Контрольные карты средних и размахов.
- •Порядок составления контрольных карт
- •Анализ контрольных карт средних значений и размахов
- •Интерпретация контрольных карт
- •Контрольные карты с памятью
- •Анализ технологических процессов с помощью аппарата индексов воспроизводимости
- •Индексы воспроизводимости
- •1. Индекс воспроизводимости и индекс пригодности.
- •2. Мера точности
- •3. Индекс налаженности процесса
- •4. Коэффициент верхнего отклонения
- •5. Коэффициент нижнего отклонения
- •6. Индекс центрированности
- •7. Индекс воспроизводимости Тагути (оперативный метод Тагути)
- •Анализ индексов воспроизводимости.
- •Недостатки
- •Применения
- •Метод «мозгового штурма» ( Brainstorm)
- •Заключение
- •Литература:
- •Стандарты
- •Приложение 1
- •Приложение 2 Контрольная карта для количественного признака
- •Приложение 3 Пример построения контрольных карт.
- •Приложение 4
- •Приложение 5 Пример вычисления индекса воспроизводимости
- •Оглавление
Листок входного контроля
Рис. 16. Листок входного контроля
Матрица расположения дефектов
№ дефекта |
Вдоль оси |
Количество дефектов |
|||||||
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
|
||
A |
|
|
I |
|
|
|
|
1 |
|
B |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
C |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
D |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
E |
III |
|
|
|
|
|
|
9 |
|
F |
I |
II |
|
|
|
|
|
3 |
|
G |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
H |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
4 |
2 |
7 |
|
|
|
|
|
Примечания: карта расположения дефектов приведена на рис. 16.
Вывод: Рекламации поставщику о замене литьевых машин.
Контрольный листок для регистрации распределения сопротивлений интегральных размеров.
Наименование изделия: интегральный пинч-резистор. Дата: 13.12.96.
Производственная операция: приемочный контроль. Участок: микроэлектроники
Размер выборки: n=50 Ф.И.О.: .
Номинал: 1000 Ом Номер пластин: № 1,2.
Допуск: = 10% Номер заказа: № 1.
Номинал |
Границы интервала |
Граница интервала в кодах |
|
Относительная частота |
||||||||||||||||
|
|
|
mi |
|
||||||||||||||||
|
|
|
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
11 |
12 |
13 |
14 |
15 |
16 |
|
|
1100 |
|
ВГД |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1060-1080 |
3...4 |
x |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
|
|
1040-1060 |
2...3 |
x |
# |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
2 |
|
|
1020-1040 |
1...2 |
x |
x |
x |
# |
# |
# |
# |
# |
# |
|
|
|
|
|
|
|
9 |
|
|
1000-1020 |
0...1 |
x |
x |
x |
x |
x |
x |
# |
# |
# |
# |
|
|
|
|
|
|
10 |
|
|
980-1000 |
-1...0 |
x |
x |
x |
x |
x |
x |
x |
# |
# |
# |
# |
# |
# |
# |
|
|
14 |
|
|
960-980 |
-2...-1 |
x |
x |
x |
# |
# |
# |
# |
# |
|
|
|
|
|
|
|
|
8 |
|
|
940-960 |
-3...-2 |
x |
x |
x |
# |
# |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
5 |
|
|
920-940 |
-4...-3 |
x |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
900 |
|
НГД |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
x – первая пластина, # - вторая пластина