- •Хамадулин э.Ф. Методы и средства измерений в ткс
- •Предисловие
- •2.Измерения в телекоммуникационных системах
- •2.1.Современное состояние измерений в телекоммуникационных системах связи
- •2.2.Классификация измерительной аппаратуры
- •2.3.Свойства классических средств измерений и предъявленные к ним требования
- •2.4.Свойства средств измерений современных телекоммуникаций
- •2.5.Метрологическое обеспечение современных телекоммуникаций
- •3.Основные типы, параметры и характеристики сигналов в ткс
- •3.1.Основные характеристики интерфейса е1
- •3.2.Нормы на стабильность частоты. Джиттер в системах уе1.
- •3.3.Идеализированные испытательные импульсные сигналы
- •3.4.Частотная, импульсная характеристика и спектральная плотность
- •3.5. Определение спектральной плотности при измерениях
- •3.6.Модельное представление параметров импульсных сигналов
- •3.7.Параметры динамических характеристик
- •4. Радиоизмерения
- •4.1.Классификация радиоизмерений
- •4.2.Измерение напряжения и силы тока
- •4.2.1Электроизмерительные приборы
- •4.3.Методы измерения
- •4.3.1Метод непосредственной оценки
- •4.3.2Метод сравнения
- •4.4.Средства измерения (Электромеханические амперметры и вольтметры)
- •4.4.1Магнитоэлектрические приборы
- •4.5.Электромагнитные приборы
- •4.6.Электродинамические приборы
- •4.7.Ферродинамические приборы
- •4.8.Электростатические приборы
- •4.9.Выпрямительные приборы
- •4.10. Аналоговые электронные вольтметры
- •4.11. Автокомпенсационные вольтметры
- •4.12. Измерение токов и напряжений на вч
- •4.13. Термопреобразователи на вч
- •4.14. Основные составляющие погрешности измерения тп
- •4.14.1Температурная погрешность
- •4.14.2Частотная погрешность
- •4.15. Многоэлементный тп фирмы Fluke
- •4.16. Фотоэлектрические измерительные преобразователи тока
- •4.17. Электродинамические приборы
- •4.18. Масштабный измерительный преобразователь на основе пояса Роговского.
- •4.19. Перспективные средства измерений силы переменного тока
- •4.20. Заключение
- •5. Исследование формы и параметров сигнала
- •5.1. Принцип действия электронно-лучевой трубки
- •5.2.Матричная индикаторная панель.
- •5.3. Типы осциллографов
- •5.3.1Универсальный осциллограф
- •5.3.2Цифровые осциллографы
- •5.3.3Запоминающие цифровые осциллографы.
- •5.3.4Двухканальные и двухлучевые осциллографы.
- •5.3.5Скоростные и стробоскопические осциллографы.
- •5.3.6 Стробоскопические осциллографы
- •5.4. Способы отсчета напряжения и временных интервалов в осциллографах
- •5.4.1Цифровое измерение мгновенных значений амплитуды и временных параметров сигнала на входе прибора
- •5.4.2Измерение с помощью калибрационного напряжения на экране элт
- •5.4.3Компенсационный метод измерения периодического импульсного напряжения
- •5.4.4Новые функциональные возможности осциллографов
- •5.4.5Осциллографы с цифровыми измерительными блоками
- •5.4.6Автоматизация осциллографических измерений
- •5.4.7Цифровая коррекция погрешности измерения параметров сигналов
- •5.4.8Технические характеристики семейства цифровых вычислительных осциллографов
- •5.5. Расчет суммарной погрешности измерения осциллографа
- •6. Измерение параметров спектра радиосигналов
- •6.1. Характеристики спектра радиосигналов
- •6.2. Методы измерения характеристик спектра сигналов
- •6.3. Средства измерений характеристик спектра. Классификация, основные характеристики
- •6.3.1Анализаторы спектра параллельного действия
- •6.3.2Гетеродинные анализаторы спектра последовательного типа
- •6.3.3Анализаторы спектра на цифровом фильтре
- •6.3.4Вычислительные анализаторы спектра
- •7. Измерение мощности
- •7.1.Характеристики мощности
- •7.2. Классификация методов измерения мощности
- •7.3. Методы измерения мощности
- •7.3.1 Методы измерения поглощаемой мощности
- •7.3.2 Измерение мощности с помощью терморезисторов
- •7.3.3Болометры и их характеристики.
- •7.3.4Термисторы и их характеристики.
- •7.3.5Терморезисторные мосты.
- •7.3.6Погрешности терморезисторного метода.
- •7.3.7 Термоэлектрический метод измерения мощности
- •7.3.8Калориметрические методы измерения мощности
- •8.Радиочастотные измерения
- •8.1. Средства измерений напряженности электромагнитного поля.
- •8.2. Измерители напряженности поля
- •8.3. Измерители напряженности слабых полей
- •8.4. Инп сильных электромагнитных полей
- •8.5. Измерительные приемники
- •8.6.Измерительные антенны
- •8.6.1Штыревая антенна
- •8.6.2Дипольные антенны
- •8.6.3Логопериодические антенны
- •8.6.4Рамочные антенны
- •8.6.5Рупорные антенны
- •8.6.6 Биконическая антенна
- •9. Измерение частоты
- •9.1.Основные определения
- •9.2. Резонансные частотомеры
- •9.3.Электронно-счетные частотомеры
- •10. Измерительные генераторы. Классификация и метрологические характеристики измерительных генераторов свч.
- •10.1. Принципы генерирования сигналов свч
- •10.2. Типовые схемы генераторов сигналов свч
- •10.3. Структурные схемы генераторов свч
- •10.4.Цифровые измерительные генераторы низких частот
- •10.4.1Принципы аппроксимации.
- •10.5. Генераторы шумовых сигналов
- •10.6. Импульсные генераторы
- •11. Измерение шумов и помех
- •11.1. Измерение коэффициента шума
- •11.1.1Определение коэффициента шума
- •11.2.Методы измерения шумовых параметров радиоэлектронных устройств
- •11.3. Измерители коэффициента шума
- •11.4.Помехи и шумы в каналах передачи информации
- •11.5.Измерение радиопомех
- •11.6.Измерение напряжения радиопомех
- •11.7.Измерения напряженности поля радиопомех
- •11.8.Методика измерения напряжения радиопомех
- •11.9.Методика измерения напряженности поля радиопомех
- •12.Измерения в цифровых системах передачи
- •12.1.Работа мультиплексоров в цифровом потоке е1
- •12.2. Анализ процедур демультиплексирования
- •12.3.Измерения параметров физического уровня е1
- •11. 4. Приборы для измерения в цифровых каналах связи
- •11.5. Анализ ошибок в цифровых системах передачи
- •12.4.Методы и принципы измерений в широкополосных сетях связи атм
- •12.5.Измерения, проводимые с остановкой связи
- •12.6.Измерение коэффициента ошибок сигнала atm и проверка функционирования системы передачи
- •12.7.Универсальный сетевой анализатор
- •12.8. Измерения atm, проводимые с остановкой связи
- •12.9.Тестирование соединений atm и мониторинг заголовков
- •12.10.Измерение времени задержки ячеек
- •12.11.Ввод сигналов атм
- •12.12.Тестирование систем передачи атм без остановки связи
- •12.13.Анализ загрузки и каналов пользователей
- •12.14.Интернет: критический режим работы шлюзов
- •12.15.Требования, предъявляемые к тестовому оборудованию atm
- •13.Измерения на волоконно-оптических линиях связи
- •13.1.Измерение потерь на волоконно-оптической линии связи
- •13.2.Измерение коэффициента затухания оптической линии.
- •13.3.Методы определения неоднородностей оптической линии
- •13.4.Характеристики оптических рефлектометров
- •Р ис. 12.6 Прием мертвой зоны otdr
- •Р ис. 12.7 Определение величины мертвой зоны по затуханию
- •Разрешающая способность otdr
- •Точность измерений оптического рефлектомера
- •13.5.Функциональные параметры otdr
- •Длительность импульса
- •Длина волны otdr
- •Диапазон
- •Интервал усреднения результатов
- •Параметры волокна
- •13.6.Процедуры измерений
- •Р ис. 12.9 Пример изображения результатов измерения параметров волокон otdr
- •Выполнение измерений возвратных потерь
- •Р ис. 12.11 Пример измерения orl на рефлектограмме анализатора
- •13.7.Измерение хроматической дисперсии волокна
- •Р ис. 12.12 Хроматическая дисперсия
- •13.8.Измерение поляризационной модовой дисперсии (пмд)
- •Интерферометрический метод
- •Р ис. 12.14 Тестирование пмд методом фиксированного анализатора
- •13.9.Измерительная техника, используемая при эксплуатации восп Оптические измерители мощности
- •Р ис. 12.16 Характеристики зависимости выходного сигнала фотодиода от длины волны принимаемого сигнала
- •Стабилизированные источники оптического сигнала
- •Р ис. 12.18 Спектральная характеристика лазерного и светодиодного источника Светодиодные оптические источники
- •13.10.Визуальные дефектоскопы
- •13.11.Анализаторы затухания в оптическом кабеле
- •13.12.Перестраиваемые оптические аттенюаторы
- •13.13.Оптические рефлектометры
- •Р ис. 12.21 Принципиальная схема рефлектометра
- •Литература
13.2.Измерение коэффициента затухания оптической линии.
Существуют два способа измерения коэффициента затухания волокна: метод обрыва и метод вносимых потерь.
Первый метод предполагает измерение мощности оптического излучения в двух точках - на дальнем конце оптической линии (L2) и в точке, максимально приближенной к источнику излучения (L1). При этом параметры подключения оптического источника не должны меняться. Для проведения измерения световод просто отрезается вблизи от источника. Затем коэффициент затухания определяется по формуле:
α = 10/(L2-Ll) x log(P(Ll)/P(L2)).
Этот метод дает самые точные результаты, однако, малоприменим на практике в связи с необходимостью нарушения целостности оптической линии.
Метод вносимых потерь несколько проще первого. Он предполагает наличие эталонного оптического отрезка кабеля, который на практике просто заменяется оптическим патчкордом. Для определения потерь линии этим способом, источник калиброванного оптического излучения соединяют с измерителем мощности сначала через эталонный патчкорд, а затем через оптическую линию (рис. 12.2). Такой метод имеет меньшую точность и повторяемость результатов, нежели первый, что связано прежде всего с разницей характеристик оптического волокна линии и эталонного кабеля. Однако, в большинстве случаев результаты такого измерения получаются вполне удовлетворительными и достаточными для паспортизации и эксплуатации ВОЛС.
Рис. 12.2 Определение затухания волокна методом вносимых потерь
Для проведения двухстороннего тестирования оптической линии часто применяют комбинированные оптические тестеры - приборы, в которых одновременно реализованы функции как источников излучения, так и измерителей мощности. Это позволяет значительно экономить время на проведении измерений, а также дает возможность делать измерения в обоих направлениях. Усреднение двух результатов измерений увеличивает его точность.
13.3.Методы определения неоднородностей оптической линии
Основным методом точного определения неоднородностей оптической линии является метод обратного рассеяния или рефлектометрия. Этот вид тестирования волокна очень удобен тем, что требует доступа только к одному концу оптического кабеля и дает о нем полную информацию. Приборы, использующие этот принцип тестирования, называются оптическими рефлектометрами (OTDR). Работа рефлектометра сходна с работой радара. Основной принцип - это излучение сигнала и регистрация его отражения от неоднородностей. В основу работы рефлектометра заложены два основных феномена оптического волокна — Рэлеевское рассеивание, т. е. постоянное ослабление светового импульса, распространяющегося по волокну, связанное с наличием микрочастиц и неоднородностей в волокне, и Френелевское отражение, т.е. отражение части светового потока на границах сред, имеющих различный коэффициент распространения световых волн.
При проведении рефлектометрии в волокно вводится короткий импульс света, который распространяется вдоль его сердцевины. Благодаря эффекту Релеевского рассеяния, часть единичных фотонов света отражается от неоднородностей оптического волокна и меняет траекторию. Малая доля светового потока распространяется в обратном направлении и регистрируется фотоприемником OTDR. Так как примеси и неоднородности оптического волокна распределяются однородно по всей его длине, то эта отраженная энергия несет информацию о состоянии всей оптической линии. Главным фактором, влияющим на величину энергии, отраженной в обратном направлении, является коэффициент распространения волокна В. Обычная величина коэффициента распространения для В одномодового волокна на длине волны 1550 нм - 0,2 дБ/км. Коэффициент обратного рассеяния К выражается как отношение отраженной мощности сигнала к мощности, распространяемой в прямом направлении. Коэффициент К обычно пропорционален квадратному корню числовой апертуры оптического волокна. Логарифмический уровень коэффициента обратного рассеяния, нормализованный при длительности импульса 1 нс, определяется формулой:
Кнс(дБ)= 10 1ogK-90дБ
Физически это может быть описано следующим образом: при Кнс = — 80дБ и длительности импульса 1 нс уровень отраженной мощности на 80 дБ ниже мощности, распространяемой в прямом направлении. Обратное отражение лучевого потока зависит от инжектируемой мощности (Ро), длительности импульса (Δt), коэффициента обратного отражения (К), расстояния (L), затухания волокна (α):
S = Po · Δt · K · 10(α · L/5)
Здесь: S - фактор обратного распространения, Ро и Δt - параметры OTDR.
Эффект Френелевского отражения - это основной фактор, позволяющий детектировать точное местоположение точек резкого изменения коэффициента распространения света в оптической линии. Такими точками могут быть места сварок участков оптического волокна, коннекторы (электрические соединители) и механические соединители, места сколов и обрывов волокон. На этих участках значительная часть энергии светового импульса отражается в обратном направлении. Например, теоретический уровень мощности отраженного светового импульса от границы кварц/воздух (обрыв волокна со сколом под 90°) составляет - 14дБ. Этот уровень может быть в 4000 раз больше уровня сигнала, генерируемого Релеевским рассеянием. Уровень отраженной мощности в местах сварок волокна или механического соединения, использующего специальный гель, во много раз меньше.
OTDR, в общем случае, состоит из импульсного источника излучения, генератора импульсов, полупрозрачного зеркала для разделения излучаемых и принимаемых импульсов света, устройства синхронизации, фотоприемника с усилителем, устройств обработки и отображения информации (рис. 12.3).
Рис. 12.3 Упрощенная блок-схема оптического рефлектометра
Источники оптического излучения OTDR выбираются, исходя из решаемой задачи. Они могут быть как многомодовыми, так и одномодовыми, и иметь разные длины волн. В настоящее время выпускаются OTDR с источниками на одну, две, три и даже четыре длины волны. Такие наборы позволяют детально исследовать оптическую линию, выявляя ее мельчайшие неоднородности
Основным элементом источника излучения служит лазерный диод, спектральная ширина излучения которого минимальна. Излучателем управляет импульсный генератор. Мощность световых импульсов, излучаемых в волокно, варьируется от 1 мВт до 1 Вт в зависимости от длительности импульса. Импульсы излучаются с частотой в несколько килогерц. Оператор может менять длительность импульса от 2 нс до 20 мс при выборе оптимальных параметров измерений для решения определенной задачи. Длительность импульса лимитируется временем полного возврата предыдущего импульса до момента излучения следующего. Время приема отраженных импульсов зависит от длины оптической линии. Для корректного определения этого параметра OTDR оператор должен правильно установить диапазон длины оптического волокна.
OTDR измеряет разницу во времени между генерируемым и входящим отраженным импульсом. Для увеличения точности результатов и исключения случайных событий, опробование импульсами одного и того же участка оптического волокна проводится многократно с последующим усреднением полученных результатов. Современные рефлектометры для получения наиболее точных результатов и исключения влияния случайных шумов обрабатывают от 56000 до 128000 точек данных, поэтому OTDR должен содержать достаточно мощный процессор для быстрой обработки всей информации. Результирующая информация о задержке входящего импульса по сравнению с исходящими преобразуется в расстояние, используя индекс преломления волокна. Значение индекса преломления должно быть введено оператором перед началом измерений волокна. Иначе результаты тестирования будут неверными.
Отображение результатов тестирования оптической линии производится в графическом виде. На дисплее отображается рефлектограмма, где по вертикальной оси откладывается затухание в дБ, а по горизонтальной - расстояние в метрах или километрах.
Рис. 12.4 Пример рефлектограммы