- •Оглавление
- •Глава 1 ОСНОВЫЕ ПОНЯТИЯ ТЕОРИИ КАЧЕСТВА И НАДЕЖНОСТИ
- •1.1 ОСНОВНЫЕ ПОНЯТИЯ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ
- •1.2 ПОКАЗАТЕЛИ НАДЕЖНОСТИ ТЕХНИЧЕСКИХ УСТРОЙСТВ
- •1.3 ТЕРМИНЫ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРИМЕНИТЕЛЬНО К ИЗДЕЛИЯМ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ
- •1.4 КРИТЕРИИ И КОЛИЧЕСТВЕННЫЕ ПОКАЗАТЕЛИ НАДЕЖНОСТИ
- •1.5 ЗАВИСИМОСТИ МЕЖДУ ОСНОВНЫМИ ХАРАКТЕРИСТИКАМИ НАДЕЖНОСТИ
- •1.6 ПРИМЕРЫ РЕШЕНИЯ ЗАДАЧ ПО НАДЕЖНОСТИ
- •Глава 2 ОБЕСПЕЧЕНИЕ НАДЕЖНОСТИ НА ЭТАПЕ ПРОЕКТИРОВАНИЯ
- •2.1 ОБЩИЕ ПРИНЦИПЫ ОБЕСПЕЧЕНИЯ НАДЕЖНОСТИ
- •2.2 ПРОГРАММНЫЕ ДОКУМЕНТЫ ПО ОБЕСПЕЧЕНИЮ НАДЕЖНОСТИ
- •2.2.1 Типовая структура и содержание программы обеспечения надежности космического аппарата
- •2.2.2 Основные нормативные требования к составу и содержанию КПЭО КА
- •2.3 АНАЛИЗЫ ПО ОБЕСПЕЧЕНИЮ НАДЕЖНОСТИ ОБОРУДОВАНИЯ, БОРТОВЫХ СИСТЕМ И КОСМИЧЕСКОГО АППАРАТА
- •2.3.1 Функциональный анализ
- •2.3.2 Анализ (расчет) надежности
- •2.3.2.2. Методы нормирования показателей надежности по составным частям космического аппарата
- •2.3.2.3.Методы анализа и оценки показателей надежности на соответствие нормативным значениям (расчетные, расчетно-экспериментальные методы)
- •2.3.2.5 Надежность КА при хранении
- •2.3.3 Анализ видов, последствий и критичности отказов
- •2.3.3 Анализ электрических и тепловых нагрузок на комплектующие и мер по облегчению нагрузок для комплектующих.
- •2.3.4 Анализ худшего случая.
- •2.3.5 Анализ обеспечения требуемого ресурса и сохраняемости.
- •2.3.6 Перечень и программа контроля критичных элементов
- •Глава 3 СТРУКТУРА ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЙ ОТРАБОТКИ БОРТОВЫХ СИСТЕМ И БОРТОВОГО ОБОРУДОВАНИЯ
- •Глава 4 ОБЩЕЕ ПРЕДСТАВЛЕНИЕ ОБ ОТКАЗАХ ИЗДЕЛИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ
- •4.1 ФИЗИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ ОТКАЗОВ
- •4.2 МЕХАНИЗМЫ ВНЕЗАПНЫХ И ПОСТЕПЕННЫХ ОТКАЗОВ
- •4.3 СТРУКТУРНЫЕ ДЕФЕКТЫ КОМПОНЕНТОВ БИС
- •4.4 ОБЩИЕ ДЕФЕКТЫ В ТВЕРДЫХ ТЕЛАХ
- •4.5 ДЕФЕКТЫ В КРЕМНИЕВОЙ ПОДЛОЖКЕ
- •4.5.1 Механизм образования "отрицательных нитевидных кристаллов".
- •4.5.2 Растворение кремния алюминием
- •4.6 ДЕФЕКТЫ ПЛЕНОК ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО КРЕМНИЯ
- •4.7 ДЕФЕКТЫ СТРУКТУРЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СЛОЕВ
- •4.7.1 Локализованные дефекты структуры и состава диэлектрических слоев
- •4.7.2 Химические и физические нелокализованные дефекты
- •Глава 5 ОТБРАКОВОЧНЫЕ ИСПЫТАНИЯ – СРЕДСТВО ПОВЫШЕНИЯ НАДЕЖНОСТИ ПАРТИЙ ИЗДЕЛИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ
- •5.1 СОСТАВ ОТБРАКОВОЧНЫХ ИСПЫТАНИЙ
- •5.2 ТРЕНИРОВКА
- •5.3 ЭЛЕКТРОТРЕНИРОВКА
- •5.4 ЭЛЕКТРОТЕРМОТРЕНИРОВКА
- •5.5 ТЕРМОТРЕНИРОВКА
- •5.6 ПРОДОЛЖИТЕЛЬНОСТЬ ТРЕНИРОВОК
- •Глава 6 МОДЕЛЬ ВНЕШНИХ ВОЗДЕЙСТВУЮЩИХ ФАКТОРОВ ДЛЯ ЭЛЕКТРОРАДИОИЗДЕЛИЙ, ЭКСПЛУАТИРУЕМЫХ В КОСМИЧЕСКИХ АППАРАТАХ ДЛИТЕЛЬНОГО ФУНКЦИОНИРОВАНИЯ
- •6.5.1 Излучения естественных радиационных поясов Земли
- •6.5.2 Воздействие одиночных частиц
- •Глава 7 МЕТОДЫ ОБЕСПЕЧЕНИЯ АППАРАТУРЫ КА ИЗДЕЛИЯМИ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ НЕОБХОДИМОГО УРОВНЯ КАЧЕСТВА И НАДЕЖНОСТИ
- •Глава 8 ВОЗДЕЙСТВИЕ ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКИХ ЗАРЯДОВ НА ИЗДЕЛИЯ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ
- •Глава 9 НЕРАЗРУШАЮЩИЕ МЕТОДЫ АНАЛИЗА МИКРОСХЕМ
- •9.1.1 Обзор систем формирования рентгеновского изображения
- •9.1.2 Неразрушающее формирование трехмерного изображения
- •9.1.3 Практическое использование рентгеновских инспекционных установок в лабораториях анализа отказов
- •Влияние облучения на образец
- •9.2.1 Сравнение РЭМ и оптического микроскопа
- •9.2.2 Электронная оптика
- •Зарядка образца
- •Скорость сканирования и качество изображения
- •Краткое описание
- •Глава 10 МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
- •Глава 11 РАСЧЕТНО-ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ РАБОТОСПОСОБНОСТИ ИЗДЕЛИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ФАКТОРОВ КОСМИЧЕСКОГО ПРОСТРАНСТВА
- •11.1.1 Метод прогнозирования работоспособности ЭРИ к воздействию электрических и тепловых нагрузок в КА негерметичного исполнения
- •11.1.2 Определение допустимого коэффициента электрической нагрузки ИС в КА негерметичного исполнения
- •11.1.3 Справочник конструктора по применению изделий микроэлектроники в КА негерметичного исполнения длительного функционирования
- •11.2.1 Причины разбросов показателей радиационной стойкости ЭРИ от образца к образцу
- •11.2.2 Экспериментальные данные разброса радиационной стойкости ЭРИ
- •11.2.3 Обоснование номенклатуры критически важных ЭРИ определяющих радиационные характеристики бортовой аппаратуры КА
- •11.2.4 Обеспечение радиационной стойкости критически стойких ЭРИ
- •11.2.5 Влияние идеологии проведения ВК, ОИ и ДНК на уровень радиационной стойкости ЭРИ, устанавливаемых в аппаратуру
- •11.3.1 Разработка подхода к оценке работоспособности ЭРИ в условиях комплексного воздействия ФКП
34
отказов в течение всех трех периодов используется суперпозиция законов распределения, соответствующих указанным периодам:
f(t) = с1 f1(t) +c2 f2(t) + c3 f3(t),
где c1, c2, c3 - нормирующие коэффициенты, определяемые через отношение числа соответствующей группы отказов к общему числу изделий;
f1(t), f2(t), f3(t) - распределение отказов соответственно в 1, 2, 3-м периодах. Сумма отказов всех трех групп равна общему числу изделий, поэтому c1+ c2+ c3=1.
Если необходимо определить величину интенсивности отказов за период наработки Т, то формула будет иметь вид
λСТ = n /(NT ) ,
где λСТ - статистическое значение интенсивности отказов; n - число отказов за период Т
С учетом достоверности получаемых результатов формула (1) преобразится в формулу
λСТ = K p /(NT )
где Кр - коэффициент, выбираемый из табл. 4 в зависимости от числа отказов n и значения доверительной вероятности Р.
Таблица 4 Коэффициент Кр в зависимости от числа отказов n и значения доверительной вероятности Р
P |
КР при n |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
0 |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
б |
7 |
8 |
9, |
10 |
0,6 |
0,92 |
2.0 |
3.1 |
4,2 |
5.2 |
6,3 |
7.3 |
8,4 |
9,4 |
10.5 |
11,5 |
0,9 |
2,3 |
3.9 |
5,3 |
6.6 |
8,0 |
9.3 |
10,5 |
11,8 |
15.0 |
14,2 |
15,4 |
1.5 ЗАВИСИМОСТИ МЕЖДУ ОСНОВНЫМИ ХАРАКТЕРИСТИКАМИ НАДЕЖНОСТИ
Под плотностью вероятности времени неисправной работы понимают отношение числа отказов dn в интервале времени dt к произведению общего числа элементов N, поставленных на испытания, на длину интервала dt:
f (t) = dn /(Ndt) = |
dn |
= λР, |
N / S (Sdt) |
где S = N - n - число исправно работающих изделий;
35
dn/ (Sdt) = λ; S/N=P.
Поскольку f(t) = dF/(dt) = - dP/(dt), то λ (t)P= dP/dt и λ (t)dt = -dP/P.
Проинтегрируем последнее выражение при Р(0) = 1:
P(t) = e−∫λ(t )dt
Средняя наработка до отказа T - математическое ожидание наработки до первого отказа:
|
|
∞ |
∞ |
|
∞ |
∞ |
∞ |
∞ |
∞ |
|
|
= ∫tf (t)dt = −∫t dP(t) dt = − ∫tdt(t) = −tP(t)∫ |
+ ∫P(t)dt = ∫P(t)dt;T = ∫P(t)dt |
||||||
T |
|||||||||
0 |
0 |
dt |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
||
|
Эта формула устанавливает зависимость между временем и вероятностью исправной работы. Видно, что Т есть площадь, ограниченная кривой вероятно-
сти исправной работы. При λ=const
∞
P(t) = e−λt и T = ∫e−λt dt =1/ λ
0
Тогда P(t) = e−t /T
В большинстве технических условий на ИЭТ указывается не срок сохра-
няемости, а гамма-процентный срок сохраняемости Тγ - срок, о течение которого ИЭТ не достигает предельного состоянии с заданной вероятностью γ -процентов.
Полагая закон распределения времени безотказной работы ИЭТ экспоненциальным, имеем:
е−λTγ =γ /100
Логарифмируя данное выражение, получим:
Tγ = − λ1 ln 100γ = −Т ln 100γ
Опытное значение γ -процентов вычисляется по формуле:
γ=(1-n/N) 100.
где n- число отказов в выборке; N - объем выборки.
Для ИС гамма-процентный срок сохраняемости выбирается при заданной вероятности γ = 95%. для полупроводниковых приборов - при γ = 98%.
36
1.6ПРИМЕРЫ РЕШЕНИЯ ЗАДАЧ ПО НАДЕЖНОСТИ
Задача 1. При испытании 200 ИС в течение 1000 ч имеем 2 отказа. Опре-
делить λ при доверительной вероятности 0,6 и 0,9. Используем формулу
λСТ = K p /(NT )
Из табл. 4 при n = 2 находим К0,6= 3,1 и К0,9 = 5,3
λ0,6=3,1/(200 1000) = 1,55 10-5 1/ч = 1,55%/1000 ч = 15500 фит;
λ0,9 =5,3/(200 1000) = 2,65 10-5 1/ч = 2,65%/1000 ч = 26500 фит.
Эта задача по нахождению λ - прямая. Так как в формуле есть еще три переменные, то могут быть и три обратных задачи: по определению n, N и Т.
Задача 2. |
3 а д а ч а 3. |
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
λ= 1,1%/1000 ч . |
λ = 1500 фит |
|
|
|
||
N = 100 |
n = 0 |
|
|
|
||
n = 1 |
Р1=0,6 |
|
|
|
||
P = 0,6 |
Р2=0,9 |
|
|
|
||
T-? |
T=1000ч |
|
|
|
||
Ответ:Т=20000ч. |
N1-?, N2-? |
|
|
|
||
Ответ: N1=600, N2=1500 |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
3 а д а ч а 4. |
3 а д а ч а 5 |
|
|
|
||
|
|
|
|
|
||
λ =10-61/ч |
Еγ= 30 000 ч |
|
|
|
||
Т =5000 ч |
γ=95% |
|
|
|
||
N= 100 |
λ=? |
|
|
|
||
Р=0,6? |
Используем формулу |
|||||
N=? |
1 |
|
|
γ |
||
Ответ: n = 0 |
Tγ = − |
|
ln |
|
|
|
λ |
100 |
|
||||
|
Ответ: λ = 1,7 10-6 1/ч |