- •Технология получения тонкопленочных структур для оптоэлектроники на основе опытной установки ионно-лучевого осаждения
- •Новочеркасск 2006 оглавление
- •Введение
- •Глава 1 обзор литературы и проблематика работы
- •1.4. Постановка задачи исследования
- •1.5 Вывод
- •Глава 2 процесс осаждения из ионого пучка и расчет основных параметров ионно-лучевой установки
- •2.1 Методика распыления вещества в плазме.
- •2.2 Источник ионов
- •2.3 Система формирования и управления ионным пучком
- •2.3.1 Система экстракции
- •2.3.2 Система фокусировки
- •2.3.3 Система сканирования
- •2.4 Нанесение покрытия управляемым ионным пучком
- •2.5 Вывод
- •Глава 3 особенности вакуумной системы для ионного осаждения
- •3.1 Вакуумные параметры системы.
- •3.2 Система откачки вакуумной арматуры установки.
- •3.3 Система управления вакуумными насосами
- •3.4 Вывод.
- •Глава 4 Расчетные и экспериментальные параметры тонких пленок и структур, полученные с помощью ионно-лучевого осаждения
- •4.1 Физические принципы осаждения тонких пленок
- •4.2 Математическая модель расчета физико-механических свойств покрытий и экспериментальные данные образцов ионно-лучевого осаждения.
- •4.3 Расчетные и экспериментальные данные получения омических контактов, полупроводниковых слоев и металлической гребенки при ионно-лучевом осаждении.
- •4.6 Вывод
- •Список используемой литературы
1.4. Постановка задачи исследования
Рассмотрим и проанализируем типичные технологические маршруты изготовления полупроводникового прибора стандартным методом и методом ионного осаждения, и на примере убедимся в его эффективности. Стандартные технологии изготовления солнечных элементов - это совокупность механических, физических, химических способов обработки различных материалов (полупроводников, диэлектриков, металлов), при чем большинство операций создания солнечных элементов требует специального оборудования - это повышает расход материалов, энерго и человеко затраты. Покажем технологическую цепочку изготовления солнечного элемента (на основе кремния). Во-первых - получение монокристалла кремния, далее разделение слитка на пластины. За тем следует подготовка пластин - обезжиривание, очистка, механическая полировка. Далее травление, окончательная очистка пластины и промывка. В технологии ионного-лучевого осаждения тонкую очистку подложки можно провести с помощью ионного травления, не вынимая заготовки из рабочей камеры и значительно повысив уровень очистки материала.
После подготовки пластин приступают к нанесению активных слоев в большинстве случаев это диффузия из газовой смеси. На основе данного процесса невозможно получить с высокой точностью толщину наносимого слоя, и после завершения операции необходимо удалить слой диффузанта с помощью травления. Далее методом испарения наносят слой Al и проводят диффузию для создания р+-слоя. В технологии ионно-лучевого осаждения нанесение сплошных слоев производится расфокусированным ионным пучком, при увеличении энергии ионов возможно применение метода ионной имплантации – это позволит с большей точностью контролировать толщину легирования и количество легирующей примеси. При помощи фотолитографии или теневой маски наносят рисунок токосъемной сетки, далее происходит осаждение Ti, Pd и Ag на лицевую и тыльную поверхности пластины, после этого удаляют масочный слой. В технологии ионно-лучевого осаждения нанесение топологии рисунка производится фокусированным ионным пучком в едином цикле – внутри одной рабочей камеры. На заключительном этапе проводят осаждение просветляющего покрытия и приварку контактов. Описанная схема стандартного технологического процесса в значительной мере упрощена, в нее не вошли многочисленные этапы очистки и контроля параметров, необходимые при производстве элементов.
Таким образом, цель настоящей работы заключается в следующем:
- расчет функционала и создание установки, реализующей данный метод, совместить в едином технологическом пространстве процессы получения пленочных слоев, литографии и металлизации контактов. Для реализации поставленной цели решались следующие задачи:
построение математической модели распыления вещества в плазме, расчет основных параметров процесса.
создание математической модели управления ионным лучом и расчет основных параметров протекания процесса, применимых для опытного образца экспериментальной установки ионно-лучевого осаждения.
построение математической модели осаждения эпитаксиальных слоев и физико-механических свойств покрытий.
Произведен рассмотр основных вопросов функциональных узлов установки ионно-лучевой эпитаксии и создание:
- источника ионов;
- концентратора плазмы;
- системы управления ионным лучом;
- расчет необходимых параметров вакуумной системы;
создание системы измерения вакуума;
создание вакуумных узлов и соединений;
выбор вакуумных насосов;
создание гетероионного насоса;