- •Определение параметров анизоторопных кристаллов из оптических спектров поглощения
- •1. Измерение оптической плотности
- •2. Ошибки при спектрофотометрических измерениях.
- •3. Электромагнитные волны в анизотропном диэлектрике.
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Определение вольтамперной характеристики суперлюминесцентного диода на основе AlGaAs/GaAs гетероструктур
- •1. Принцип действия суперлюминесцентного диода
- •2. Гомо- и гетеропереходы
- •3. Параметры полупроводниковых лазеров и светодиодов.
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа №3
- •1. Метод волноводно-оптических измерений
- •2. Измерение эффективных показателей преломления с помощью призменного элемента связи.
- •3. Схема измерений методом модовой спектроскопии (m – спектроскопии).
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Теория волоконных брэгговских решеток.
- •2. Лабораторная установка для записи волоконных брэгговских решеток в схеме с интерферометром Ллойда.
- •Примеры исследования спектральных свойств брэгговских решеток.
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
Лабораторная работа №3
ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОСТАВА И ТОЛЩИНЫ ТОНКИХ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПЛЕНОК МЕТОДОМ ВОЛНОВОДНО-ОПТИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ
Цель работы: 1) изучение волноводно-оптического метода измерения показателя преломления и толщины тонких диэлектрических пленок; 2) приобретение навыков угловых измерений с помощью гониометра-спектрометра; 3) измерение показателя преломления и толщины поверхностного кристаллического слоя твердого раствора HxLi1-xNbO3 на подложке LiNbO3 и определение в нем концентрации протонов.
Приборы и принадлежности: Гелий-неоновый лазер ЛГН, призма связи, гониометр ГС-5, планарный оптический волновод
1. Метод волноводно-оптических измерений
Развитие технологии получения составляющих основу современной микроэлектроники тонких пленочных структур обуславливает необходимость разработки и дальнейшего развития методов исследования различных структур на поверхности. Важными характеристиками тонких пленок и слоев являются их толщина и показатель преломления. Традиционным методом измерения этих величин является метод эллипсометрии. Однако этот метод достаточно трудоемок и в ряде случаев не обеспечивает необходимой точности измерений. Существенно более точным и простым является метод, основанный на явлении волноводного распространения света по поверхностным слоям.
Волноводно-оптический метод измерения показателя преломления и толщины тонких пленок основан на явлении возбуждения планарного оптического волновода.
Планарный оптический волновод (рис. I). Предположим, что волновод накладывает ограничения на распространение света вдоль оси X, и свет распространяется вдоль оси Z. Кроме того, как сама структура, так и свет однородны в направлении оси y, перпендикулярной осям X и Z. При этих условиях физическое описание волноводного распространения света состоит в том, что свет идет по пленке по зигзагообразному пути.
Рис.1. Вид планарного волновода сбоку и направление нормалей к волновым поверхностям зигзагообразных волн, соответствующих волноводной моде.
Более точно – это картина двух наложенных друг на друга однородных плоских волн, нормали к волновым фронтам которых движутся по зигзагообразному пути, показанному на рис.1 (nc, nf, ns – показатели преломления соответственно покровного слоя, пленки, подложки). Волны испытывают полное внутреннее отражение на границах пленки. Поскольку используется лазерное излучение, данные волны монохроматичны и когерентны, их угловая частота равна , длина волны в вакууме , а волновой вектор в направлении нормали к волновой поверхности равен nf, причем абсолютная величина вектора равна k=2 / = /c, где с – скорость света в вакууме. Поля таких волн изменяются по следующему закону:
exp[-jknf ( x cos() + z sin( )],
Согласно представлению о зигзагообразных волнах, постоянная распространения для волноводной моды в плоском волноводе (и связанная с ней фазовая скорость Vp) определяется следующим выражением: = /Vp=knf sin( ) и является z – составляющей волнового вектора knf. Однако угол не может принимать любые значения, так как только дискретный набор углов приводит (а иногда на один набор не приводит) к появлению самосогласованной картины распределения поля, которая соответствует тому, что называется волноводной модой.
Для того чтобы подробно исследовать данный случай, рассмотрим поперечное сечение волновода плоскостью z = const и просуммируем сдвиги фаз, которые появляются при движении некоторой волны от нижней границы пленки (x = 0) к верхней границе (x = h) и затем при движении отраженной волны к исходной границе пленки. В случае самосогласования сумма всех фазовых сдвигов должна быть кратна 2 . В частности, для пленки толщиной h сдвиг фазы за первый проход поперек пленки равен k nf h cos( ), сдвиг фазы в результате полного внутреннего отражения на границе раздела пленка – покровный слой (чаще всего воздух) равен -2Фс, сдвиг за следующий проход вниз поперек пленки составляет k nf h cos( ) и сдвиг из-за полного внутреннего отражения на границе пленка-подложка равен –2Фs.
Таким образом, получено условие самосогласованности (известное также под названием «условие поперечного резонанса»):
2knfhcos( ) – 2Фс – 2Фs = 2 m, (1)
где m – целое число (0, 1, 2, ....), которое определяет номер моды.
Выделяют два крайних состояния поляризации волновых мод:
ТЕ – поперечная электрическая, в которой электрический вектор направлен перпендикулярно направлению распространения света, и
ТМ – поперечная магнитная, в которой магнитный вектор направлен перпендикулярно направлению распространения света. Ненулевыми компонентами электрического Е и магнитного Н векторов являются для ТЕ – волн: Еy, Hx и Hz; для ТМ – волн: Ну, Ех и Ez.
С помощью формул Френеля можно получить выражения для фазовых сдвигов на обеих границах для двух состояний поляризации:
ТЕ – волны:
Фс = Arctg /nf cos( );
Фs = Arctg /nf cos( );
ТМ – волны:
Фс = Arctg /nf cos( );
Фs = Arctg / nf cos( ).
В интегральной оптике широко распространено понятие «эффективный показатель преломления», который определяется следующим образом:
N = /k = nf sin( ).
Условие полного внутреннего отражения накладывает ограничения на диапазон изменения этой величины: ns < N < nf.
Теперь уравнение (I) может быть переписано в виде:
- - (2)
Условия (2) называются дисперсионными уравнениями планарного оптического волновода. Видно, что измерив эффективные показатели преломления как минимум двух волновых мод (N1 и N2 для m1 и m2), путем решения системы уравнений (2) можно определить показатель преломления nf и толщину h пленки.
Рассмотрим вопросы, связанные с измерением эффективных показателей преломления.