Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
ЛП_КОЭ_МПТЭ.doc
Скачиваний:
45
Добавлен:
16.11.2019
Размер:
783.87 Кб
Скачать

Порядок выполнения работы

  1. Установить монокристаллическую пластину в держатель образцов спектрофотометра;

  2. Установить пленочный поляризатор в канал сравнения в ориентации строго фиксированной относительно спектрофотометра;

  3. Измерить спектр пропускания в диапазоне от 300 до 900 нм;

  4. Повернуть поляризатор на 90о относительно первоначального положения;

  5. Измерить спектр пропускания в том же диапазоне;

  6. Измерить спектры пропускания поляризатора без образца в рабочем канале для двух использованных ориентаций поляризатора;

  7. Используя экспериментальные данные, вычислить значения коэффициентов отражения и преломления в области прозрачности кристалла, и коэффициентов поглощения кристалла на длине волны заданной преподавателем. При вычислениях учитывать вклад мнимой части показателя преломления в значение коэффициента отражения для длины волны заданной в области значительного поглощения. Вычислить ширину запрещенной зоны кристалла в эВ.

Контрольные вопросы

        1. Оптическая плотность кристалла – понятия и методы определения.

        2. Основные источники ошибок при спектрофотометрических измерениях.

        3. Связь коэффициента отражения с коэффициентом преломления и поглощения в кристаллах.

        4. Природа спектральной зависимости показателя поглощения и коэффициента отражения кристалла.

        5. Анизотропия оптических свойств кристаллов и её связь с симметрией структуры кристаллов.

        6. Принцип работы двухлучевого спектрофотометра.

Литература

              1. Л.Н. Курбатов, Оптоэлектроника видимого и инфракрасного диапазонов спектра, МФТИ, 1999.

              2. Практикум по спектроскопии. Под ред. Левшина Л.В., МГУ 1986, с. 102-167.

              3. Анциферов Л.И. и др., Практикум по методике и практике физического эксперимента, Москва, Просвещение, 1984

              4. Малышев А.В., Техника спектроскопии, Москва, Наука, 1984

              5. Руководство по эксплуатации спектрофотометра “Specord M40”.

Лабораторная работа № 2

Определение вольтамперной характеристики суперлюминесцентного диода на основе AlGaAs/GaAs гетероструктур

Цель работы Измерение зависимости мощности излучения суперлюминесцентного диода от величин прямого напряжения и прямого тока. Определение вольтамперной характеристики диода, пороговых значений напряжения и тока и общей мощности излучения в насыщенном состоянии.

Приборы и принадлежности Суперлюминесцентный диод СЛД-820, блок питания постоянного тока Б5-47, вольтметр цифровой В7-16, измеритель мощности оптического излучения на основе фотодиода, одномодовое оптическое волокно.

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]