3. Критерии отражательной способности объектов. Задачи, решаемые с их помощью.

Критерии отражательнй способности: 1) интегральный коэффициент яркости (r) – это отношение яркости объекта(Воб) к яркости идеально рассеивающей поверхности(Во), измеряемых в одинаковых условиях освещения и наблюдения: r=Воб/Во. Идеально рассеивающая поверхность – отражает все и равномерно по всем направлениям.

2)коэффициент спектральной яркости(КСЯ) (r λ- альфа) определяется на какой-то длине волны r λ= Воб λ/Во λ. λ =r λ, λ1=r λ1, λ2=r λ2… r λ=f (λ)-кривая КСЯ – показывает как изменяется отражательные св-ва объектов в зависимости от длины волны. Отражательные св-ва по классам объектов: Р-раститльность ,П-почва, В-вода. Оси:вверх-r λ, в право λ. Р - Кривая вверх и вправо. П- прямая, слева на право вверх. В – прямая, слева на право вниз. Назначение данных кривых – выбор спектральной зоны излучения, в кот надо выполнят съемку. На графиках КСЯ выделяют зоны, в кот кривые значительно различаются по уровню – это м.б. одна или несколько зон. Т.к. на зем поверхности существует множество объектов, то отображение их на снимках возможна одновременная съемка в нескольких спектральных зонах. Каждая из кот могут отображаться определенные типы объекта. А суммарная инфы, полученная в зональных снимках бу мах.

RGB-чувствителен к красному, зеленному, синему цвету. UK- инфракрасный канал излучения. PAN –нанохроматическое излучение.

3. Анализ формулы смещения точки за рельеф. Изменение масштаба за рельеф.

Сечение горизонтального снимка Р и зем поверхности отвесной плоскости, проходящей через центр проекции S. Эта плоскость пересечет снимок по линии, проходящей через точку надира n. Здесь же располагаются точки о и с. Пересечем местность произвольной горизонтальной плоскостью Е. точки Ао и Во – ортогональные проекции точек А и В на плоскость Е. превышение точек А и В над плоскостью Е соответственно –ha и +hв. На снимке точки местности и их ортогональные проекции на плоскость Е изобразятся соответственно точками а и в, а0 и в0. Заметим, что точка а, с отрицательным превышением, сместилась относительно точки а0 к точке надира, а точка в, с положительным превышением, - от точки надира. Величины а0а и в0в – смещение точек а и в за влияние рельефа местности. Изображение точки местности D, лежащей на отвесном проектирующем луче, не сместиться, независимо от ее превышения над плоскостью Е. вывод: точки снимка за влияние рельефа местностью смещаются по направлению к точке надира или от нее в зависимости от знака превышения.

Величина смещения определяется по формуле: дельта hi= rihi/H, где дельта hi – смещение за рельеф; ri – расстояние от т.надиры до т.на изображении; hi- превышение; H- высота над средней секущей. Чем выше Н, тем меньше смещение.

Изменение масштаба за рельеф: m=H/f. в точке а: ma=H-ha/f, следоват масштаб бу крупнее. В точке b: mb= H+hb/f, следоват в точке в масштаб бу мельче.

На снимке можно отметить: 1) главный масштаб: 1/m=f/H. Можно определить в точке с. 2) частный масштаб m1+m2/2. 3)средний масштаб m сред =сумма m част/n. Дельта m = mчаст – mсред. Дельта m/ mсред <= 1/140 или 1/150