- •Аннотация
- •Содержание введение
- •Задание 1. Измерение характеристик качества
- •Задание
- •Информационная карта предприятия
- •Диаграмма «Осьминог»
- •Матрица характеристик
- •Инструкция по измерению характеристик качества
- •Задание 2. Анализ характеристик качества
- •Задание
- •Массив данных
- •Статусы объекта
- •Методы анализа
- •Диаграмма Исикавы
- •Диаграмма Парето
- •Контрольная карта Шухарта
- •2.4. Операционное определение
- •Задание 3. Моделирование процессов
- •3.1. Выбор процесса
- •Блок-схема
- •3.3. Таблица
- •Задние 4. Критические характеристики и операции процесса
- •4.1. Выбор критического параметра
- •4.2. Заполнение матрицы характеристик
- •4.3. План управления для критической операции
- •Задание 5. Решение проблем в области мк с помощью цикла pdca
- •Задание 6. Проектирование процессов для системы менеджмента качества
- •Задание
- •“Диаграмма Черепаха” для процесса производства фотоэлектрического элемента
- •“Диаграмма Черепаха” для процесса закупки
- •Общая схема процесса
- •Выводы:
- •Заключение
- •Список использованных источников
Задние 4. Критические характеристики и операции процесса
Целью является приобретение навыков:
интерпретации терминов стандарта ISO 9000, относящихся к управляемым условиям процесса;
интерпретации требований стандарта ISO 9001, относящихся к управляемым условиям процесса;
выявления критических характеристик продукции и критических операций процесса
разработки плана управления критическими операциями процесса.
Задание
Описать выход процесса (продукцию или услугу) в виде спецификации (списка) характеристик качества.
Выбрать из спецификации одну критическую для потребителя характеристику качества продукции или услуги.
Использовать тему предыдущей работы для разбиения процесса на отдельные операции.
Заполнить матрицу связей для определения критической операции, создающей критическую для потребителя характеристику качества продукции или услуги.
Заполнить план управления для критической операции, найденной на предыдущем шаге задания.
4.1. Выбор критического параметра
Список всех параметров:
Размер, мм
Масса, г
КПД, %
Пиковая мощность, Вт
Температурный коэффициент, %/оС
Ток короткого замыкания, А
Напряжение холостого хода, В
Область спектральной чувствительности, мкм
Критическим параметром было решено определить КПД фотоэлемента, так как, основываясь на вышеописанных положениях, было установлено, что потребитель ценит этот параметр выше остальных.
4.2. Заполнение матрицы характеристик
Таблица 4.1 - Матрица характеристик
Характеристика продукта |
Операции |
||||||||
00А |
02А |
03А |
04А |
05А |
07А |
09А |
10А |
Контроль качества готового изделия |
|
Размер, мм |
+ |
|
+ |
+ |
+ |
+ |
+ |
+ |
|
Масса, г |
+ |
+ |
+ |
|
+ |
|
+ |
+ |
|
КПД, % |
|
+ |
+ |
+ |
|
+ |
+ |
|
|
Пиковая мощность, Вт |
|
|
+ |
+ |
|
|
|
|
|
Температурный коэффициент, %/оС |
|
+ |
|
|
|
+ |
|
|
|
Напряжение холостого хода, В |
|
|
|
+ |
+ |
|
|
|
|
Ток короткого замыкания, А |
|
|
|
+ |
+ |
|
+ |
|
|
Область спектральной чувствительности, мкм |
+ |
|
+ |
|
|
+ |
|
|
Рассмотрение процесса под кодом 03А - нанесение трех слоев аморфного кремния как критической операции определено в качестве первостепенно важной, так как последствия этой операции оказывают большее влияние как на критический параметр – КПД, так и на другие, рассматриваемые ранее характеристики.
Формула расчета эффективности солнечных батарей выглядит следующим образом:
КПД = P/S/10, где P – мощность элемента; S – площадь элемента.