4. Инструкция по измерению характеристик качества

Инструкция является нормативным актом по использованию или настройки прибора в соответствии с общими требованиями для унификации сертификации и стандартизации продукции и призвана однозначно определить порядок проведения процедуры измерения одной из базовых технических характеристик изделия.

В качестве измеряемой характеристики была выбрана спектральная чувствительность, как и КПД, так как она является определяющей характеристикой элемента, однако описанная методика измерений может быть использована при проверки герметичности светочувствительного элемента, надёжность контакта выводных клемм и. т. д.

Метод испытаний:

1. Подготавливается необходимое оборудование:

а) Электроизмерительный прибор (микроамперметр) с внутренним сопротивлением не более 100 Ом класса точности не ниже 0,5;

б) Фотометрическая скамья, обеспечивающая перемещение фотоэлемента вдоль ее оптической оси от 0,2 до 3,0 м; точность измерения расстояния между нитью накала лампы и светочувствительной поверхностью фотоэлемента ±0,5 мм; защита фотоэлемента от попадания отраженного и постороннего света;

в) Вольтметр и амперметр класса точности не ниже 0,2 по ГОСТ 8711;

г) Монохроматор для видимой области спектра;

д) Регулятор напряжения для установления и поддержания режима питания светоизмерительной лампы;

е) Светоизмерительная лампа по ГОСТ 10771, поверенная при цветовой температуре источника А (или 2800 °К);

ж) Источник постоянного или стабилизированного переменного тока для питания светоизмерительной или рабочей лампы.

Все приборы и оборудование должны соответствовать требованиям действующих стандартов или технической документации, утвержденной в установленном порядке. Приборы должны иметь удостоверение о поверке.

2. Все испытания фотоэлементов (если это специально не оговорено) проводят при температуре (20 ± 5) °С.

3. Для измерения спектральной чувствительности собирают схему согласно рисунок 1.2, фотоэлемент и светоизмерительную или рабочую лампу устанавливают так, чтобы плоскость нити накала лампы и поверхность светочувствительного элемента были расположены перпендикулярно оптической оси фотометрической установки.

Рисунок 1.2 - Схема для определения кривой спектральной чувствительности

4. Напряжение на светоизмерительной или рабочей лампе во время измерений должно быть постоянным и соответствовать значению, указанному в свидетельстве на лампу, при этом отклонение силы тока в лампе от значения в свидетельстве не должно превышать 0,2% (с учетом поправки на питание измерительных приборов).

5. Перед началом измерений светоизмерительная или рабочая лампа должна быть прогрета в течение 5 мин при ее рабочем напряжении.

6. У выходной щели монохроматора помещают образцовый и испытуемый фотоэлемент поочередно. Ширина щелей монохроматора должна быть одинаковой для обоих фотоэлементов. Для каждого фотоэлемента замеряют величину фототока для соответствующих волн, указанных в таблице 3.

Таблица 1.3 – Допустимые отклонения в спектральной чувствительности в зависимости от длины волны излучения

Относительную спектральную чувствительность испытуемого фотоэлемента для соответствующей длины волны в % вычисляют по формуле:

где   - чувствительность образцового фотоэлемента для волны   в %;  - величина фототока испытуемого фотоэлемента в микроамперах;  - величина фототока образцового фотоэлемента в микроамперах. По вычисленным значениям   строят кривую спектральной чувствительности.

7. Спектральную чувствительность проверяют не реже одного раза в год и результаты проверки записывают в удостоверение на фотоэлемент.

Выводы:

Информационная карта предприятия позволила ознакомиться с деятельностью компании «Хевел», оценить ассортимент предлагаемых изделий и выбрать наиболее подходящее для выполнения отчёта. Кроме того, изучая по диаграмме «Осьминог» предоставляемые услуги и возможности компании, было установлено, что ввиду своей уникальности на рынке России, компания занимается всеми направлениями деятельности, связанными с солнечной энергетикой и смежными областями, формируя устойчивые связи с поставщиками и потребителями (отмеченные в информационной карте предприятия), и постепенно расширяя географию филиалов, настраивает производство на экспорт за рубеж.

Матрица характеристик позволила установить, что продукт является востребованным ввиду отсутствия явных недостатков, однако, возможно предположить, что в случае, если появится альтернативный вариант компонента с большим показателем КПД, то потребитель предпочтет его даже при наличии недостатков в виде большего веса, не компактных размеров, и. т. п. В связи с этим, особую важность приобретает вопрос о качестве изготавливаемой продукции, потому как отклонения от технологии и наличие даже мельчайших дефектов напрямую влияют на конечное значение КПД.

Составленный регламент по измерению характеристик качества содержит перечень устройств, указания по подготовке и настройке оборудования для измерения спектральной чувствительности, а также рекомендуемый период поверки.