17.Инфрадефектоскопия.

Основана на применении электромагнитных волн инфракрасного спектра излучения. Контроль осуществляется, в проходящих, отраженных лучах инфракрасного цвета. Этим методом контролируются дефекты в изделиях, которые нагреваются в процессе работы.

Дефектные участки в изделиях изменяют тепловой поток, и проходящие инфракрасные лучи регистрируют изменение теплового потока, теплочувствительными приемниками. На этом принципе основаны измерительные системы типа термопоинт, тепловизоры.

18.Инфракрасная интроскопия.

В основе этого метода лежит тепловое внутривидение, которое позволяет анализировать внутреннюю структуру радиоэлектронных элементов, в большей степени полупроводниковых. Наличие в полупроводниках малейших примесей резко ухудшает их свойства. Интроскопы позволяют контролировать монокристаллы проводников, находить нарушение структуры и микротрещины внутри объекта. Основой метода является регистрация инфракрасного потока, проходящего через объект.

19.Рентгеноскопия.

Основана на поглощении рентгеновых лучей, которое зависит от плотности среды и атомного номера элемента образующих материал исследуемой среды, наличие таких дефектов как трещины, раковины, и инородные включения приводят к изменению энергии, проходящей рентгеновой волны, интенсивность рентгеновой волны, регистрирующаяся несколькими методами.

Метод фотографии дает изображение дефекта на пленке или фотопластине.

Визуальный метод основан на наблюдении изображения дефекта на флоурис.

20.Электронно-оптический метод.

Позволяет наблюдать за изображением дефекта с помощью телевизионной аппаратуры. Чувствительность метода рентгенодефектоскопии определяется отношением протяженности дефекта в направлении просвечивания к толщине детали и для разных материалов составляет от 1 до 10%, поэтому рентгенодефектоскопия применяется для определения раковин, грубых трещин, ликвационных включений, в литых, сварных, стальных изделиях от 80 до 250 мм.

21.Радиоволновой м-д

Основан на взд-е ЭлМ поля в диапозоне волн от 1 до 100 мм с об-том кон-ля. Различают след разновидности м-да: амплитудный применяется для анализа р-ров изделий из радиопрозрачных м-лов, к-лируемые п-ры от 1 до 100 мм; фазовый применяется в толщинометрии листовых м-лов и п/ф из диэл-их м-лов при измерении р-ров от 50 до 0,05 мм; геометрический – при анализе д-тов сложной конструкции изделий и глубины залегания д-тов в пределах до 500 мм; временной – в толщинометрии конструкции и дефектоскопии сред диэл-ков , время регистрации сигнала от наносекундного до секундного диапозона; спектральный – для дефектоскопии п/ф из радиопрозрачных м-лов, изменения в структуре и физико-химических св-в данных м-лов; поляризационный – анализ д-тов структуры и технологий, вызывающих анизотропию св-в м-лов; голографический – в дефектоскопии узлов и агрегатов изделий из разнородных м-лов с созданием объемного изображения.