13.Электростатический м-д

применяется для анализа структуры м-ла. Особенность м-да закл в возникновении электростатического поля ИО при его помещении в рабочее электростатическое поле. Если д-ты отсутствуют, то, за счет накопления зарядов, на пов-ти об-та не возникает разность потенциалов. Если д-ты имеются, то между электродами и ИО разность потенциалов возникает.

14.Оптический метод

Он подразделяется на след разновидности: визуальный, предназначенный для внеш опр-я деф-тов фор-мы изделия; визуально-оптический – дефектоскопия, осущ с помощью микроскопов и проектирующих устройств. Предназначен для опр-я деф-тов, размеров изделия и отклонения от заданной ф-мы; фотометрический, предназначенный для конт-ля парам-ров тонких пленок, контролируется интенсивность излучения, отраженных или пропускаемых лучей света; рэф-лексометрический, предназначенный для конт-ля шероховатости пов-ти изделия, с его помощью конт-лируется коэф-т отражения света от пов-ти; денсиметрический, предназначенный для конт-ля оптической плотности прозрачных м-лов, с его помощью регистрируют коэф-т пропускания световых волн; нефе-лометрический, применяемый для к-ля п-ров структуры кристаллов, опр-ют коэф-т рассеивания, концентрация включений; рефракционный, предназначенный для анализа оптических сред, определяют пок-ли преломления; интерферометрический, применяемый для к-ля толщины шероховатости и р-ров изделия из оптически прозрачных м-лов; дифракционный, предназначенный для к-ля р-ров тонких волокон, ф-мы острых кромок, р-ров отверстий; спектрометрический, предназначенный для к-ля спектральных х-к изделий в проходящем и отраженном свете; поляризационный, предназначенный для конт-ля поляризации напр-й в прозрачных средах, анализ ст-ни поляризации источника света; стробоскопический, применяемый для конт-ля д-тов подвижных об-тов; галографический, предназначенный для к-ля геометрических п-ров об-тов сложной формы.

15.Гаммадефектоскопия.

Имеет ту же физическую основу, что и рентгенодефектоскопия, разница в том, что используются гамма лучи инициируемые искусственными радиоактивными изотопами различных металлов (иридий, кобальт, европий, тантал, цезий и др.) при этом энергия гамма лучей на порядок выше энергии радиоактивного излучения, что позволяет проводить дефектоскопию на толстостенных объектах более 250 мм. Применяется так же, когда рентгенодефектоскопия не эффективна и когда обеспечивается биологическая защита при контроле.

16.Радио-дефектоскопия.

Основана на проникновении микрорадиоволн, позволяющих обнаруживать дефекты на поверхности изделий из неметаллических материалов. Этот метод может так же применяться для определения дефектов в стальных листах проволоке, процессе их изготовления, а так же дефекты покрытий листовых материалов и объемных объектов.

В качестве информационного сигнала является ослабление энергии электромагнитной волны радиочастотного диапазона, а так же регистрация отраженной волны от границы раздела дефект – основной материал.