- •1.Базовые единицы системы си.
- •1.Основные и производные единицы измерения с-мы си.
- •Основными единицами Международной системы единиц си (si) являются:
- •Производными единицами Международной системы единиц являются:
- •3)Электронная оптика является основным инструментом в электронных мик-
- •3)Обратный термоэлектрический эффект.В спае из 2 проводников с разным ко-
- •1.Реализация единицы температурной шкалы
- •3. Магното-электр. И электро-магнитный эффекты.
- •3. Термоэлектр. И терморезистивный эффекты.
- •2.Обратный пьезо-электрический эффект.
- •1.Мех.В немех.
- •2. Электронно-лучевая оптика
- •3. Единицы температурной шкалы
- •1.Основы методов визуализации узи
- •2)Методы визуализации узв классифицируются на:
- •2) Электронно-лучевая оптика
- •3)Механические испытания материалов.
- •3. Обратный пьезо-электр. Эффект.
- •Вторичные преобразов. Механич. Воздействий в немеханические.
- •Магнитоэлектрический и электромагнитный эффект.
3)Обратный термоэлектрический эффект.В спае из 2 проводников с разным ко-
личеством электронов в проводимости под действием под действием приложен-
ной разности потенциалов происходит съём тепла из спая с понижением темпе-
ратуры этого спая.В основе эффекта привалирование энергии температуры
Пельтье над энергией температуры Джоуля-Ленца,которые зависят от величины
тока во 2-ой степени.
рисунок
Q=I^2*R*t – Джоуля-Ленса
Q=I*K*t
К-коэффициент Пельтье который устанавливает соотношение между концент-
рацией электрона проводимостив применяемых проводниках.Эффект проявляя-
ется если разность потенциалов приложенная к концам проводников обеспе-
чивает электродвижущую силу по направлению из проводника с высокой кон-
центрацией электронов проводимости в сторону проводника с низкой концент-
рацией.Применяется в измерительных сиситемах для регистрации параметров
электрических цепей в качестве измерительного сигнала применяется изменение
температуры спая.
Билет 5
1.Реализация единицы температурной шкалы
При создании эталона единицы температурной шкалы были рассмотрены 4 вида измерительных систем: 1. температурная шкала Цельсия, 2. Фаренгейта, 3. Реомюра, 4. Кельвина.
Шкала Цельсия имеет 2 опорные точки (физические явления которые положены в основу шкалы измерительной системы; нижняя точка (НОТ) – температура замерзания воды 0о, верхняя (ВОТ) – температура кипения 100о.
Температурная шкала Фаренгейта имеет НОТ – температура замерзания воды, ВОТ – температура человеческой крови. Этот диапазон был разбит на 32 деления и относительно нижней опорной точки шкала была опущена так же на 32 деления. Таким образом температура замерзания воды по Фаренгейту = 42.
По температурной шкале Реомюра за единицу принято объемное расширение воды на одну сотую объема. НОТ - точка замерзания воды, ВОТ – 86о температура кипения воды.
Температурная шкала Кельвина имеет в качестве НОТ абсолютный ноль – когда прекращается движение всех частиц, входящих в состав структуры проводников. Эта температура практически недостижима. В качестве базовой опорной точки принята тройная точка воды, когда она находится в житком, твердом и газообразном состоянии.
Поэтому в системе СИ за основную температурную шкалу принята шкала Кельвина.
2. УЗВ дефектоскопия
В основе этого метода лежит особенность прохождения ультразвуковых волн по объему контролируемого объекта. Существует 4 разновидновидности УЗВ дефектоскопии:
1 ) в продольных волнах;
2) в поперечных волнах; (рисунок)
3)в поверхностных волнах;
4) в сдвиговых волнах.
В основе измерительного сигнала лежит изменение амплитуды УЗВ, проходящей через исследуемый объект, если дефект из более плотного материала чем остальной, в этой зоне происходит уменьшение амплитуды УЗВ, чем в основном материале; если дефект имеет меньшую плотность, то в этой зоне амплитуда проходящей волны более высокая. Существуют 2е разновидности: теневой эффект – когда излучатель и приемник находятся на противоположных сторонах от объекта; и эхо эффект – когда приемник и излучатель находятся по одну сторону от объекта и измерительный сигнал получается в отраженной волне за счет разности в скорости прохождения прямой и отраженной волны от дефекта и от противоположной стороны объекта, а также за счет разницы во времени прохождения.
Для повышения информативности УЗВ дефектоскопии применяют метод УЗВ в спектроскопии. В основе лежит способ получения информации за счет изменения амплитудных, частотных и фазовых характеристик проходящих и отраженных УЗВ. С помощью этого метода получают информацию о величине объекта, его плотности, о глубинных залеганиях.