2) Электронно-лучевая оптика

Применяется для исследования микроструктуры материалов и ее дефектов на уровне атомного ядра и узл-х атомов кристал. решетки. Дефекты твердых тел обычно определяются наличием дислакаций- дефекты на уровне крист. решетки. Основой электр.-луч. оптики является электронные пушки , входящие в конструкцию электр.-луч. микроскопов. В отличии от ренг. излуч. электроны основного пучка, попадая в исследуемый материал взаимодействуют с электронами, входящими в атомную структуру исследуемого объекта. При соударении с электронами основной структуры первичные электроны отражаются, меняя угол и передают часть энергии основным электронам. За счет этого происходит нагрев электронной структуры за короткий промежуток времени. Измерительный сигнал при электронной оптике получает в виде ослабления потока электронов, проходящих через исследуемый объект. В технологических целях поток электронов применяется для различных видов обработки материалов (термообработка, упрочнение, резка и сварка). При исследовании структуры, чем выше плотность дефекта, тем интенсивнее отражение электронов от частиц основного материала и меньше электронов проникает через объект и наоборот.

3) эффект Джозефсона В электротехнике действовал основной закон-закон Ома,который имеет определённую погрешность,связанную с физической неопределенностью.для уточнения был разработан стандарт напряжения,основанный на эффекте Джозефсона.он заключается в том,что в 2х проводниках,разделённых изолятором,толщиной 10в минус девятой степени метров и находящихся при температуре 4,2К,возникает высокочастотный ток,частота 10в 7степени Гц при разности потенциалов принятой за 1В.

Билет 20

1)Вихрево-токовый эффект заключается в том, что в массивных проводниках помещенных в магнитное поле катушки индуктивности под действием усилий возникает вихревой то в тонком поверхностином поле.Этот скин-слой составляет сотые доли ммпоэтому величина тока может достигать до 1А. Эти преобразования применяются для измерения усилий среней величины.

2) Рентгеновская дефектоскопия.в основе метода лежит ослабление электромагнит.волн радиоактивного излучения,проходящ.по объему контролируемого объекта. За счет поглощения эл.магнитных волн определяется размеры и плотность тела.

Если струк-ра однородная интенсивность излучения пройденного через объект является равномерной.

Если плотность деф-та выше плотности основного материала на экранная появляется светлые пятна.

Если деф-кт структуры в виде пустых полостей регистрируются зоны потемнения.

Принцип действия рентгеновской трубки.

За счет термоэлектрич. Эмиссии появляется электронное облако и поток электронов.Электроны покидают катод. обретают ускорение и разность потенциалов, затем соударяются с анодом . Формируется вторичный поток радиационного излучения в виде α,β,γ,обладающие высокой проникающей способностью. попадая на исслед. объект часть ускорения поглощается материалом ,часть отражается, и большая часть проходит через него.