- •1.Особенности радиоконструкций аиус
- •2.Требования к конструкциям аиус
- •3.Элементная база и поколения
- •5.Виды конструкций интегральных схем (ис), используемых в аиус.Полупроводниковая ис, пленочная ис, гибридная интегральная схема (гис)(определения).
- •6.Элемент, компонент ис. Микросборка, микроблок (определения).
- •7.Возможности реализации резисторов и конденсаторов, транзисторов и диодов в полупроводниковом и пленочном исполнении. (?!?!)
- •8.Тонкопленочные и толстопленочные гис. Характеристики, области использования.
- •9.Методы изготовления тонкопленочных и толстопленочных гис.
- •10.Подложки гис. Требования, материалы.
- •11., 13 Проводники и контактные площадки тонкопленочных гис.
- •12. Пасты толстопленочных гис. Последовательность нанесения слоев.
- •14. Тонкопленочные резисторы. Основные характеристики. Коэффициент формы. Возможные формы резисторов.
- •17.Полная относительная погрешность изготовления тонкопленочного резистора.
- •18. Последовательность расчета тонкопленочного резистора.
- •20.Тонкопленочные и толстопленочные конденсаторы. Форма, материалы. Расчет конденсатора.
- •21. Компоненты гис. Бескорпусные полупроводниковые приборы. Виды выводов.
- •22.Компоненты гис. Навесные конденсаторы, используемые в гис. Формы, характеристики, группы по температурному коэффициенту емкости (тке).
- •23.Выбор размеров подложки.
- •24.Размещение компонентов на плате. Операции крепления на подложке и присоединения компонентов к контактным площадкам.
- •25.Корпуса гис. Операции при размещении гис в корпусе.
- •26. Конструкторская документация гис. Особенности оформления чертежа «Плата».
- •27. Конструкторская документация гис. Особенности оформления чертежа «Плата. Сборочный чертеж».
10.Подложки гис. Требования, материалы.
Подложки 1)Должны иметь минимальную шереховатость 2)Используют керамику и сетал 3)Перед нанесением тщательная очистка: а)кипечение в растворе перекиси водорода,амиака и дисцилированной воды в течение 20 минут б)промывка в дист воде(Н20) в)кипечение в дист воде г)сушка в парах спирта д) при 200 градусах цельсия в вакууме
11., 13 Проводники и контактные площадки тонкопленочных гис.
Проводники обеспечивают соединение пленочных элементов и навесных компонентов.
Контактные площадки предназначены под монтаж выводов ГИС, под монтаж ЭРЭ (навесных транзисторов, диодов..). Контрольные КП необходимы для контроля параметров схемы, технологические КП – для контроля адгезии.
Требования и материалы проводников и КП ГИС
Хорошая адгезия подложки
Высокая электрическая проводимость
Высокая коррозионная стойкость и химическая
Технологичность материала.
Проводники и КП тонкопленочных ГИС являются двух-трехслойными структурами.
1слой – подслой (Хром, нихром),толщина 100-500А=10-50 нм
2 слой – основной (проводящий) Р(ро)s меньше или равно 0.1 ом на квадрат
D=50-100 нм
3 слой – защитный (Au, Ag, Ni) D=50-1000 нм
Ширина проводников bmin=0.05 мм
Контактные площадки под выводы ГИС 1х1 мм
Выводы – медная проволока макри ММ диаметра 0.1 мм
Контактные площадки под выводы компонентов 0.5х0.5мм
КП под шариковые-столбиковые выводы – 0.15х0.15 мм
Для тонкопленочных схем минимально допустимые расстояния между проводниками а=0.5мм
Для толстопленочных ГИС bmin=0.1мм P(ро)s=0.05 ом на квадрат. Проводники выполняются из проводящих паст
Аmin=0,3мм(в одном слое), Аmin=0,4мм(в разных слоях)
Для межслойной изоляции ПД1 С=160 пФ на сантиметр квадрытный, КП под гибкие выводы (0.5х0.5мм)
12. Пасты толстопленочных гис. Последовательность нанесения слоев.
Все пасты на 2/3 состоят из основного материала, который определяет их характеристики, и на треть из растворителей и органических веществ для вязкости. Проводящие и резистивные из золота, серебра, платины, индия, осмия, сплавов, многокомпонентных составов. Для резисторов рутений и сплавы с ним, для диэлектриков керамику, межслойную изоляцию делают с использованием стекла
Последовательность слоев при производстве толстопленочных ГИС следует выбирать такой, чтобы каждая последующая операция имела более низкую температуру вжигания сравнению с предыдущей.
После очистки и отжига платы на нее наносят и вжигают поочередно проводящие, диэлектрические и резистивные пасты:
проводники и контактные площадки, нижние обкладки конденсаторов - при
t =750...800°С;
2) формирование слоя диэлектрика (конденсаторы)и изоляции в местах пересечения проводников - при t =700...750°C;
3) проводящие элементы на слой диэлектрика (верхние обкладки конденсаторов к пленочные перемычки)- при t =700...720°С;
4) защитный слой диэлектрика - при t =620...650°С;
5) формирование резисторов (максимальное число резистивных слоев, выполненных из пест с различным удельным сопротивлением квадрата резистивной пленки, равно 3) - при t =600. ..650°С.
Необходимо стремиться к разработке конструкции с минимальным количеством слоев. Разработка последовательности слоев заканчивается составлением таблицы слоев.