- •3.1 Потенц барьер на пов-ти. Работа выхода.
- •3.2 Термоелектронна емісія та її закони.
- •3.3 Термоелектронна емісія при наявності електричного поля (ефект Шотткі). Електростатична (автоелектронна ) емісія.
- •3.4 Фотоелектронна емісія і її закони. Характеристика і параметри фотоелектронної емісії.
- •3.5 Вторичная электронная эмиссия.
- •3,8 Рух електрона в однорідному магнітному полі. Магнітні лінзи
- •3.9 Влияние объемного заряда на прохождение электрического тока в двухэлектродных системах
- •3.11 Термічне вакуумне напилення.
- •3,13 Іонне легування. Фізичні основи.
- •3.10. Іонізація атомів газу. Види ел. Розряду в газі
- •Электричество. При дальнейшей откачке светящийся шнур размывается и расширяется, и свечение заполняет почти всю трубку. Применяется в люминесцентных лампах.
- •3.12 Термічне окислення кремнію
- •3.14.Оптична та рентгенівська літографія.
- •3.15 Отримання кристалів із розплавів. Метод Чохральского
- •3.16 Кристаллизационные процессы
- •3.19 Технологія дифузійного легування.
- •3.20 Катодное распыление,
- •3.7 Движение электрона в неоднородном электрическом поле (фокусирование и рассеивание электронного потока). Электростатические линзы.
Электричество. При дальнейшей откачке светящийся шнур размывается и расширяется, и свечение заполняет почти всю трубку. Применяется в люминесцентных лампах.
3.12 Термічне окислення кремнію
Процесс оксидирования интенсифицируемый нагревом до высоких температур принято называть термическим оксидированием. Кремний обладает большим сродством с кислородом. На тщательно очищенной поверхности кремния уже при комнатной температуре образуется пленка SiO2 (диоксид кремния толщиной 10-15 ангстрем) поэтому термическое оксидирование в любом случае проводится на поверхности с уже существующей тонкой оксидной пленкой. Этапы термического оксидирования:
1) доставка окислителя к подложкам и адсорбция их поверхностью
2) диффузия окислителя сквозь пленку SiO2 к поверхности кремния
3) хим взаимодействие с образованием оксида 4) удаление продуктов реакции.
С корость оксидирования определяется самым медленным этапом диффузионного проникновения окислителя сквозь растущую пленку оксида. Коэффициенты диффузии сильно зависят от температуры, повысить скорость роста можно либо увеличив давление в камере либо повышением температуры процесса. Достоинства процесса: простота, легкая управляемость, высокое качество пленок. Недостатки: высокая температура подложки может приводить к увеличению концентрации дефектов в исходных структурах, невысокие скорости роста, высокий уровень механич напряжений. Для получения высоких скоростей роста оксидирование выполняют в парах воды при темпратуре 600-700 С0 и давл 5 МПа. Скорость роста пленки при этом достигает 0,15 мкм в час. Процесс наз гидротермальное оксидирование
3.14.Оптична та рентгенівська літографія.
Процесс литографии:
1.формирование слоя резиста .
-подготовка поверхности подложки;
-нанесение слоя резиста;
-термообработка.
2.формирование резистивной контактной маски.
-передача топологического рисунка на слой резиста
-совмещение и экспонирование
-проявление
-термообработка
3.передача топологического рисунка с маски на материал формируемого слоя структуры.
-травление или нанесение материала (пленка металла)
удаление резистивной маски
Оптическая литография.
Для стандартной фотолитографии применяют фоторезисты чувствительны к УФ. Фоторезист — это полимерные композиции в которых входит пленкообразные и фоточувств. компоненты, растворители и спец. добавки. Фотохим. процессы, происходит в фоторезисте под действием УФ, можно разделить на 2 этапа. 1 стадия – световой, происходит разрушение слабых хим. связей в молекуле под действием кванта света и образуется свободный радикал. На 2 стадии - тепловой, протекают реакции приводящие к деструкции молекулярных цепей полимеров, либо наоборот, структур тушевания молекул в прочную сетку. В результате этого стойкость облученных участков к воздействию проявителя уменьшается или возрастает. Фотошаблоны являются основным элементом фотолитографии, с их помощью производят локальные облучения фотослоя. Фотошаблон для изготовления структур микросхем—плоско параллельная пластина с прозрачного для УФ материала с нанесенным на ее рабочую поверхность непрозрачных пленочных рисунком соответствующий топологии одного из слоев микросхем и монокристалла повторяемым со строго
Определенным шагом в пределах рабочей области пластины.
Рентгеновская литография.
В рентгено-литографии экспонирование выполняется рентгеновским излучением с длиной волны от 0,4 до 5 нм. Рентгеновское излучение получают путем облучения мишени электронным пучком в зависимости от характера взаимодействия ускоренных электронов с атомами облучаемого вещества, могут возникать 2 типа излучения- белое и характеристическое. Белое- вызывается торможением электронов при их воздействии с электронами внешних оболочек. Характеристическое- возникает при взаимодействии электронов с электронами внешних оболочек в результате чего последнее либо переходит на внешние оболочки либо покидают атомы.