- •3.1 Потенц барьер на пов-ти. Работа выхода.
- •3.2 Термоелектронна емісія та її закони.
- •3.3 Термоелектронна емісія при наявності електричного поля (ефект Шотткі). Електростатична (автоелектронна ) емісія.
- •3.4 Фотоелектронна емісія і її закони. Характеристика і параметри фотоелектронної емісії.
- •3.5 Вторичная электронная эмиссия.
- •3,8 Рух електрона в однорідному магнітному полі. Магнітні лінзи
- •3.9 Влияние объемного заряда на прохождение электрического тока в двухэлектродных системах
- •3.11 Термічне вакуумне напилення.
- •3,13 Іонне легування. Фізичні основи.
- •3.10. Іонізація атомів газу. Види ел. Розряду в газі
- •Электричество. При дальнейшей откачке светящийся шнур размывается и расширяется, и свечение заполняет почти всю трубку. Применяется в люминесцентных лампах.
- •3.12 Термічне окислення кремнію
- •3.14.Оптична та рентгенівська літографія.
- •3.15 Отримання кристалів із розплавів. Метод Чохральского
- •3.16 Кристаллизационные процессы
- •3.19 Технологія дифузійного легування.
- •3.20 Катодное распыление,
- •3.7 Движение электрона в неоднородном электрическом поле (фокусирование и рассеивание электронного потока). Электростатические линзы.
3.4 Фотоелектронна емісія і її закони. Характеристика і параметри фотоелектронної емісії.
Если на пов-ть какого-либо металла падает поток эл-магн излучения, то оно частично отражается, частично поглощается. Та часть, которая поглощаеся, может привести к возниновению новых эл-нов в зоне электрической проводимости, т. е. увелчить общую электропроводность металла. Это явление – фотопроводимость или фотоэффект.У пп и диэлектриков может увеличивать электропроводность в несколько раз. При поглощении квантов света в твёрдом теле могут также появляться эл-ны с настолько большой энергией, которые могут преодолеть пов-ть, т. е. потенциальный барьер, тем самым оказаться эмитированными. Это явление – внешний фотоэффект или фотоэлектронная эмиссия.
Закон Эйнштейна: max E фотоэлектронной эмиссии прямопроцонален частоте излучения и не зависит от его интенсивности.
- закон Эйнштейна
, - красная граница фотоэффекта
- работа выхода если между катодом и анодом приложено поле
Характеристики и параметры фотоэлектронной эмиссии.
1.Фотоэлектронная чувствительность , - фотоэлектрический ток насыщения, - поток падающего изучения
Если измеряется в эл./квант, то это увантовый выход фотоэлектронной эмиссии – квантовая чувствительность.
Распределение по спектру излучения возбуждаюего света – спектральная характеристика. Форма её зависит от того, что использовано при построении: квантовая чувствительность ~I при (постоянном числе фотонов) или при (постоянной энергии света).
Спектральная чувствительность , где - мощность выделенного участка излучения. Рассмотрим для Т=0к.
Характеристика начинается с , когда энергия фотона достаточна для того, чтобы вырвать эл-н с уровня Ферми. При увеличении для вырывания эл-нов будут доступны нижележащие уровни и эмиссия будет расти. Но будет расти в замедленном темпе, т. к. густота уровня уменьшается по мере приближения ко дну потенциальной ямы металла и эл-нов на ней находится меньше.
Когда для вырывания доступны все эл-ны из зоны проводимостиметалла, и квантовая чувствительность должна перестать зависеть от . Однако согласно квантовой механике акт поглощения энергии уменьшается при увеличении . По этой причине кривая начинает снижаться при .
И сходя из спектральной характеристики фотоэл чувствительности можно сказать, что все металлы обладают селективным поглощением, т. е. имеют максимальную фотоэлектронную эмиссию в определённом интервале длин волн. Для собственных пп необходимая для возникновения , - внешняя работа выхода, - ширина запрещённой зоны.
Термоэлектронная работа выхода
Для примесных пп
3.5 Вторичная электронная эмиссия.
Если на пов-ть металла падает поток эл-нов, обладающих большой энергией, то наблюдается идущий от этой пов-ти новый встречный поток эл-нов – вторичная эмиссия.
К оэффициент вторич эмиссииs зависит от энергии первичных электронов.
П роцессы, определяющие вторич эмиссию, протекают не на пов-ти эмиттера, а внутри. Первичные эл-ны проникают внутрь металла и на своём пути передают энергию встречающимся на пути эл-нам металла. Если энергия эл-нов которые получили энергию от соударений, будет достаточна для совершения работы выхода, то они покинут металл(расположенные недалеко от пов-ти). А эл-ны, расположенные вдали от пов-ти, не покинут эмиттер т.к. им недостаточно энергии для выхода или они сталкиваются с атомами и отдают им энергию. Предельная глубина, двигаясь с которой, эл-ны ещё могут выйти из ме, наз предельная глубина диффузии. Вторичная эмиссия сильно зависит от угла падения вторичных эл-нов на пов-ть. При увеличении угла увеличивается число вторич эл-нов в пределах глубины , в следствие чего увеличивается s.