Добавил:
Upload
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз:
Предмет:
Файл:Lab-7.doc
X
- •Определение характеристик структуры металл-полупроводник вольтфарадным методом
- •Определение характеристик структуры металл-полупроводник вольтфарадным методом
- •1. Контакт металл-полупроводник.
- •1.1. Образование контакта металл-полупроводник
- •1.2. Область пространственного заряда
- •1.3. Емкость области пространственного заряда
- •1.4. Влияние поверхностных состояний
- •1.5. Ограничения вольтфарадного метода
- •1.6. Погрешность измерений
- •2. Экспериментальная часть
- •2.1. Измерительная установка
- •2.2. Образец для измерений
- •2.3. Подготовка к проведению измерений
- •2.3. Проведение измерений
- •2.3.1. Проведение реальных измерений, опция «Измерения».
- •2.3.2. Использование опции «Результаты»
- •2.3.3. Проведение виртуальных измерений (опция «Имитация»)
- •2.4. Завершение измерений
- •3. Требования к отчету.
- •4. Требования техники безопасности.
- •5. Контрольные вопросы
- •Основная литература.
- •Дополнительная литература.
Основная литература.
К.В.Шалимова. Физика полупроводников. 4-е изд., «Лань», Москва, 2010.
Гуртов В. А., Осауленко Р. Н., Физика твердого тела для инженеров, Москва: «Техносфера», 2007.
А. И. Ансельм. Введение в теорию полупроводников. «Лань», Санкт-Петербург, 2008.
Дополнительная литература.
Г.И.Епифанов. Физические основы микроэлектроники. «Советское радио», М., 1971.
Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]