- •Реактивные методы ионного травления.
- •4. Катодное распыление – Физические основы процесса и простейшая схема установки. Преимущества и недостатки метода по сравнению с термическим вакуумным напылением.
- •Технология изготовления коммутационных плат на основе многослойной керамики.
- •7. Эпитаксия. Гетероэпитаксия, автоэпитаксия. Схема реактора и протекание процесса. Дефекты эпитаксиальных слоев.
- •Гомоэпитаксия (автоэпитаксия)
- •9. Термическое вакуумное напыление: Упрощенная схема внутрикамерного устройства. Основные преимущества и недостатки метода. Факторы определяющие структуру и свойства получаемый тонких пленок.
- •11.Технология изготовления коммутационных плат на металлическом основании. Технология изготовления коммутационных плат на основе анодированного алюминия
- •14.Этапы технологического процесса формирования многоуровневых межсоединений толстопленочной коммутационной платы.
- •17. Классификация технологических процессов изготовления коммутационных плат. Основные этапы изготовления коммутационных плат во всех типовых технологических процессах.
- •18.Ионно-плазменное травление. Ионно-лучевое травление.
- •20. Электронолитография. Возможности процесса.Рентгенолитография, особенности процесса.
- •21. Классификация методов литографии. Использование процессов литографии в производстве имс.Особенности процесса проекционной фотолитографии.
- •22.Операция совмещения. Виды знаков совмещения, последовательность их формирования.
- •23.Технологические операции процесса литографии. Схема процесса контактной фотолитографии.
- •24.Сущность процесса ионной имплантации; схема рабочей камеры.
- •25.Физические основы процесса ионной имплантации, характер торможения ионов при ионной имплантации, эффект каналирования; необходимость отжига
- •26.Термическая диффузия: Последовательность технологических операций процесса диффузии, схема оборудования для проведения процесса, основные легирующие элементы.
- •2. Двухстадийный процесс (для всего остального).
- •28. Термическая диффузия: Физические основы процесса, механизмы диффузии примесей, законы Фика.
- •29. Укрупненная схема технологического процесса изготовления диффузионного транзистора. Последовательность формирования топологических слоев полупроводникового транзистора.
- •30. Классификация имс по технологическому методу изготовления. Параметры, характеризующие сложность имс. Топология имс. Общая топология и послойная топология. Понятие технологической совместимости.
- •31. Интегральная микросхема. Термины и определения. Элемент микросхемы, компонент микросхемы. Подложка имс. Кристалл имс. Контактная площадка имс. Корпус имс. Бескорпусная имс.
14.Этапы технологического процесса формирования многоуровневых межсоединений толстопленочной коммутационной платы.
Для пояснения сущности процесса воспользуемся рис. 7.30. Вместо циклов «осаждение тонкой пленки в вакууме — фотолитография» в данном случае используются циклы «нанесение пасты через трафарет — сушка — вжигание», а подложку заменяют на керамическую — термостойкий прочный материал.
Для формирования многоуровневой системы используют проводящую и диэлектрическую пасты. Поскольку толщина межслойной изоляции в 2—3 раза превышает толщину проводящего слоя, для получения качественных контактных переходов проводят предварительно одно- или двукратное нанесение проводящей пасты в окна изолирующего слоя по циклу «нанесение пасты через трафарет — сушка» (без вжигания). На заключительном этапе изготовления платы аналогичный прием используют для формирования монтажных площадок, которые впоследствии облуживают лудящей пастой.
Следует подчеркнуть, что в многоуровневых системах вжигание паст в керамику происходит лишь на границе нижнего проводящего и нижнего изолирующего слоев с подложкой. Прочность сцепления последующих слоев друг с другом обеспечивается за счет расплавления в них низкотемпературного стекла и затем отвердения.
15. Фотолитографический процесс производства тонкопленочных коммутационных плат. Опишите последовательность операций фотолитографического метода формирования элементов конфигураций коммутационной платы, содержащей резисторы и проводники.
Формирование слоев (уровней) тонкопленочной платы выполняется на общей подложке из электроизолирующего материала (ситалл, поликор и др.) путем повторяющихся циклов осаждение тонкой пленки в вакууме — фотолитография. Из рис. 7.30 следует, что осажденный сплошной слой электропроводящего металла (чаще всего алюминия) после фотолитографии превращается в систему проводников, перпендикулярных плоскости чертежа. В этой системе предусматривают расширенные площадки для контактных переходов на следующий уровень. В осажденном затем в вакууме изолирующем слое с помощью фотолитографии получают окна для контактных переходов, и вновь осаждается электропроводящий слой, в котором фотолитографией формируют систему проводников, ортогональных к нижележащим. При этом через окна в изолирующем слое создается контактный переход. Эти циклы повторяются вплоть до последнего, верхнего уровня металлизации. В последнем изолирующем слое вскрываются Рис 7.30. Структура тонкопленочной лишь окна над монтажными пло-коммутационной платы (нижние уровни) щадками: для электромонтажа компонентов и периферийными площадками для монтажа микросборки в целом в модуле следующего уровня (например, на ГШ ячейки).
Нетрудно заметить, что с первого же цикла обработки в многоуровневой системе возникает и развивается рельеф, создающий ступеньки в изолирующих и проводящих слоях (на рис. 7.30 отмечены кружками). Эти участки являются потенциальной причиной отказа: в первом случае — пробоя изоляции, во втором — разрушения проводника.
16.Масочный процесс производства тонкопленочных коммутационных плат. Опишите последовательность операций масочного метода формирования конфигураций элементов коммутационной платы, содержащей резисторы, проводники, пересечения пленочных проводников и конденсаторы.
Сохранение плоскостности покрытий на каждом этапе обработки обеспечивает применение в качестве изолирующих слоев оксида алюминия (АЬОз), получаемого путем окисления алюминиевого покрытия в электролите. В зависимости от режимов электролитического окисления (анодирования) можно с малой скоростью роста получить пленку оксида алюминия с высокими электрическими свойствами или ускоренно получить пленку с пониженными электрическими свойствами. В первом случае плотную пленку получают на мягких режимах (малые плотности тока) и используют для изоляции смежных уровней проводников. Во втором случае пористую пленку формируют на форсированных режимах (высокие плотности тока) и используют для изоляции соседних проводников одного уровня, причем снижение пробивной напряженности пленки компенсируется увеличением толщины (точнее — ширины) пленки (U^=E^ d).
На рис. 7.31 показана последовательность формирования первого цикла обработки. После осаждения на подложку 1 сплошного слоя алюминия 2 на поверхности формируют фотомаску 3, рисунок которой соответствует рисунку промежутков между будущими проводниками. Выполнив на мягких режимах избирательное анодирование алюминия, получают тонкий (около 0,2 мкм) и плотный слой 4 А120з (рис. 7.31, а). Далее (рис. 7.31, б) фотомаску удаляют и выполняют анодирование на форсированных режимах на всю толщину пленки 5 (маской при этом служит тонкий плотный слой окисла). Путем фотолитографии (рис. 7.31, в) уда- Рис> 7л. Последовательность формирова-ляют участки тонкого окисла, не ния коммутационной платы на основе ано-защищенные фотомаской б, для дарованного алюминия (нижние уровни)
создания контактных переходов и напыляют (рис. 7.31, г) следующий сплошной слой алюминия 7 (второй уровень металлизации). Затем описанный цикл повторяется.