- •Содержание:
- •Исследование полупроводниковых приборов
- •1.1.1 Исследование полупроводниковых диодов
- •Теоретическая часть
- •Типы полупроводниковых диодов и их характеристики. Выпрямительные плоскостные низкочастотные диоды
- •Импульсные диоды
- •Диоды Шотки
- •Туннельный диод
- •Практическая часть
- •Контрольные вопросы:
- •1.1.2 Исследование стабилитрона
- •Теоретическая часть
- •Принцип стабилизации напряжения
- •Параметры стабилитрона
- •Практическая часть
- •Контрольные вопросы
- •1.1.3 Исследование характеристик и параметров биполярного транзистора в схемах с общей базой, общим эмиттером и общим коллектором
- •Теоретическая часть
- •Принцип действия и схемы включения транзистора
- •Статические характеристики
- •Малосигнальные параметры
- •Практическая часть
- •Методика измерений и обработка результатов эксперимента
- •Контрольные вопросы
- •1.1.4 Исследование характеристик и параметров полевых транзисторов
- •Теоретическая часть
- •Классификация и условные обозначения полевых транзисторов
- •Полевой транзистор с управляющим p – n переходом
- •Статические характеристики
- •Полевые транзисторы с изолированным затвором
- •Основные параметры полевых транзисторов
- •Области применения полевых транзисторов
- •Практическая часть
- •Методика измерений и обработка результатов эксперимента
- •Контрольные вопросы
- •1.1.5 Исследование тиристоров
- •Теоретическая часть
- •Диодные тиристоры. Структура и принцип действия.
- •Триодные тиристоры.
- •Уравнение вах тиристора.
- •Классификация, условные обозначения и применение тиристоров.
- •Практическая часть
- •Методика измерений и обработка результатов эксперимента
- •Контрольные вопросы
- •1.1.6 Исследование варикапа
- •Теоретическая часть
- •Теория p-n перехода
- •Диффузионная и барьерная емкости р-n-перехода
- •Варикап, его основные параметры и особенности конструирования
- •Практическая часть
- •Контрольные вопросы
- •Исследование выпрямителей однофазного переменного тока
- •Теоретическая часть
- •Основные параметры выпрямителей
- •Внешние характеристики выпрямителей
- •Практическая часть
- •Однополупериодная схема выпрямления.
- •1.2.2 Двухполупериодные схемы выпрямления.
- •1..2.3 Схемы выпрямления с умножением напряжения.
- •Методика измерений и обработка результатов эксперимента
- •Контрольные вопросы
- •Исследование колебательных контуров.
- •Теоретическая часть
- •Принцип работы пассивных аналоговых фильтров
- •Принцип работы активных аналоговых фильтров
- •Применение
- •Виды фильтров
- •Фильтры нижних частот
- •Фильтры высоких частот
- •Полосовые и заграждающие фильтры
- •Практическая часть
- •Контрольные вопросы
- •1.4 Исследование свойств терморезисторов
- •Теоретическая часть
- •Термистор
- •Как элемент автоматики, позистор может выполнять следующие функции:
- •Практическая часть
- •Контрольные вопросы
- •1.4 Исследование свойств варисторов
- •Теоретическая часть
- •Свойства
- •Применение
- •Практическая часть`
- •Контрольные вопросы
- •1.6.1 Исследование оптоэлектронных приборов.
- •Теоретическая часть
- •Физические основы работы фотодиода
- •Отличительные особенности оптронов
- •Обобщенная структурная схема
- •Применение
- •Практическая часть
- •Контрольные вопросы
- •Список использованных источников
Практическая часть
Измерение статических характеристик ПТУП КП 103 (на стенде VT3). Собрать схему для исследования рис.15.
Таблица 2
, В |
,mA |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Снять две характеристики передачи (сток – затворные) при двух напряжениях на стоке и . Результаты измерений занести в таблицу 2.
Снять семейство выходных характеристик при трех значениях напряжения на затворе: . Данные занести в табл. 3.
Таблица3:
|
, mA |
||
, В |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Собрать схему для измерения статических характеристик МДП - транзистора с индуцированным каналом КП 304 А (на стенде VT4) по рис.16.
, В |
, mA |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Снять две сток – затворные характеристики МДП – транзистора КП 305 А при напряжениях на стоке и результаты измерений занести в таблицу 4.
Снять семейство выходных характеристик при трех значениях напряжения на затворе . Значения выбирать по сток – затворной характеристике, снятой в п. 5, так, чтобы наименьшее значение соответствовало току стока , наибольшее значение соответствовало току , а третье значение выбрать средним между двумя первыми: . Данные занести в таблицу 5.
Таблица 5:
|
, mA |
||
, В |
, В |
, В |
, В |
|
|
|
|
|
|
|
|
Методика измерений и обработка результатов эксперимента
При выполнении п.2 следует изменять от 0 до напряжения отсечки (см. рис.7). Число точек на графике должно быть 8 …10.
По данным таблицы 2 построить характеристики передачи транзистора КП 103. Определить из графика .
При выполнении п.п. 3, 6 экспериментальные точки вносить в таблицы 3 и 5 и сразу же отмечать на приготовленных в расчетной части задания графиках. Необходимо следить, чтобы точки не выходили за пределы области разрешенных режимов работы транзистора.
По нанесенным на график точкам построить семейство выходных характеристик транзисторов.
По данным табл. 4 построить графики сток – затворных характеристик транзистора КП 305 .
Определить при токе стока , мкА. Измерения следует начать с этой точки, увеличивая затем . При этом следить, чтобы ток стока не превышал допустимого значения ( ).
По сток – затворной характеристике транзистора КП 103 определить ее крутизну в рабочей точке: ; . Для расчета крутизны использовать формулу (2.25) в конечных приращениях.
На семействе выходных характеристик, снятых в п.3, проведите границу между крутым и пологим участками, пользуясь соотношением (2.14).
По выходным характеристикам определите внутреннее сопротивление транзистора по формуле (2.26) в следующих рабочих точках:
в режиме насыщения , ;
в линейном режиме (крутая часть ВАХ) при и трех значениях .
Результаты занести в таблицу.
Таблица 6:
, В |
, кОм |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
По сток – затворным характеристикам МДП - транзистора определить крутизну (2.25) характеристики в рабочей точке ; , определенному в п. 5. По найденному значению вычислить удельную крутизну по формуле (2.24).
На семействе выходных характеристик МДП – транзистора провести границу крутого и пологого участков ВАХ пользуясь соотношением (2.19).
По выходным характеристикам МДП – транзистора вычислить сопротивление транзистора (2.26) в следующих рабочих точках:
в режиме насыщения , ;
в линейном режиме при и трех значениях , , , определенных в п.5. Данные расчета свести в таблицу, подобную таблице 6.
Исследования транзисторов КП301, КП304, КП305 проводятся аналогично исследованию КП303.