- •9.8 Электрические модели полевых транзисторов статическая модель
- •9.9 Нелинейная динамическая модель Полевого Транзистора с управляющим p-n-переходом
- •9.10 Малосигнальная модель полевого транзистора с управляющим p-n-переходом
- •Поэтому на схеме для тока генератора надо было бы записать, что
- •Модуль крутизны
- •9.11 Нелинейная динамическая модель мдп-транзистора
- •9.12 Малосигнальная модель мдп транзистора.
- •Шумы Полевых Транзисторов
- •Шумы пт с управляющим p-n-переходом:
- •2 Шумы мдп-транзисторов
- •10 Приборы с зарядовой связью
- •10.1 Применение пзс
- •11 Полупроводниковые элементы
- •11.1 Особенности интегральных транзисторов и диодов
- •11.2 Интегральный n-p-n-транзистор
- •11.3 Интегральные многоэмиттерные транзисторы
- •11.4 Комплектарные интегральные пары транзисторов
- •11.5 Интегральный транзистор с барьером шотки
- •Эквивалентная схема интегрального транзистора с барьером Шотки представлена на рис. 11.8
- •11.6 Интергральный p-n-p-транзистор
- •11.7 Интегральные диоды
- •11.8 Интегральные полевые транзисторы
- •11.9 Интегральные мдп – транзисторы
- •12.2 Инжекционный лазер
- •12.3 Режим работы лазера, его кпд и особенности
- •12.4 Инжекционные лазеры на основе гетеропереходов
- •12.5 Генераторы с двойной гетероструктурой
- •Гетеролазеры с распределенной обратной связью
- •12.7 Полупроводниковые лазеры с возбуждением
- •12.8 Лазеры в технике связи и системах обработки информации
- •12.9 Типы лазерных систем связи
- •12.10 Методы детектирования оптических сигналов
- •12.11 Структурная схема оптического
- •12.12 Виды модуляции лазерных сигналов
- •12.13 Структурная схема
- •Виды лазеров, применяемые в лазерных
- •Структурная схема газового лазера
- •Варисторы, вах, параметры
- •Вах варистора
- •14. Термисторы, вах
- •15 Оптоэлектронные приборы
- •15.1 Фотоприемники, излучатели
- •15.2 Фотоэлементы. Принцип действия, вах
- •Лавинные фотодиоды. Структура, принцип действия
- •Полевые фототранзисторы.
- •Фототиристоры. Структура, принцип действия
- •Оптоэлектронные приборы. Индикаторы информации
- •Полупроводниковые датчики температуры.
- •Терморезисторы
- •16.2 Применение полупроводникового диода
- •Определение температурного коэффициента
- •Применение биполярного транзистора для измерения температуры
- •Датчик температуры на двух идентичных
11.5 Интегральный транзистор с барьером шотки
Осуществляется управление полярностью коллектора с помощью диода. В данной структуре оригинально решена задача сочетания транзистора с диодом Шотки: алюминиевая металлизация, обеспечивающая омический контакт с p-слоем базы, продлена в сторону коллекторного n-слоя (рис. 11.7). На первый взгляд, коллекторный слой оказался закороченным со слоем базы.
На самом деле алюминиевая полоса образует с p-слоем базы невыпрямляющий, омический контакт, а с n-слоем коллектора выпрямляющий контакт Шотки. Данное структурное решение можно использовать и в многоэммитерном транзисторе МЭТ. В обоих случаях отсутствуют накопление и рассасывание избыточных зарядов и получается выигрыш в 1,5 – 2 раза во времени переключения транзисторов из полностью открытого в закрытое состояние.
Эквивалентная схема интегрального транзистора с барьером Шотки представлена на рис. 11.8
Когда транзистор заперт или работает в активном режиме, потенциал коллектора положителен относительно базы; следовательно, диод находится под обратным смещением и не влияет на работу ключа. Когда в процессе формирования фронта потенциал коллектора относительно базы проходит через нуль и делается отрицательным, диод отпирается и на нем устанавливается прямое напряжение Uд+. Если это напряжение меньше 0,5 В, то коллекторный переход практически заперт, а значит, исключается режим двойной инжекции и накопление избыточного заряда, свойственные режиму насыщения. Соответственно при запирании ключа будут отсутствовать этап рассасывания избыточного заряда и задержка среза.
11.6 Интергральный p-n-p-транзистор
Эмиттерный
и коллекторный слои получаются на этапе
базовой диффузии, причем коллекторный
слой охватывает эмиттер со всех сторон
(рис. 11.9). Это позволяет собирать
инжектированные дырки со всех боковых
частей эмиттерного слоя. Приповерхностные
боковые участки p-слоев характерны
повышенной концентрацией примеси, что
способствует увеличению коэффициента
инжекции. Поскольку базовая диффузия
сравнительно мелкая (2-3 мкм), ширину базы
удается сделать порядка 3-4 мкм. В
результате предельная частота может
составлять до 20-40 МГц, а коэффициент
усиления до 50. Из рис.11.9 видно, что
горизонтальный p-n-p-транзистор является
бездрейфовым, т.к. его база о
днородная
– эпитаксиальный n-с
P
n
Горизонтальная структура позволяет легко осуществить многоколлекторный р-n-р-транзистор: достаточно разделить кольцевой р-коллектор на n-частей и сделать отдельные выводы от каждой части. Коэффициент усиления по каждому из коллекторов будет примерно в n раз меньше, чем для единого коллектора, но все коллекторы будут действовать «синхронно»; а нагрузки, присоединенные к ним, будут изолированы – «развязаны» друг от друга.
Главные недостатки горизонтального р-n-р-транзистора – сравнительно большая ширина базы и ее однородность. Эти недостатки можно устранить в вертикальной структуре за счет дополнительных технологических операций.
На рис. 11.10 представлена структура - вертикального р-n-p-транзистора.