- •9.8 Электрические модели полевых транзисторов статическая модель
- •9.9 Нелинейная динамическая модель Полевого Транзистора с управляющим p-n-переходом
- •9.10 Малосигнальная модель полевого транзистора с управляющим p-n-переходом
- •Поэтому на схеме для тока генератора надо было бы записать, что
- •Модуль крутизны
- •9.11 Нелинейная динамическая модель мдп-транзистора
- •9.12 Малосигнальная модель мдп транзистора.
- •Шумы Полевых Транзисторов
- •Шумы пт с управляющим p-n-переходом:
- •2 Шумы мдп-транзисторов
- •10 Приборы с зарядовой связью
- •10.1 Применение пзс
- •11 Полупроводниковые элементы
- •11.1 Особенности интегральных транзисторов и диодов
- •11.2 Интегральный n-p-n-транзистор
- •11.3 Интегральные многоэмиттерные транзисторы
- •11.4 Комплектарные интегральные пары транзисторов
- •11.5 Интегральный транзистор с барьером шотки
- •Эквивалентная схема интегрального транзистора с барьером Шотки представлена на рис. 11.8
- •11.6 Интергральный p-n-p-транзистор
- •11.7 Интегральные диоды
- •11.8 Интегральные полевые транзисторы
- •11.9 Интегральные мдп – транзисторы
- •12.2 Инжекционный лазер
- •12.3 Режим работы лазера, его кпд и особенности
- •12.4 Инжекционные лазеры на основе гетеропереходов
- •12.5 Генераторы с двойной гетероструктурой
- •Гетеролазеры с распределенной обратной связью
- •12.7 Полупроводниковые лазеры с возбуждением
- •12.8 Лазеры в технике связи и системах обработки информации
- •12.9 Типы лазерных систем связи
- •12.10 Методы детектирования оптических сигналов
- •12.11 Структурная схема оптического
- •12.12 Виды модуляции лазерных сигналов
- •12.13 Структурная схема
- •Виды лазеров, применяемые в лазерных
- •Структурная схема газового лазера
- •Варисторы, вах, параметры
- •Вах варистора
- •14. Термисторы, вах
- •15 Оптоэлектронные приборы
- •15.1 Фотоприемники, излучатели
- •15.2 Фотоэлементы. Принцип действия, вах
- •Лавинные фотодиоды. Структура, принцип действия
- •Полевые фототранзисторы.
- •Фототиристоры. Структура, принцип действия
- •Оптоэлектронные приборы. Индикаторы информации
- •Полупроводниковые датчики температуры.
- •Терморезисторы
- •16.2 Применение полупроводникового диода
- •Определение температурного коэффициента
- •Применение биполярного транзистора для измерения температуры
- •Датчик температуры на двух идентичных
15.2 Фотоэлементы. Принцип действия, вах
П олупроводниковый фотоэлемент – полупроводниковый прибор с p-n переходом, предназначенный для прямого преобразования световой энергии в электрическую (рис.15.5). Фотоэлементы представляют собой фотодиоды, работающие без источника внешнего напряжения и создающие под действием излучения собственную ЭДС. Такой режим работы называется вентильным или фотовольтаическим. Принцип работы фотоэлемента состоит в том, что электрическое поле перехода разделяет неравновесные носители разного знака.
В режиме холостого хода внешняя цепь разорвана (Rн=), поле определяется только контактной разностью потенциалов. Появляющийся обратный дырочный ход через переход из – за разделения носителей при отсутствии внешней цепи будет приводить к тому, что p – область заряжается положительно относительно n – области. Это нарушение равновесия означает появления разности потенциалов, которая связана с наличием неравновесных носителей, вызванных действием света. Эта разность потенциалов противоположна по знаку контактной разности потенциалов, т.е. понижает потенциальный барьер в переходе. Снижение барьера не влияет на движение не основных носителей, но вызывает увеличение потока основных носителей областей: электронов из n – области в p – область и дырок из p – области в n – область. Таким образом, в переходе появляется встречный ток дырок. Понижение барьера будет происходить до тех пор, пока результирующий дырочный ток не достигнет нулевого значения, т.е. пока не уравняется встречный дырочный составляющий ток.
С овершенно также происходит выравнивание противоположных по направлению электронных токов. Установившиеся в результате этого процесса превращения (убыль) высоты потенциального барьера эквивалентно прямому напряжению U и называется напряжением холостого хода Uxx или ЭДС фотоэлемента. Это значение Uxx можно измерить на зажимах фотоэлемента при Rн. Если освещенный фотоэлемент замкнут на резистор Rн, то в цепи установится ток I, величина которого определяется как фотоэлементом, так и сопротивлением резистора. Такие вольтамперные характеристики соответствуют IV квадранту на рисунке. Точка, лежащая при заданном потоке Ф на оси напряжений (I=0), дает значение фото ЭДС (Uxx). При Rн = 0 точка, лежащая на оси токов, соответствует току короткого замыкания Iкз. Промежуточные точки при заданном Ф находятся путем измерения тока в цепи и напряжения на зажимах фотоэлемента при заданном Rн. Изменяя Rн от 0 до , получаем нагрузочную ВАХ (рис. 15.6).
Фотоэлемент, с помощью которого преобразуют солнечную энергию в электрическую, называют солнечным преобразователем. Используют также термины "солнечные батареи" и "солнечные элементы". КПД солнечных батарей невысок (12%). И это связано с отражением части излучения от поверхности полупроводника, с некоторым поглощением света, с рекомбинацией носителей на поверхности и в объеме полупроводника, потерями мощности при прохождении тока через сопротивление базы фотоэлемента. При хорошо отработанной технологии солнечные кремневые батареи могут давать КПД до 20% и развивать мощность до нескольких киловатт.
Солнечные батареи – основные источники питания на космических кораблях, автоматических метеостанциях. Практическое применение солнечных батарей непрерывно возрастает.
15.3 P-i-n ФОТОДИОДЫ. СТРУКТУРА, ПРИНЦИП ДЕЙСТВИЯ
В оптических линиях связи, системах воспроизведения звука с компакт – дисков и других устройствах требуются фотоприборы с высоким быстродействием. К фотоприборам, обладающим малой инертностью, относятся p-i-n – фотодиоды и лавинные фотодиоды. В p-i-n – фотодиоде на подложке n+ сформирован слаболегированный i – слой и слой p+ толщиной до 0,3 мкм (рис. 15.7). При подаче обратного напряжения обедненным оказывается весь i – слой. В результате емкость перехода уменьшается, расширяется область поглощения падающего излучения и повышается чувствительность прибора. Поглощаемое излучение в структуре затухает по экспоненте в зависимости от коэффициента поглощения и вызывает появление фотовозбужденных носителей. Электрическое поле обедненного слоя ускоряет носители до скорости насыщения. За пределами обедненного слоя носители двигаются диффузионно с относительно низкой скоростью. За счет этого быстродействие несколько снижается, поэтому необходимо сконцентрировать поглощение излучения в обедненном слое, что достигается особенностями структуры p-i-n – диода (слой p+ делают очень тонким, а слой i – больше длины поглощения излучения).