- •Введение
- •Часть 1. Масс-спектрометрический метод анализа
- •Масс-спектрометрия. Последовательность операций при масс-анализе
- •1.2. Ионнооптические системы в масс-спектрометрии
- •1.2.1. Движение ионов в продольном электрическом поле
- •1.2.2. Движение ионов в поперечном электрическом поле
- •1.2.3. Движение ионов в радиальном поле цилиндрического конденсатора
- •1.2.4. Электростатические линзы
- •1.2.5. Движение ионов в продольном однородном магнитном поле
- •1.2.6. Движение ионов в однородном поперечном магнитном поле
- •1.2.7. Фокусирующие свойства однородного магнитного поля π-радиан
- •1.2.8. Фокусирующие свойства магнитных полей произвольной конфигурации
- •1.2.9. Принцип фокусировки ионов с помощью искривленной границы секторного магнитного поля
- •1.3. Хроматическая абберация
- •1.4. Практическое осуществление ионнооптических систем
- •1.5. Основные характеристики масс-спектрометрических приборов
- •1.5.1. Линейная дисперсия ионов по массам
- •1.5.2. Разрешающая способность масс-спектрометрических приборов.
- •1.5.3. Чувствительность и светосила масс-спектрометров
- •6. Ионные источники для масс-спектрометров
- •Основные требования к ионным источникам
- •1.6.2. Возможные методы ионизации. Типы источников
1.2.4. Электростатические линзы
Электростатические линзы представляют собой устройства, создающие систему искривленных эквипотенциальных поверхностей, наподобие оптических линз. Подобные устройства способны фокусировать ионные пучки при наличии высокого вакуума.
В данном случае эквипотенциальные поверхности электростатического поля будут являться для ионов преломляющими поверхностями. Если данное поле имеет кривизну, то оно действует на ионный пучок как оптическая линза.
П ростейшую электростатическую линзу можно получить с помощью
д
α
В точке А находится источник ионов, Е1 и Е2-напряженности электрического поля.
Собирающее или рассеивающее действие линзы, образованной
диафрагмами, зависит от величины потенциалов U, прикладываемых на эти диафрагмы.
На рисунке 7 приведены примеры электростатических линз, а рядом показаны их оптические аналоги.
На рисунке 7а, при (U2 -U1) > (U1 - U0) имеем собирающую электростатическую линзу, а на рисунке 7б, при (U0 -U1) > (U1 - U2)-рассеивающую электростатическую линзу.
Т
а)
б)
Такие линзы широко используются в ионных источниках масс-спектрометров для фокусировки ионных пучков.
1.2.5. Движение ионов в продольном однородном магнитном поле
Как уже отмечалось, все существующие источники ионов дают слаборасходящийся ионный пучок, что ведет к появлению искажений при регистрации ионных токов. Появляется необходимость фокусировки таких пучков.
α
а)
б)
r
Предположим, что в точке А расположен точечный источник ионов. Рассмотрим сечение, плоскость которого расположена внутри соленоида и направлена вдоль его оси X (рисунок 8б).
Будем считать, что начальный вектор скорости υ0. Тогда его составляющая υy = υ0 Sin α, благодаря лоренцовской силе, приведет к вращению иона по окружности в плоскости YAZ (рисунок 8а) по закону
(14)
где r-радиус вращения иона, H-напряженность магнитного поля внутри соленоида.
В результате поступательного и вращательного движений ион будет перемещаться по винтовой линии. Совершив полный оборот, он опять возвратится на ось в токе К.
Абсцисса XК точки К находится из условия:
, (15)
где τ- время движения иона от точки А до точки К.
Время τ является также временем движения иона по замкнутой окружности радиуса r
. (16)
Рассматривая пучок ионов, выходящих из точки А, мы получаем в точке К "изображение" точечного ионного источника. Таким образом, величина XК есть фокусное расстояние f нашей магнитной системы
. (17)
Если менять величину H при q=const, то можно приводить сфокусированные ионы разной массы в разные точки на оси X, т.е. производить разделение ионов по массам.
Рассмотренные свойства магнитного поля можно использовать как для фокусировки, так и для разделения ионов. Но надо иметь при этом в виду, что источник и приемник ионов необходимо помещать внутри соленоида, а это вызывает конструкционные трудности.