- •210202 – Проектирование и технология электронно-вычислительных средств,
- •140609 – Электрооборудование летательных аппаратов,
- •140610 – Электрооборудование и электрохозяйство предприятий, организаций и учреждений
- •Рецензенты:
- •Предисловие
- •1. Основные сведения о физических явлениях и процессах в полупроводниковых структурах
- •1.1. Основные понятия и уравнения твердотельной электроники
- •Температурный потенциал
- •Закон действующих масс
- •1.2. Электронно-дырочный переход
- •1.2.2. Образование переходов методом диффузии.
- •1.3. Структура "металл-полупроводник"
- •1.4. Структура "металл-диэлектрик-полупроводник"
- •2. Состав индивидуального задания
- •Заключение
- •Библиографический список и требования к нему
- •4. Варианты индивидуальных заданий
- •4.1. Электронно-дырочный переход Варианты 1.1 – 1.12
- •Варианты 2.1 – 2.12
- •Варианты 3.1 – 3.5
- •Варианты 4.1 – 4.5
- •4.2. Структура металл-полупроводник Варианты 5.1 – 5.5
- •4.3. Структура металл-диэлектрик-полупроводник Варианты 6.1 – 6.5;
- •5. Некоторые Примеры расчетов электрофизических характеристик полупроводниковых структур
- •Решение
- •Решение
- •Решение
- •Решение
- •Решение
- •Решение
- •Приложения п 1. Соотношения между некоторыми физическими единицами. Множители для образования дольных и кратных единиц
- •П 2. Некоторые физические постоянные
- •П 3. Основные параметры и свойства некоторых полупроводников и диэлектриков, применяемых в твердотельной электронике
- •П 4. Логарифмический масштаб
- •П 9. Темы рефератов
- •210202 – Проектирование и технология электронно-вычислительных средств,
- •140609 – Электрооборудование летательных аппаратов,
- •140610 – Электрооборудование и электрохозяйство предприятий, организаций и учреждений
5. Некоторые Примеры расчетов электрофизических характеристик полупроводниковых структур
Пример 1. В германиевом рn-переходе удельная проводимость р-области σр=104 См/м и удельная проводимость n-области σn=102 См/м. Подвижности электронов μn и дырок p в германии соответственно равны 0,39 и 0,19 м2/(Вс). Концентрация собственных носителей в германии при Т=300 К составляет ni=2,51019м-3. Вычислить контактную разность потенциалов (высоту потенциального барьера) при Т=300 К.
Решение
Для материала р-типа σp=qρpр. Отсюда концентрация дырок в p-области
рр=σp/(qр)=104/(0,191,610-19)=3,291023м-3.
Аналогично для материала n-типа
nn=σn/(qn)=100/(0,391,610-19)=1,61021м-3.
Концентрация дырок в n-области
pn=пi2/пп=(2,51019)2/(1,601021)=3,911017м-3.
Тогда контактная разность потенциалов
Пример 2. Используя данные и результаты расчетов задачи из примера 1, найти плотность обратного тока насыщения, а также отношение дырочной составляющей обратного тока насыщения к электронной, если диффузионные длины для электронов и дырок Ln = Lp = 110-3м.
Решение
Плотность обратного тока насыщения
.
Из предыдущей задачи
рп=3,911017м-3;
np=ni2/рр=1,91015м-3.
Используя соотношение Эйнштейна
Dp=(kT/q)p и Dn=(kT/q) .
Следовательно,
Отношение дырочной составляющей обратного тока насыщения к электронной составляющей равно
I0p/I0n=μppnLn/(μnppLp)=0,193,911017/(0,391,91015)=100.
Пример 3. Германиевый полупроводниковый диод, имеющий обратный ток насыщения I0=25 мкА, работает при прямом напряжении, равном 0,1 В, и T = 300 К. Определить: а) сопротивление диода постоянному току R0; б) дифференциальное сопротивление r.
Решение
Найдем ток диода при прямом напряжении (U=0,1 В) по формуле
I=I0exp(qU/kT-1)=
=25∙10-6(exp(1,6∙10-19∙0,1/(1,38∙10-23∙300)-1)=1,17мА.
Тогда сопротивление диода постоянному току
R0 =U/I=0,1/(1,1710-3)=85Ом.
Вычислим дифференциальное сопротивление:
откуда
r=1/(4610-3)=21,6Ом.
Или приближенно, с учетом того, что I>>I0,
откуда
Ом.
Пример 4. В равновесном состоянии высота потенциального барьера сплавного германиевого p–n-перехода равна 0,2 В, концентрация акцепторных примесей NA в p-области много меньше концентрации доноров в ND n-области и равна 31014см-3. Требуется: а) вычислить ширину p–n-перехода W для обратных напряжений Uобр, равных 0,1 и 10 В; б) для прямого напряжения Uпр 0,1 В; в) найти барьерную емкость С, соответствующую обратным напряжениям, равным 0,1 и 10 В, если площадь p–n-перехода S=1 мм2.
Решение
В выражении для расчета ширины ОПЗ резкого p–n-перехода
.
По условию задачи NA << ND, следовательно
.
Таким образом
Выбрав в прил. 3 значение диэлектрической проницаемости германия s , произведем вычисления ширины ОПЗ в заданном p–n-переходе при Uобр =0,1 В
,
и Uобр = 10 В
.
Произведем вычисления ширины ОПЗ в заданном p–n-переходе при Uпр =0,1 В
.
Найдем величину барьерной емкости, используя определение электрической емкости
.
Таким образом, величина барьерной емкости в заданном p-n–переходе при Uобр =0,1 В
,
а при Uобр = 10 В
.
Пример 5. К образцу кремния n-типа сделан золотой контакт, образующий барьер Шоттки. Падение напряжения на контакте "металл-полупроводник" 0=0,5 В. Работа выхода электронов из металла qМ равна 4,75 эВ. Чему равна концентрация легирующей примеси в кремнии. Рассчитать величину максимального значения напряженности электрического поля в области пространственного заряда в кремнии.