- •Экспериментальное исследование светового поля источника видимого излучения
- •Устройство фотометрической головки
- •Необходимые приборы и принадлежности
- •Измерения
- •Определение фокусного расстояния собирательной и рассеивающей линз
- •Определение фокусного расстояния собирательной линзы
- •Если обозначить буквами а и b расстояния предмета и его изображения от линзы, то фокусное расстояние последней выразится формулой
- •Упражнение 2 Определение фокусного расстояния рассеивающей линзы
- •Изучение зрительной трубы Упражнение 1 Определение увеличения зрительной трубы
- •Упражнение 2 Определение поля зрения оптической трубы
- •Упражнение 3 Определение разрешающей способности оптических систем
- •Литература.
- •Лабораторная работа № 4 Исследование дисперсионных свойств стеклянной призмы в области видимого света спектрометром гс-5
- •Упражнение 1 Определение преломляющего угла призмы
- •Определение угла наименьшего отклонения и показателя преломления стеклянной призмы
- •Определение дисперсии и разрешающей силы стеклянной призмы
- •Вопросы по теме
- •Литература
- •Определение длины световой волны с помощь бипризмы Френеля и щелей Юнга
- •Экспериментальная установка. Экспериментальная установка собрана на оптической скамье.
- •Определение длины световой волны с помощью бипризмы
- •Определение длины световой волны с помощью щелей Юнга
- •Определение радиуса кривизны линзы и длины световой волны с помощью колец Ньютона
- •Упражнение 1 Определение радиуса кривизны линзы
- •Упражнение 2 Определение длин волн линий ртути
- •В пределах первого дифракционного максимума располагается интерференционных полос:
- •Упражнение 1 Определение концентрации растворов
- •Исследование зависимости коэффициента преломления газа от давления
- •Измерения
- •Определение длины световой волны с помощью дифракции Френеля на круглом отверстии Введение
- •Описание установки
- •Измерения
- •Изучение дифракционной решетки и определение длины световой волны Введение
- •Описание установки
- •Определение постоянной решетки и ее угловой и линейной дисперсии
- •Литература.
- •Лабораторная работа № 10 Изучение поляризации света
- •Исследование зависимости интенсивности света, прошедшего через два поляроида
- •Вопросы по теме.
- •Лабораторная работа № 11 Определение длины световой волны квантового генератора с помощью эталона Фабри-Перо
- •Распределение интенсивности в полосах интерферометра Фабри-Перо
- •Обработка результатов. На основании трехкратных измерений
- •Примечание
- •Задание
- •Вопросы по теме.
- •Исследование интегральной излучательной способности нагретых нечерных тел как функции температуры Введение
- •Величина
- •Принцип измерения яркостной температуры
- •Устройство и работа пирометра с исчезающей нитью
- •Описание установки и измерения
- •Для нечерного тела значение j можно записать так:
- •Поэтому из (5) и (6) имеем:
- •6. Зная σ, t, n, w, можно по формуле
Описание установки
Оптическая схема для наблюдения явления дифракции сферических световых волн на круглом отверстии изображена на рис.2.
Рис. 2 .
Свет от источника линейчатого спектра S проходит через светофильтр Р и конденсор L и падает на круглое отверстие малого диаметра S, играющего роль точечного источника света. Распространяющиеся от него сферические волны падают на круглое отверстие D, на котором происходит изучаемое явление дифракции света. Далее располагается микроскоп, при помощи которого производятся наблюдения дифракционных картин на разных расстояниях от отверстия.
Практически описанная схема реализуется следующим образом. Приборы расположены на оптической скамье в порядке, соответствующем оптической схеме: осветитель 1, светофильтр 2, конденсор 3, экран с входным отверстием (источник света) 4, экран с дифракционным отверстием 5 и микроскоп 6.
В данной работе используется осветитель ОИ-19. Конденсором служит линза с фокусным расстоянием 35 мм. Входное отверстие, имеющее диаметр 0,05 мм, сделано в тонкой алюминиевой фольге. Дифракционное отверстие имеет диаметр 0,62 мм. За дифракционным отверстием установлен микроскоп. Его можно передвигать вдоль оптической скамьи, а его рейтер имеет специальный вырез с отметкой для отсчета положения микроскопа по масштабной линейке, укрепленной на оптической скамье.
Применяемый в лабораторной установке длиннофокусный микроскоп (М), позволяет наблюдать картину дифракции, образованную как лучами сходящимися в точке, расположенной за дифракционным отверстием (рис.3), так и лучами, как бы выходящими из точки, расположенной перед дифракционным отверстием (мнимая точка), (рис.3б).
Рис. 3а .
Рис. 3б .
Применяя тот же метод Френеля, получите расчетную формулу для второго случая (в литературе не описан).
Измерения
Освещенность центра дифракционной картины в случае дифракции сферических световых волн зависит от числа полностью открытых зон Френеля m, которое определяется по формуле
;
где D – диаметр отверстия;
а и b – расстояние центра отверстия соответственно от источника света (входного отверстия) и от точки наблюдения;
- длина световой волны.
Возможны два варианта изучения рассматриваемого явления. В первом варианте изучается зависимость освещенности центра дифракционной картины от диаметра отверстия при неизменных расстояниях а и b, во втором варианте изучается зависимость освещенности центра дифракционной картины от величины одного из расстояний, а или b, при неизменных величинах другого расстояния и диаметра дифракционного отверстия.
В настоящей работе применен второй вариант, то есть изучается зависимость освещенности центра картины от расстояния b точки наблюдения от отверстия D при фиксированных и известных величинах диаметра отверстия (D=0,62) и расстояния а между ним и входным отверстием. (Расстояние а задается преподавателем).
При измерении для каждого номера зоны определяется не менее 5-ти значений b.
Полученный таким образом ряд пар соответственных значений bm и m используется для вычисления из приведенной выше формулы длины световой волны .
Приступая к работе, включают осветитель. Измерения производятся в следующем порядке. Сначала микроскоп приближают к дифракционному отверстию и добиваются такого положения, при котором края отверстия четко видны в микроскоп. Очевидно, что при этом точка наблюдения совпадает с плоскостью отверстия. Соответствующее положение микроскопа отсчитывают по масштабной линейке, укрепленной на оптической скамье, и полученный отсчет записывают. Этот отсчет в дальнейшем будем называть нулевым, так как при этом расстояние между отверстиями и точкой наблюдения b=0. Затем постепенно отодвигая микроскоп от дифракционного отверстия, наблюдают сначала качественные изменения освещенности центра дифракционной картины.
По мере удаления точки наблюдения от дифракционного отверстия число открытых зон Френеля уменьшается. В описанной выше установке величины диаметра отверстия и его расстояния от источника света (от входного отверстия), а также интервал возможных перемещений микроскопа подобраны таким образом, чтобы при максимальном удалении микроскопа от отверстия была открыта примерно одна зона Френеля.
Учитывая это обстоятельство, легко можно определить число открытых зон Френеля для каждого положения микроскопа, при котором наблюдается экстремум освещенности центра картины. Для этого из наиболее удаленного от отверстия положения микроскопа, при котором открыта одна зона Френеля и в центре картины наблюдается свет, микроскоп нужно постепенно приближать к отверстию.
Первое появление темноты в центре картины будет означать, что полностью открыто две зоны Френеля. Соответствующее положение рейтера микроскопа отсчитывается и записывается. Отсчет производят, убедившись, что темное пятно в центре картины наведено на четкое изображение. При дальнейшем приближении микроскопа к отверстию в центре темного пятна появится светлая точка (рис.4). Это означает, что открыты три зоны Френеля.
Рис. 4 .
Навести картину на четкое изображение и снова сделать отсчет положения микроскопа. Затем сделать отсчет для 4-х и 5-ти открытых зон Френеля.
Итак, берут отсчеты всех последовательных положений рейтера микроскопа, при которых наблюдается экстремальная освещенность центра картины, записывая одновременно число m полностью открытых в этих положениях зон Френеля.
Расстояние каждого из найденных положений точки наблюдения от дифракционного отверстия b, находят, беря разности соответствующих отсчетов положений рейтера микроскопа и нулевого отсчета. Из полученных данных для каждого положения точки наблюдения значений bm и m по расчетной формуле вычисляют длину световой волны.
Аналогичные измерения провести и для мнимой точки.
Данные измерений занести в таблицу 1.
Таблица 1
№ изм. |
Мнимое изображение |
В0 |
Действительное изображение |
|
|||||||
В2 |
В3 |
В4 |
В5 |
В5 |
В4 |
В3 |
В2 |
|
|||
1 2 3 4 5 |
|
|
|
|
|||||||
Ср |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Данные вычислений занести в таблицу 2.
Таблица 2
Bm=BmВ0 |
, Å |
а |
M |
D |
Bm=BmB0 |
|
|
|
2 3 4 5 |
0,62 |
|
ср= ср= |
ВОПРОСЫ ПО ТЕМЕ.
1. В чем заключается принцип Гюйгенса-Френеля?
2. В каких случаях явление можно описать в рамках геометрической оптики и в каких – с помощью теории дифракции?
3. Напишите формулу для радиуса m-ой зоны Френеля.
4. Во сколько раз изменится освещенность в точке А, если между источником и точкой А поставить экран с отверстием, равным радиусу 1-ой зоны Френеля?
5. Покажите на фронте сферической волны 1-ю, 2-ю зоны Френеля.
6. Покажите на фронте плоской волны 1-ю, 2-ю зоны Френеля.
7. С помощью геометрического построения на фазовой плоскости покажите вектор, определяющий освещенность в точке наблюдения от 1; 5 зоны.
8. При каких условиях максимум освещенности 1-ой зоны Френеля располагается на ?
9. При каких условиях максимум освещенности от 1-ой зоны Френеля располагается между источником и экраном с отверстием?
10. Что такое зонная пластинка?
11. В каком случае освещенность будет больше: при зонной пластинке или при собирающей линзе?
ЛИТЕРАТУРА.
1. Г.С.Ландсберг, «Оптика», 1976, §33, стр.150-156. §42, стр.182-184.
2. Д.В.Сивухин, «Оптика», 1980, §§39-40, стр.262-275.
3. Ф.А.Королев, «Курс общей физики», 1974, §§19-21, стр.113-127.
4. А.Н.Матвеев, «Оптика», 1985, §31, стр.208-212, §§33, стр.219-231.
5. И.В.Савельев, «Курс общей физики», 1967, т.3, §§21-23, стр.81-92.
Лабораторная работа № 9