- •Технологія виробництва радіоапаратури
- •Порядковий номер стандарту в групі
- •Ктре . Ххххх . Ххххх Порядковий реєстраційний номер
- •Код організації-розроблювача
- •Обладнання, що використовується для гальванопокриттів
- •Методи переробки прес-матеріалів
- •Пряме пресування
- •Виливальне пресування
- •Лиття під тиском (інжектування)
- •Профільне пресування та шприцювання
- •Види відпалів
- •Матеріали для каркасів
- •Позитивний
- •Негативний
- •Конвейер робочий
- •Конвейер розподільний
- •Конвеєр робочий
- •Конвеєр розподільний
- •Розділ 4. Мікромініатюризація.
- •Методи отримання тонких плівок
- •Основные этапы производства тонкопленочных микросхем (гис).
- •Очистка подложек
- •Контроль технологического процесса нанесения тонких пленок
- •Резка подложек
- •1 Платы толстопленочных гис
- •Структурная схема технологического процесса изготовления толстопленочных гис
- •2 Пасты для толстопленочных гис
- •3 Основные технологические операции изготовления толстопленочных гис
Основные этапы производства тонкопленочных микросхем (гис).
Отличительной чертой производства гибридных тонкопленочных микросхем, безусловно, является тонкопленочная технология, которая на основе использования физических свойств материалов в тонких слоях, позволяет создавать резисторы и конденсаторы, обладающие в ряде случаев лучшими характеристиками по сравнению с одноименными дискретными компонентами.
Методы применяемые в тонкопленочной технологии, называют групповыми, т. к. они позволяют одновременно изготовить все или часть элементов электрической схемы, органически связанных между собой на поверхности подложки. К этим методам относятся процессы получения рисунков с помощью специальных трафаретов и процессы нанесения пленок на подложку.
Таким образом, производства гибридных тонкопленочных микросхем характерны три основных этапа:
-
Изготовление трафаретов.
-
Изготовление пассивной части микросхем.
-
Сборка микросхем.
Последовательность операций технологического процесса изготовления пассивной части микросхемы иллюстрируется схемой.
Схема технологического процесса изготовления пассивной части тонкопленочной микросхемы
Юстировка масок |
|
Очистка подложек |
|
Очистка резистивных испарителей, навесок материалов, рабочей камеры и технол. оснастки |
|
|||||||||||||||||||||||||||
|
|
|
|
|
||||||||||||||||||||||||||||
Нанесение тонких пленок на подложки методом термического испарения или катодного плазменного распыления |
|
|||||||||||||||||||||||||||||||
|
|
|
|
|
||||||||||||||||||||||||||||
|
Получение рисунка методом ф/литографии |
|
Контроль параметров процесса соединения пленок |
|
||||||||||||||||||||||||||||
|
|
|
|
|
||||||||||||||||||||||||||||
Контроль параметров тонкопленочных элементов (R и C) |
|
|
|
|
|
|
||||||||||||||||||||||||||
|
|
|
Контроль степени вакуума в раб. камере |
|
Контроль t0 подложки |
|
Контроль толщины пленки |
|
Контроль скорости осаждения |
|
||||||||||||||||||||||
Подготовка номиналов тонкопленочных элементов микросхемы |
|
|||||||||||||||||||||||||||||||
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||||
Резка подложек на отдельные микросхемы |
|
|||||||||||||||||||||||||||||||
|
Контроль степени вакуума |
|
t0 под-ложки |
|
Толщи-на пленки |
|
Скорость охлаждения |
– Основные операции
– Вспомогательные операции
– Контрольные операции