Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Ядерная физика.doc
Скачиваний:
64
Добавлен:
13.05.2015
Размер:
2 Mб
Скачать

Экспериментальная установка

Установка ФПК-07 позволяет исследовать изменение электропроводности металлов и полупроводников при изменении температуры путем непосредственного измерения электрического сопротивления образцов при нагреве в лабораторной электропечи.

Рис. 5.2. Схема установки ФПК-07:

1 – объект исследования; 2 – измерительное устройство

Устройство и принцип работы

  1. Устройство состоит из электропечи с установленными в ней образцами (объекта исследования) (1) и устройства измерительного (2).

  2. Объект исследования конструктивно выполнен в виде сборного корпуса, в котором установлена электропечь с помещенными внутри образцами, датчик измерителя температуры (термометр сопротивления), вентилятор для работы объекта исследования в режиме охлаждения, источник питания электропечи и вентилятора со схемами управления, а также устройство коммутации и индикации. Электропечь служит для нагрева образцов, температура которых измеряется датчиком измерителя температуры. Вентилятор служит для ускорения охлаждения образцов путем охлаждения электропечи при работе объекта исследования в режиме охлаждения. Источники питания со схемами управления предназначены для питания электропечи и вентилятора и управления их работой с измерительного устройства.

На передней панели корпуса прибора находится окно, которое позволяет наблюдать электропечь и образцы. Переключатель «Образец» предназначен для поочередного подключения образцов (металл - полупроводник) к измерительному входу измерительного устройства.

Положениям переключателя «Образец» соответствует подключение следующих образцов:

  • «2» – полупроводник;

  • «3» – металл (медь).

На передней панели измерительного устройства размещены следующие кнопки управления и индикации:

  • Кнопки «Нагрев» и «Вент» – предназначены для включения и выключения электропечи и вентилятора объекта исследования соответственно.

  • Кнопка «Стоп инд» – предназначена для включения (путем повторного нажатия) режима остановки индикации значений температуры и сопротивления при снятии показаний с индикатора. При повторном нажатии кнопки «Стоп инд» происходит выключение данного режима и на индикаторах снова отображаются текущие значения измеряемых величин.

  • Индикаторы «С» и «ОМ» – предназначены для индикации значений величин температуры и сопротивления образцов в процессе работы.

  • Индикаторы «Нагрев», «Вент» и «Стоп инд» – предназначены для индикации установленных режимов работы.

Принцип действия установки основан на измерении сопротивления образца в процессе его нагрева или охлаждения.

Практические задания

  1. Задавайте температуру нагрева от комнатной температуры до 3300К через 2–3 градуса. Сделайте 20–25 замеров.

2. Снимайте с прибора показания значения сопротивления для металла и полупроводника (путем переключения тумблера на панели макета). Результаты занесите в табл. 5.1. Если положить сечение проводника и его длину равными 1, то p можно заменить на R. (R=p )

3. Постройте температурную зависимость сопротивления металла и полупроводника R1 =f1(T),R2 =f2(T) как функцию температуры.

Таблица 5.1

Т

1/Т

Металл

Полупроводник

R1

= 1/R1

R2

= 1/R2

ln

1

25

4. Используя формулу (5.5) определить энергию запрещенной зоны для полупроводника с собственной проводимостью при высокой температуре.

5. Объяснить характер зависимости сопротивления от температуры для двух различных веществ.

Обработка результатов.

ПРЕОБРАЗУЕМ ВЫРАЖЕНИЕ (5.5)

- прологарифмируем

- приведем данное выражение к линейному виду

=(5.6.)

где - независимая переменная

С – угловой коэффициент

;

Неизвестную величину ΔЕиз выражения (5.5) удобнее искать графическим способом. Для этого его нужно привести к линеаризованному виду. Преобразуем (5.5), получим:

Если сравнить выражение 5.6. с аналитической зависимостью y = сx, то видим, чтоугловой коэффициент который находится из графика, построенного в координатах lnот 1/Т, (рис. 5.3).

Из графика находимtg

Рис. 5.3. График зависимости проводимости полупроводника от температуры в координатах ln , 1/Т

Определите ширину запрещенной зоны данного полупроводника:

Определенные таким образом значения ширины Езапрещенной зоны приведены для некоторых полупроводников в табл. 5.2.

Таблица 5.2

Полупроводник

Sn (серое)

п/п

Ge

Si

Cu2O

ZnO

Е, ЭВ

0,1

0,7

1,1

1,4–1,8

2,2

Полученный результат сравнить с приведенными в табл. 5.2 значениями ширины запрещенной зоны полупроводников (порядок величины).