- •Департамент образования и науки
- •Содержание
- •Лабораторная работа № 1
- •Третий закон для абсолютно черного тела. Закон смещения Вина.
- •Описание экспериментальной установки
- •Методика проведения эксперимента
- •Порядок выполнения работы
- •Методика измерений и обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Описание экспериментальной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Задание 1. Проверка закона Столетова
- •Задание 2. Проверка формулы Эйнштейна
- •Обработка результатов измерений
- •Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Лабораторная работа № 3 соотношение неопределенностей для фотонов
- •Теоретическая часть
- •Описание экспериментальной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов.
- •Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Лабораторная работа № 4 изучение эффекта зеебека (тэдс металлов)
- •Теоретическая часть
- •Рассмотрим подробно рис. 4.3,(в) – область контакта 1-го и 2-го металлов.
- •Описание экспериментальной установки
- •Задание
- •Порядок выполнения работы
- •Для первой пары металлов (м1 – м2)
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Металлы
- •Полупроводники
- •Экспериментальная установка
- •Практические задания
- •Контрольные вопросы
- •Использование полупроводникового диода для измерения е полупроводника
- •Описание экспериментальной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Обратной абсолютной температуре
- •Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Лабораторная работа № 7 изучение закона радиоактивного распада
- •Теоретическая часть
- •Описание экспериментальной установки
- •Методика измерения Задание 1. Определение радиоактивного фона
- •Экспериментальные данные для определения радиоактивного фона
- •Задание 2. Определение постоянной распада
- •Обработка результатов
- •Поглощение -квантов веществом. Свойства -излучения
- •Экспериментальная установка.
- •Методика регистрации -излучения
- •Экспериментальная часть Задание 1. Определение фона
- •Задание 2. Определение коэффициента поглощения
- •Алюминий
- •График зависимости интенсивности поглощения - квантов от толщины образца. Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Лабораторная работа № 10
- •Определение резонансного потенциала
- •Криптона методом франка и герца
- •Теоретическая часть
- •Выводы из опытов франка и герца
- •Резонансный потенциал. Резонансная флуоресценция.
- •Энергия ионизации. Потенциал ионизации.
- •Устройство и принцип работы установки.
- •Методика проведения эксперимента
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •628400, Россия, Ханты-Мансийский автономный округ,
Экспериментальная установка
Установка ФПК-07 позволяет исследовать изменение электропроводности металлов и полупроводников при изменении температуры путем непосредственного измерения электрического сопротивления образцов при нагреве в лабораторной электропечи.
Рис. 5.2. Схема установки ФПК-07:
1 – объект исследования; 2 – измерительное устройство
Устройство и принцип работы
Устройство состоит из электропечи с установленными в ней образцами (объекта исследования) (1) и устройства измерительного (2).
Объект исследования конструктивно выполнен в виде сборного корпуса, в котором установлена электропечь с помещенными внутри образцами, датчик измерителя температуры (термометр сопротивления), вентилятор для работы объекта исследования в режиме охлаждения, источник питания электропечи и вентилятора со схемами управления, а также устройство коммутации и индикации. Электропечь служит для нагрева образцов, температура которых измеряется датчиком измерителя температуры. Вентилятор служит для ускорения охлаждения образцов путем охлаждения электропечи при работе объекта исследования в режиме охлаждения. Источники питания со схемами управления предназначены для питания электропечи и вентилятора и управления их работой с измерительного устройства.
На передней панели корпуса прибора находится окно, которое позволяет наблюдать электропечь и образцы. Переключатель «Образец» предназначен для поочередного подключения образцов (металл - полупроводник) к измерительному входу измерительного устройства.
Положениям переключателя «Образец» соответствует подключение следующих образцов:
«2» – полупроводник;
«3» – металл (медь).
На передней панели измерительного устройства размещены следующие кнопки управления и индикации:
Кнопки «Нагрев» и «Вент» – предназначены для включения и выключения электропечи и вентилятора объекта исследования соответственно.
Кнопка «Стоп инд» – предназначена для включения (путем повторного нажатия) режима остановки индикации значений температуры и сопротивления при снятии показаний с индикатора. При повторном нажатии кнопки «Стоп инд» происходит выключение данного режима и на индикаторах снова отображаются текущие значения измеряемых величин.
Индикаторы «С» и «ОМ» – предназначены для индикации значений величин температуры и сопротивления образцов в процессе работы.
Индикаторы «Нагрев», «Вент» и «Стоп инд» – предназначены для индикации установленных режимов работы.
Принцип действия установки основан на измерении сопротивления образца в процессе его нагрева или охлаждения.
Практические задания
Задавайте температуру нагрева от комнатной температуры до 3300К через 2–3 градуса. Сделайте 20–25 замеров.
2. Снимайте с прибора показания значения сопротивления для металла и полупроводника (путем переключения тумблера на панели макета). Результаты занесите в табл. 5.1. Если положить сечение проводника и его длину равными 1, то p можно заменить на R. (R=p )
3. Постройте температурную зависимость сопротивления металла и полупроводника R1 =f1(T),R2 =f2(T) как функцию температуры.
Таблица 5.1
№ |
Т |
1/Т |
Металл |
Полупроводник | |||
R1 |
= 1/R1 |
R2 |
= 1/R2 |
ln | |||
1 |
|
|
|
|
|
|
|
… |
|
|
|
|
|
|
|
25 |
|
|
|
|
|
|
|
4. Используя формулу (5.5) определить энергию запрещенной зоны для полупроводника с собственной проводимостью при высокой температуре.
5. Объяснить характер зависимости сопротивления от температуры для двух различных веществ.
Обработка результатов.
ПРЕОБРАЗУЕМ ВЫРАЖЕНИЕ (5.5)
- прологарифмируем
- приведем данное выражение к линейному виду
=(5.6.)
где - независимая переменная
С – угловой коэффициент
;
Неизвестную величину ΔЕиз выражения (5.5) удобнее искать графическим способом. Для этого его нужно привести к линеаризованному виду. Преобразуем (5.5), получим:
Если сравнить выражение 5.6. с аналитической зависимостью y = сx, то видим, чтоугловой коэффициент который находится из графика, построенного в координатах lnот 1/Т, (рис. 5.3).
Из графика находимtg
Рис. 5.3. График зависимости проводимости полупроводника от температуры в координатах ln , 1/Т
Определите ширину запрещенной зоны данного полупроводника:
Определенные таким образом значения ширины Езапрещенной зоны приведены для некоторых полупроводников в табл. 5.2.
Таблица 5.2 | |||||
Полупроводник |
Sn (серое) п/п |
Ge |
Si |
Cu2O |
ZnO |
Е, ЭВ |
0,1 |
0,7 |
1,1 |
1,4–1,8 |
2,2 |
Полученный результат сравнить с приведенными в табл. 5.2 значениями ширины запрещенной зоны полупроводников (порядок величины).