Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги / Физические основы прогнозирования долговечности конструкционных материалов

..pdf
Скачиваний:
2
Добавлен:
19.11.2023
Размер:
29.97 Mб
Скачать

Тогда эмпирически наблюдаемое распределение есть

Е (т; т, а, 6) = j Р ( - J -, т ) dW ( ' " У " ) *

(6-68)

Оно зависит от трех параметров: тУа и Ь> которые можно найти с помощью экспериментальных данных по разбросу т, рассмотрев, например, начальные моменты Alrk до 3-го порядка распределения £(т). В этом случае

* = 1, 2, 3,

(6.69) 2Q

Решив алгебраическую систему (6.69), по-' лучим:

т = (1 — z) 42— 1, г — (Мт/Ahf)3 /Их3; b = In [mMx2l(m -J- 1) (Мт)2];

а = In Mr — In m — (6/2).

 

 

(6.70)

Числен­

Зависимость

m(z) приведена

иа рис. 6.6.

ная зависимость

Исходя из вида

графика можно

заключить,

т{1) (6.70)

что т довольно чувствительна к величинам

 

 

эмпирических моментов Мгк. В частности, если моменты

таковы, что z < 0,75, то это свидетельствует о практическом

отсутствии в наблюдаемом распределении термофлукдуа-

ционной компоненты. Значение

г« 0 ,9

позволяет

разбить

об­

ласть изменения т на области

малых

и больших

значении

т9

что важно для качественного анализа.

(6.68).

Рассмотрим влияние величин т и b на распределение

Его коэффициент вариации следующий:

 

WE

1~ л /Ч г + Ч 1+-5Г-)-

(6.71)

Как видно из выражения (6.71), возможны два предельных случая. Сравнивая слагаемые в (6.71), с учетом зависимостей от уо/кТ m и Ь находим, что при

_ут_

(,фИ1Г - О

(6.72)

кт

 

 

 

Wj7 :

—ч2

Wpу

 

пг 12=

 

т. е. распределение ^(т) контролируется термофлуктуаиноииым фактором разброса и близко к Г-распределеиию.

В случае неравенства, обратного (6.72),

w E ж syjb — W w ,

271

и распределение (6.68) является лог-иормальныад, что обуслов­ лено лимитирующим влиянием технологического фактора.

В промежуточном случае разброс т обусловлен действием обоих факторов. Соотношение нх вкладов в разброс следующее:

ft= -J -- =■ V nib ~

V уя/кТ;

(6.73)

технологический разброс больше термофлуктуацнониого, если

6 > 1 .

При обычных испытаньях на долговечность уа/к7'~10°н

условие б > 1

равносильно % ^10“1р1/2. Согласно выражению

Ц"А

(6.73)

доля

технологического

разброса

(при заданном к) тем больше, чем мень­

 

ше р (больше т )у чего и следовало ожи­

 

дать.

 

анализ экспериментальных

\

Проведем

 

данных

по

статистическому

разбросу

\долговечности, исходя из развитого

 

представления

о двух

его факторах —

 

термофлуктуационном

и технологиче­

Рис. 6.7. Схематическая

ском.

Наша

основная

цель — обнару­

силовая зависимость дол­

жить, выделить и оценить величину тер-

говечности УФ-облучае-

мофлуктуационной компоненты.

измене­

мого полимера 208

Для расширения

интервала

 

ния

величины уо/'кТ

используем

также

и результаты испытаний полимеров, подвергнутых иод на­ грузкой ультрафиолетовому (УФ) облучению. Изучению воздействия на долговечность полимеров УФ-облучения по­

священы многие исследования. Мы но

будем проводить сколь-

нибудь детального

обзора полученных

при этом результатов

(он

содержится в

работе

[208]), ограничившись привлече­

нием

сведений, необходимых

для обоснования использования

данных по УФ-облучению при выяснении природы статистиче­ ского разброса. График эмпирической зависимости среднего зна­ чения долговечности полимера при УФ-облучспнн представлен на рис. 6.7 и. как видно, имеет два участка. Установлено, что в области а воздействие УФ нс проявляется, п разрушение но­ сит термофлуктуацпоннын характер, описываемый обычной за­ висимостью (В.З). В области б процесс разрушения лимитиру­ ется нс ожиданием соответствующих тепловых флуктуаций, а благоприятным попа чанном УФ-кванта, разрывающего меж­ атомные связи (возможно путем своеобразной термодеструкции, где роль тепловых флуктуаций играет локальный разогрев за счет поглощения части энергии кгаита света). Эмпирическое выражение для долговечности при этом имеет пил

туф = туф ехр (—ст/ггуф),

(6.74)

272

где т у ф и о у ф — некие параметры, связанные с воздействием

УФ-облучения, причем 0уф^> у/кТ. Принято считать, что наблю­ даемый при УФ-разрушении статистический «разброс частично может быть связан с систематическими ошибками опыта, вы­ званными методическими недостатками, однако главным образом он отражает присущий всем прочностным характеристикам ста­ тистический разброс степени опасности дефектных мест, с кото­ рых начинается разрушение» [208]. Мы полагаем, что указан­ ная совокупность причин образует лишь технологический фак­ тор разброса, который нс является единственным. В области а технологический фактор должен быть дополнен термофлуктуациоиным, а в области б — фактором, обусловленным случайным характером попадания на связь разрушающего ее УФ-кванта. Несмотря на различия в микроскопическом механизме разруше­ ния, характер статистической кинетики в обоих случаях одина­ ков: однородная марковская нспь. Эту общую аналогию можно углубить, сравнивая кинетики накопления продуктов разруше­ ния (свободных радикалов, субмикротрещин и т. д.), которые подобны |208]. Вследствие этого функция распределения долго­ вечности при УФ-разрушсшш должна быть такой же, как и в случае чисто термоактивированиого разрушения, т. е. в ко­ нечном счете распределением Е(т) (6.68). Однако физический смысл и величины параметров изменяются, что соответствует замене в 0

Toexp(f/o/kT) туф; у о / к Т оуф

в «радиационном» случае.

Таким образом, УФ-разрупюнне моделирует кинетику термоактнвированного разрушения и может быть привлечено для проверки предсказаний о виде функции распределения долговеч­

ности (6.68)

зависимостей пг(о/о), Ь(о/о) и др., где теперь

Н

у/кТ

при термоактивированном разрушении;

 

(6.75)

СТуф

при УФ-разрушении.

Помимо этого представляет интерес выяснение собственно характера разброса долговечности УФ-облучаемых образцов.

По развитой выше методике разделения термофлуктуациониого и технологического вкладов нами обработаны опытные данные по разбросу долговечности серий идентичных образцов. В табл. 6.1 приведена информация об образцах (материал, объем серин), условия испытаний (температура всюду комнат­ ная), а также результаты обработки исходных данных: средние значения долговечности Л/т, значения других начальных момен­ тов Мт*, рассчитанные для них по формулам (6.70) значения параметров пи Ьу а и др. Поскольку имеющиеся в нашем рас­ поряжении данные по распределению «обычной» долговечности

18 Зтка.»

248

273

<3

гг

а

к

Информация об образцах и результаты обработки статистических исходных данных

(£L'9)

%‘9

ЕЭ ЧАИ

го *zMV

п '1JV

CUWО

( S ' -9 )

I-B U W

*1-9

1г—1

‘Л

TVиийээ

н eoticBd

- 9 0 OlfDHh

u/u qv

 

 

ID

сэ

N

 

 

О

о"

сч

со"

сч

 

Г'-

сп

CD

 

со

 

со

со

CD

 

 

 

ю

 

 

 

 

 

 

о

 

<хГ

 

 

LD

СО

8

 

 

 

 

—Г

сч"

со

со

со

CD

 

IO

 

сч"

 

СП

 

о

 

 

 

 

 

 

 

О

сч

 

 

 

 

 

 

 

ID

 

 

 

о

 

 

 

 

 

 

 

я

 

 

 

OI

г»

 

г»

ос

 

 

 

О

 

О

О

 

О

О

 

 

 

 

 

 

X

 

X

X

 

X

X

ю

 

со

1^

 

 

СЮ

 

сч

со

«о

 

со

 

со

ID

 

 

05

 

 

 

 

X

 

X

X

 

X

X

О

т—I

о

 

о

о

CD

 

оо

ю

 

 

 

Ю

ОО

 

СП

о

 

ОО

05

 

 

 

 

 

 

о

о

X

 

X

X

 

X

X

ю

 

ю

ID

 

 

 

 

о

о

ID

 

 

 

 

 

 

 

05

 

 

 

 

о

 

о

о

 

 

 

 

00

 

сч

ID

 

 

 

 

 

00

CD

 

 

 

 

0

 

ID

ID

 

о

 

 

0

g

 

&

^

о

 

05

о

о

о

 

 

 

сч

 

 

 

 

 

 

со

CD

 

 

 

 

 

 

СО

—1

 

Ж

Жо

 

ж о

 

жО

. С , о Ж ,

о ж

 

5 °

 

О Он оСи Ж о

Ж-Ж

 

 

о с

а с о с,

g g

 

ж сч

S Я

S rt ^

S

 

н ж

н fas: >?

н

 

 

с

 

д

^ к

 

 

 

 

О »Ж (У«К О

О«VD ,

 

Ж

2

К

3 о ж

г ?

 

 

ЗЙ

С яО ^ у О

5 © :

 

 

«я

 

са>>

 

са >J

 

 

 

 

со

 

са -—•

 

 

 

 

 

ограничены, для более широкого сопоставления с опытными данными ис­ пользованы также стати­ стические данные по дол­ говечности образцов, под­ вергаемых под нагрузкой УФ-облученшо (см, вы­ ше).

Как видно из табл. 6.1, в рассмотренных слу­ чаях технологический разброс б не превышает 15 % от термофлуктуани­ онного (и радиационного при УФ-облучеиии). Это означает, что распределе­ ние £(т) (6.68) должно быть близко к Г-распре- делеиию. Действительно, оказалось, что эмпириче­ ское распределение дол­ говечности (так называе­ мая кумулятивная ча­ стота)

E ( Tl) = * 7 ( A f + l ) ,

где i — номер в порядке возрастания наблюдаемо­

го

значения

т = т,-, во

всех

случаях

хорошо —

с

критерием

согласия

Колмогорова

 

К = max \Р — Е \!^Й ,

равным 0,8 ^

К ^ 0,99—

описывается Г-расиреде-

лением с

указанными

в

табл.

6.1

параметрами

т

и 0.

Это

проиллюстриро­

вано на рис. 6.8 и рнс. 6.9. На рис. 6.8 построена эмпирическая функция распределения Е\уотнося­

щаяся к

первой

строке

таблицы.

Точки

Y{ =

= — 1р (1 — £])

соответ­

ствуют эмпирическим зна­ чениям Е I, отвечающим т,

274

взятым через каждые 50 с. Как видно, они хорошо ложатся на прямую, что соответствует показательному распределению (пре-

Рис. 6.8. Эмпирическая функ­ ция распределения долговечно­ сти 7:,(т) капрона, построенная на иеронпюстнон бумаге пока­ зательного распределения Y (т)

Рис. 6.9. Сопоставление рас­ четного (сплошная линия) и эмпирического (точки) рас­ пределений т УФ-облучаемо- го капрона

дельному выражению для Г-распределения при т = 1). Для наглядного представления технологического разброса нанесена

описывающая его лог-нормальная функция W\

 

(lnx—5,3)J

(параметры взяты из 1-й строки табл.

6.1)— таким

было бы

эмпирическое

 

распределение

долго­

 

 

 

 

 

 

вечности при отсутствии термофлук-

С)

1

2'

3■ 4 Цб/(

туационного разброса.

 

 

 

1дб

 

i

I

 

/

Иа рис. 6.9 представлено сплошной

-7

 

i

у

 

 

линией

расчетное

Г-распределение,

 

 

 

 

табулированное

в работе

1170],

с па­

~2

 

А /

I

раметрами из 3-й строки табл.

6.1 —

 

 

 

 

£ 3(т). Шкала

времени т

деформиро­

 

 

У

 

вана

неким

преобразованием

Уз(т),

 

 

 

 

 

выпрямляющим

Е3у так

что

график

-4

 

 

 

 

 

E3(YZ) — Уз является прямой

линией.

Рис.

6.10.

Эксперименталь­

В этих же координатах нанесены точ­

ная

зависимость

 

дисперсии

ки, отвечающие

значениям эмпириче­

технологического

 

разброса

от величины ст/ст (точки, но­

ского

распределения. (Способ их по­

мера которых соответствуют

строения тот же, что и для зависимо­

строкам

таблицы

6.1) и со­

сти Y\ на рис. 6.8.) Как видно,

поставление

ес

с

расчетной

обнаруживается хорошое совпадение.

(6.66)

(сплошная

прямая

По найденным значениям Ь (при­

с произвольным

наклоном)

веденным

в табл.

6.1)

на

рис. 6.10

 

(6.67),

обобщенной

построен

график

зависимости

Ь(о/б)

с учетом

(6.75).

Видно,

что

экспериментальные точки ло­

жатся на прямую, что свидетельствует о постоянстве величины х^З-10"*3. Конечно, точек слишком мало для серьезной про­ верки расчетной зависимости 6 (a), однако полученное значение х приемлемо. Найденному значению х при доверительной

i8*

275

 

вероятности 0,99 соответствует ошибка ± 1 % при задании на опыте величины уа/кТ.

Согласно расчету величина m (6.50), обобщенная в соответ­ ствии с выражением (6.75), есть

m = [1 — exp (—Pa/a)]'_I.

(6.76)

Как видно из данных табл. 6.1, значения m убывают с ро­ стом ъ/6 в качественном согласии с формулой (6.76), причем на примере капрона можно убедиться в справедливости выте­ кающей из (6.76) асимптотики

m ~ a/pa; ра/а «С 1,

(6.76а)

где в данном случае р = 8-10~3.

Перейдем к обсуждению полученных результатов. Они сви­ детельствуют о сравнительном малости вклада технологической компоненты и малости величины m — эффективного числа теп­ ловых разрушающих флуктуаций. Это вдвойне неожиданно, по­ скольку нашей работе предшествовало убеждение в том, что переход с микропа макроуровень связан с преодолением до­ статочно большого числа равновеликих барьеров, так что /и—^оо и выполняется закон больших чисел, уничтожающий проявления случайного характера тепловых флуктуаций, который прпс\ш элементарным событиям. Тсрмофлуктуационныо эффекты при разрушении тела исчезающе малы п, в частности, статистиче­ ский разброс поэтому контролируется технологическим фак­ тором. Надежны ли сделанные нами «революционные» выводы?

Как известно, статистические выводы должны быть осно­ ваны на испытании достаточно больших серий образцов. Так, доверительной вероятности 0,95 отвечает серия из 384 образцов.

Нами испытаны

гораздо

меньшие

серин

образцов (объемом

N ~ 1 0 2). Кроме

того, мало

и само

число

серин: всего 5. Эта

ограниченность экспериментальных данных не позволяет делать окончательных статистических выводов и обобщений о виде функции распределения и функциональной зависимости се па­ раметров.

Большой объем статистических испытаний необходим для выявления вида распределения на его периферии, поскольку центральные области любых распределений при соответствую­ щем подборе свободных параметров (среднего и дисперсии) всегда совпадают. Привлечения больших серин можно избежать, если для функции распределения удастся построить «вероятно­ стную бумагу», т. е. указать такие координаты, в которых она выпрямляется [66]. На вероятностной бумаге даже малые серии достаточно представительны, особенно если заранее можно ука­ зать наклон прямой. Именно построение вероятностных бумаг нами и использовалось. Особенно убедительным выглядит пере­ строение функции распределения долговечности капрона в полу­ логарифмических координатах (см. рис. 6.9). Оно свидетель-

276

ствуег о показательном распределении в данном случае, что является прямым отражением термофлуктуациоиной статистики элементарного акта разрушения (6*1). Отметим, что на пока­ зательное распределение долговечностей стеклянных пластин, установленное посредством построения вероятностной бумаги,

указано также в работе

|302].

 

Чтобы

выяснить,

не явля­

wr

ется ли

эмпирическое

распре­

деление

долговечности

ввиду

 

малости

объема

серии

образ­

 

цов нечувствительным

к виду

 

описывающей

его

функции

 

распределсния, эмпирическое

 

распределение

долговечности

 

УФ-облучаемого

 

капрона-3

 

(согласно рис. 6.9 являющееся

 

Г-распределением) на рис. 6.11

 

построено

на

вероятностной

 

бумаге широко

используемого

 

распределения Вейбулла

 

W (т) =

 

1 — ехр [— (т/т*)6],

 

(где т*, Ъ— параметры) в ко­ ординатах lgx, Yw

Уи? = lg In (1 — W)~l; W — i/(N + !)•

Рис. 6.11. Г-распрсдсление долговеч­ ности (рис. 6.9), построенное на веро­ ятностной бумаге распределения Вей­ булла

Обнаруживаемые система­ тические загибы ие позволяют считать эмпирическое распреде­

ление вейбулловским, т. с. ответ на поставленный выше вопрос оказывается отрицательным (в случае привлечения вероятност­ ных бумаг).

Рассмотрим теперь, возможны ли малые значения т и ма­ лый технологический разброс, привлекая независимые «внсстатистичсскнс» данные. Согласно (6.50) значение т ~ 1 (когда переход к разрушению, всегда содержащий длинную цепочку элементарных событий, лимитируется малым их числом) прин­ ципиально возможно, если, в частности, приложенное напряже­ ние а достаточно велико. Большие а характерны обычно для ускоренных статистических испытаний. Выше были приведены оценки и качественные соображения, основанные на «затухаю­ щем» характере накопления первичных трещин, свидетельствую­ щие о возможной малости т. Это затухание обусловлено струк­ турной неоднородностью (истощением числа «слабых мест») при трещииообразовании. Здесь мы имеем пример диалектиче­ ской взаимосвязи явлений: наличие структурной неоднородности вызывает большую величину термофлуктуациоиной компоненты (обусловленную малыми значениями т ) , что приводит к отри­

277.

цанию (сравнительно малому вкладу) структурной компоненты (технологического фактора) в эмпирически наблюдаемом ста­ тистическом разбросе долговечности.

Есть ли основания априори считать большим технологиче­ ский разброс? Рассмотрим случай капрона. Образцы представ­ ляли собой пучки моноволокон. Условия изготовления волокна обеспечивают стабильность его сечения при достаточно большой длине. Кроме того, сечение образца стабилизируется за счет усреднения по пучку. Таким образом, вариацию сечения — ос­ новной фактор разброса напряжения а [см. (6.59а)]— можно считать достаточно малой. Вариацию величины структурного параметра у также следует считать малой согласно развитой в п. 4.3 модели, в которой процессу разрушения отвечает движе­ ние вглубь по некоторому спектру, так что характеристики раз­ рушения определяются глубинными параметрами спектра, а не периферийными зиаченями, легко подвергаемыми случайным внешним воздействиям. Стабильность Т достигается усредне­ нием по достаточно большому времени испытания. Все это сви­ детельствует о малости технологического фактора разброса.

Заметим, что использованная методика разделения компо­ нент разброса является сугубо количественной, тогда как более убедительны качественные аргументы. К сожалению, качествен­ ного отличия между поведением термофлуктуационпой и техно­ логической компонент при вариации величины ус/кТ найти не удастся: при изменении ус/кТ величины гп(уо/кТ) (6.50) и Ь(уа/кТ) (6.67) ведут себя качественно аналогично, например, возрастают с ростом уа/кТ в соответствии с хорошо известной на опыте качественной закономерностью, которая заключается в том, что относительный разброс долговечности т уменьшается при возрастании прочности материала (уменьшении у) и повы­ шении температуры испытания Т. Однако имеется одна возмож­ ность нолуколичественного разделения. Поскольку по физиче­ скому смыслу величина га не может быть меньше 1, то га = 1 определяет верхнюю допустимую границу термофлуктуационного разброса, который не может приводить к полуширине боль­ шей, чем

Лр ж 1

Таким образом, экспериментальное значение полуширины разброса Ве в случае большого разброса Bf > 1 позволяет по формуле

б = (В ? - В пвх)/Ве

оценить нижнюю границу вклада технологической компоненты. Проведенное рассмотрение и обсуждение полученных резуль­ татов в целом позволяют утверждать [190], что наблюдаемый на опыте разброс долговечности в основном имеет термофлук-

278

туационное происхождение, ofусловленное случайным характе­ ром тепловых разрушающих флуктуаций. Разумеется, этот вы­ вод опирается на использование довольно ограниченных данных. Для общих выводов необходимы дополнительные исследования. Здесь нам важна лишь демонстрация возможностей эмпириче­ ской интерпретации термофлуктуациоиного разброса. В этой связи обсуждаемый вопрос о количественном соотношении тсрмофлуктуацношюго и технологического вкладов не столь важен, поскольку термофлуктуационнаи компонента разброса, отражая фундаментальный аспект термоактивированного разрушения, всегда качественно присутствует в той или иной количественной мере, определяя его нижнюю границу, зависящую от вели­ чины т. Доля технологического разброса отражает, в конечном счете, технику проведения эксперимента — реальную степень идентичности опыта при статистических испытаниях. Однако поднятая при анализе природы разброса проблема величины т имеет фундаментальный характер, поскольку т — основная ха­ рактеристика проявлений термофлуктуацнонной статистики при разрушении, содержащая информацию о кинетике разрыва об­ разца. Малые значения т приводят к важному физическому выводу о быстром «критическом» разрушении по истечении не­ которого инкубационного периода — «затишья», величина кото­ рого и лимитирует долговечность.

Глава 7

РАЗМЕРНЫЙ ЭФФЕКТ ПРОЧНОСТИ

7.1. Тсрмофлуктуационно-структурно-статистическая теория

Размерный эффект прочности (РЭ), называемый также масштабным фактором (увеличение прочности при уменьшении размеров образца при подобном напряженном состоянии), при­ сущ различным материалам (стеклу, металлам, полимерам). Он все шире используется в современной технике. Эксперимен­ тальному и теоретическому исследованию РЭ посвящены сотни работ. Их детальный обзор не входит в наши задачи. Ограни­ чимся лишь перечнем основных идей и представлений, сущест­ вовавших к началу нашей работы.

Основные экспериментальные данные по РЭ сводятся к сле­ дующему. Разрушающее напряжение c*(d) при меняющемся диаметре образца d хорошо описывается зависимостью [89]

(7.1)

где сг#, d — некие константы.

Значения а* обладают статистическим разбросом, возра­ стающим с уменьшением величины d [65] (рис. 7.1). Формула (7.1) относится ко всему статистическому полю значений о*. Зависимость а* от длины образца L более слабая, чем зависи­ мость от диаметра. Размерный эффект в различной степени присущ всем характеристикам прочности. Особенно сильно он проявляется при хрупком разрушении, низких температурах, на образцах с надрезом и «усах». Однако РЭ существует и при вязком разрушении, различных температурах (рис. 7.2), глад­ ких образцах [264]. Более или менее универсальные аналити­ ческие зависимости, описывающие экспериментально наблюдае­ мый РЭ, кроме формулы (7.1), нс установлены. При достаточно

больших размерах

образца

РЭ

практически исчезает

(см.

рис. 7.2).

 

природы РЭ

[264] универсаль­

Предложенные объяснения

ны (нечувствительны

к классу

материала),

базируются

на

общем подходе к проблеме разрушения и эволюционируют вме­ сте с ним.

280