- •Московский государственный технический университет им. Н. Э. Баумана
- •1 Технологические процессы отчистки
- •2 Ультразвуковая очистка
- •Среды ультразвуковой очистки
- •3 Процесс отчистки
- •Контрольные вопросы
- •1 Оптическая микроскопия
- •2 Оценка качества изображений в микроскопии
- •3 Прямой микроскоп Axio Imager а2
- •4 Стереомикроскоп SteReo Discovery. V8
- •Контрольные вопросы
- •1 Сканирующая зондовая микроскопия
- •4.2.1.2 Потенциал взаимодействия зонда с поверхностью
- •2 Сканирующий зондовый микроскоп «NanoEducator»
- •3 Получение изображения на приборе SmartSpm-100
- •4 Работа с полученными ранее файлами
- •4.1 Просмотр каталогов файлов
- •4.2 Способы графического представления изображений
- •4.3 Преобразование и анализ изображений
- •4.3.1 Функции обработки изображений
- •Контрольные вопросы
- •Измерительный комплекс aistSmartSpm&Raman
- •Основные узлы SmartRaman – afm являются:
- •1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
- •1 Микрофотографический анализ
- •2 Топологический анализ
- •3 Элементно – структурный анализ
- •4 Спектральное картирование
- •Контрольные вопросы
1 Микрофотографический анализ
____________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________
____________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________
|
Вклеить микрофотографию исследуемой области
|
|
Микрофотография ×____
|
2 Топологический анализ
|
_______________________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________ _______________________________________________________________________________
|
|
Вклеить
полученное СЗМ изображение исследуемой
области
|
|
АСМ изображение поверхности образца ___×___ мкм |
3 Элементно – структурный анализ
Представьте экспериментальные спектральные характеристики КРС полученные на измерительном комплексе AIST_NT SmartRaman – AFM , углеродных sp2 наноструктур, выращенных методом CVD.
|
Спектр представленный на рисунке, получен с образца сформированного методом ___________________________________________________________________________________________________ Спектральные линии характеризуют ________________________________________________________________ ___________________________________________________________________________________ ___________________________________________________________________________________ ___________________________________________________________________________________ ___________________________________________________________________________________ ___________________________________________________________________________________ ___________________________________________________________________________________
|
|
Длина волны лазера |
Время накопления сигнала |
Дифракционная решетка |
|
|
|
|
|
Вклейте полученный спектр КРС исследуемой вами структуры
|
|
Спектральная характеристика |
4 Спектральное картирование
Спектральное картирование позволяет получить информацию о распределение вещества по выделенной для исследования поверхности образца.
Представьте карту распределения спектральных характеристик КРС. Выделите точки различной интенсивности 1, 2, 3 и отдельно проанализируйте спектральные характеристики КРС в каждой из выбранных точек.
|
Размер карты распределения КРС спектров |
Количество точек |
Время накопления |
|
|
|
|
|
Вклейте полученную
карту распределения КРС характеристик
по поверхности образца, сравнить с
полученным СЗМ изображением.
| ||
|
Карта распределения спектральных характеристик по поверхности ___________
| ||
|
Описание карты распределения детального анализа спектров КРС в точках ______________________________________________________________________________________ ______________________________________________________________________________________ ______________________________________________________________________________________ ______________________________________________________________________________________ ______________________________________________________________________________________ ______________________________________________________________________________________ ______________________________________________________________________________________ ______________________________________________________________________________________ ______________________________________________________________________________________ ______________________________________________________________________________________ ______________________________________________________________________________________ ______________________________________________________________________________________ ______________________________________________________________________________________ ______________________________________________________________________________________ ______________________________________________________________________________________
| ||
|
Вклеить спектр КРС выбранный в указанной точке 1, обработанный в среде математического моделирования MathCAD, MatLab, Oridgin PRO.
| ||
|
Спектр в точке №1 | ||
|
Вклеить спектр КРС выбранный в указанной точке 2, обработанный в среде математического моделирования MathCAD, MatLab, Oridgin PRO.
| ||
|
Спектр в точке №2 | ||
|
Вклеить спектр КРС выбранный в указанной точке 1, обработанный в среде математического моделирования MathCAD, MatLab, Oridgin PRO.
| ||
|
Спектр в точке №3 | ||
|
Выводы: |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|