Указание № 1

а) значения и определяются для приборов с непрерывной модуляцией лучистого потока (варианты № 1-6) как некоторая «функция» рисунка растра-АИ и выбранной частоты его вращения, а для приборов с импульсной модуляцией (варианты № 7-12) в первую очередь продолжительностью электрического импульса, снимаемого с единичной площадки ПИ, при этом = / (варианты 7-9) или = 1 / (варианты 10-12), где и соответственно размеры и общее число чувствительных элементов ПИ; тогда полагая форму импульса «косинус квадратной» для вариантов 7..9 можно считать, что = 0.46 / и = 0.956 , соответственно для вариантов 10..12 при прямоугольной форме импульса и .

б) в приборах с матричным ПИ (сх.4) в качестве следует принимать частоту опроса его элементов, а в приборе с линейкой ПИ (сх.3) (здесь - заданная ширина элемента линейки ПИ), для других вариантов исполнения прибора (сх.1 и сх.2) . Частота должна использоваться при расчете безразмерного коэффициента на этапе определения приборного порогового потока ПИ.

2. На основе анализа спектра излучения цели и окружающего ее фона с учетом окон прозрачности атмосферы обосновывается выбор спектральной области работы прибора. Затем с учетом значения с помощью учебной программы по имени «Bpi4.pas» из 2….3 ПИ с сопоставимыми параметрами и условиями эксплуатации выбирается конкретный тип ПИ (см.прил. №3) и материалы всех компонентов ОС прибора (см.рис.3). Далее рассчитывается спектральное пропускание слоя атмосферы и ожидаемый коэффициент пропускания его ОС, а также коэффициенты использования излучения цели и фона приемной системой прибора. Результаты этих расчетов подтверждаются машинными распечатками учебных программ по имени «Атмосфера», «Оптика» и «Приемная система».

Указание №2

а) в приборах нулевого и первого поколений (варианты 1-6) рекомендуется использовать неохлаждаемые, а в приборах 2-го (варианты 7-9) и 3-го (варианты 10-12) поколения – охлаждаемые ПИ;

б) при расчете осевую толщину защитного элемента и линз объектива полагать равными 5 мм, коллектива -2 мм, а входного окна ПИ– оптического фильтра мм;

в) в вариантах 1-6 предполагается, что рисунок растра-АИ нанесён фотометодом на плоской поверхности коллектива, материал которого одновременно выполняет функцию оптического фильтра мешающего коротковолнового излучения фона.

3. Применительно к заданной схеме прибора выбирается значение допустимого относительного отверстия объектива , Это позволяет затем рассчитать значения эффективного лучистого потока в плоскости ПИ как от постоянной, так и «единичной» переменной составляющих излучения фона (см. материалы лекций и семинара).

Указание №3.

Относительное отверстие объектива совместно с качеством создаваемого им изображения определяют габариты, а также аберрационные, энергетические и точностные возможности прибора.

С учетом этого для ОЭП с угловым полем не более 10 градусов рекомендуется выбирать значение относительного отверстия для линзовых ОС в пределах 0.5 – 0.6 , а для комбинированных ОС – в пределах 0.9-1.

4. Принимая в вариантах 1-6 размер квадратного по форме чувствительного слоя ПИ равным диаметру растра-АИ, а в вариантах 7-12 размеру одного элемента ПИ (см. приложение №1), рассчитывается значение его эффективного приборного порогового потока как

,

где - удельная обнаружительная способность выбранного ПИ при стандартных условиях его паспортизации, -площадь чувствительного слоя (единичного слоя при использовании много площадочного ПИ), - шумовая полоса ПИ, а прочее – безразмерные коэффициенты, определяющих влияние на пороговую чувствительность ПИ его спектральной избирательности, инерционности и «засветки» постоянной составляющей фонового излучения (методику их расчета см. лекции).