- •1. Определение и классификация электронных приборов.
- •2. Собственная и примесная электропроводность полупроводников.
- •3. Диффузионный и дрейфовый ток.
- •4 . Потенциальный барьер в p – n - переходе. Распределение концентрации электронов и дырок, заряда, напряженности на границе p-n перехода.
- •5 . Электронно-дырочный переход при приложении прямого и обратного напряжения.
- •6. Последовательное и параллельное соединение диодов и тиристоров в мощных преобразовательных установках.
- •7. Варикап, стабилитрон, импульсный, туннельный и лавинный диоды. Принцип действия, характеристики, параметры, области применения.
- •8. Конструкция и параметры выпрямительных диодов силовой электроники.
- •9. Биполярные транзисторы типа p-n-p и n-p-n (принцип действия, характеристики).
- •10. Схемы включения транзисторов и их сравнительный анализ.
- •11. Работа биполярного транзистора в усилительном и ключевом режиме.
- •1 2. Методы температурной стабилизации рабочей точки покоя транзисторного каскада.
- •13. Полевые транзисторы с управляющим p-n переходом, встроенным и индуцированным каналом.
- •15. Биполярный транзистор с изолированным затвором.
- •16. Способы получения p-n переходов в полупроводниковых приборов.
- •17. Принцип действия, конструкция, характеристики тринистора.
- •Характеристики тиристоров.
- •Режимы работы тиристора. Режим обратного запирания.
- •18. Процесс открытия и закрытия триодного тиристора.
- •19. Симметричный и запираемый тиристор (структура, принцип действия, характеристики, область применения).
- •21. Характеристики и параметры цепи управления тиристоров.
- •22. Фазосдвигающие устройства для управления тиристорами.
- •23. Параметры силовой цепи мощных тиристоров.
- •26. Тонкопленочные и толстопленочные пленочные имс.
- •25. Классификация интегральных микросхем. Пленочные микросхемы.
- •27. Гибридные и совмещенные интегральные микросхемы.
- •28. Полупроводниковые интегральные микросхемы.
- •29. Операционный усилитель как универсальная аналоговая микросхема (структура, функции).
- •30. Дифференциальный усилительный каскад как составной элемент аналоговой микросхемы.
- •31. Отражатель тока в аналоговых интегральных микросхемах.
- •33. Логические операции: конъюнкция, дизъюнкция, инверсия, реализуемые в цифровых интегральных микросхемах.
- •32 Схемы смещения уровня и Дарлингтона в аналоговых микросхемах.
- •34. Типовые логические элементы дтл, ттл, эсл, иил, кмоптл.
- •36. Параметры и нагрузочная способность цифровых имс.
27. Гибридные и совмещенные интегральные микросхемы.
Широкое распространение получили гибридные ИС – интегр. схемы, в кот. применяются плёночные пассивные элементы и навесные элементы (резисторы, конденсаторы, диоды, оптроны, транзисторы), называемые компонентами ГИС. Электрические связи м/у элементами и компонентами осуществляются с помощью плёночного или проволочного монтажа.
Н авесными элементами в микроэлектронике называют миниатюрные, обычно бескорпусные диоды и транзисторы, представляющие собой самостоятельные элементы. Иногда в гибридных ИС навесными могут быть и некоторые пассивные элементы, н-р, миниатюрные конденсаторы с такой большой емкостью, что их невозможно осуществить в виде пленок.
Проводники от транзистора или от других навесных элементов присоединяются к соответствующим точкам схемы чаше всего методом термокомпрессии (провод при высокой температуре прижимается под большим давлением).
Отличительной особенностью совмещенных ИМ является применение дополнительных резистивных и диэлектрических материалов наряду с кремнием, его двуокисью и чистыми металлами для межэлементных соединений, а также независимость принципа действия тонкоплёночных элементов от кремния, так как вместо изоляции р-п переходом используют более совершенную изоляцию плёнками двуокиси кремния.
Выход годных из-за большого числа операций уменьшается. Слои осаждают способами термовакуумного осаждения или катодного распыления, рисунок фотолитографией или на основе применения свободных масок.
Наибольшие технологические трудности возникают из-за температурных нагрузок при термокомпрессии и креплении кристалла к основанию корпуса (может измениться номинал тонкоплёночных интегральных элементов.
28. Полупроводниковые интегральные микросхемы.
Основой полупроводниковой ИМС является подложка из кремния обычно p- типа проводимости. В основе изготовления полупроводниковых ИМС лежит диффузионно-планарная или эпитаксиально-планарная технология. Оба этих метода предусматривают создание внутри полупроводника (т. е. в подложке) островок с чередующимися слоями p- и n- типа проводимости.
Rmax=20 кОм. Для повышения номинала внедряют примеси методом диффузии. Cmax=10…100 пФ. Индуктивность в полупроводниковой структуре изготовить нельзя.
29. Операционный усилитель как универсальная аналоговая микросхема (структура, функции).
Операционным усилителем назыв. Устр-во,предн для выполнения математ.операций с аналоговыми сигналами, имеющее исключительно высокий коэф. усиления,очень большое вход-е и малое выходное сопрот-е и выполненное в микроэлектронном исполнении.
Операц. усилитель включает в свой состав 1 или несколько дифференциальных каскадов УПТ, генератор стабильного тока для питания этих каскадов и выходные эмиттерные повторители для увеличения входного и уменьшения выходного сопротивления.
П ример маркировки ОУ: К553УД2.
Вход A – инвертирующий вход.
Вход B – неинвертирующий вход.
Входы C – для подключения двуполярного ИП.
Входы D – выводы для подключения цепей коррекции.
ОУ подразделяются по следующим признакам:
ОУ общего применения
Мощные ОУ
ОУ с управляемыми параметрами
Быстродействующие ОУ
К основным параметрам ОУ относятся следующие:
Н апряжение ИП
Коэффициент усиления
Входное сопротивление
Потребляемый от ИП ток или потребляемая мощность
К оэффициент ослабления синфазного сигнала [дБ]
Скорость нарастания вых. напряжения. Она показывает быстродействие ОУ СИ[В/мкс].
Т.кОУ имеет очень большой коэфф. усиления и сложную схему, то при работе на опред частотах возможно появление нежелательных фазовых сдвигов,приводящих к образованию положительных ОС и, как следствие, к самовозбуждению усилителя.Для устранения этих возможностей применяются цепи коррекции, представляющие различные RC-цепочки.Цепи коррекции могут быть как внешними, то есть при помощи навесных элементов, так и внутренними, то есть внутри корпуса микросхемы. Причём цепи коррекции разрабатываются на этапе проектирования ОУ и являются индивидуальными для каждого конкретного типа ОУ.
На основе ОУ собирают схемы сумматора, интегратора, дифференциатора и др.