- •Содержание
- •3Физические основы работы полупроводниковых приборов
- •3.1.Введение, основные термины и определения
- •4.1.Зонная структура полупроводников
- •5.1.Структура связей атомов и электронов полупроводника
- •6.1.Концентрация подвижных носителей заряда в собственном полупроводнике
- •7.1.Примесные полупроводники
- •3.7.1Концентрация носителей заряда в примесных полупроводниках
- •8.1.Электропроводность полупроводников
- •10.1.Вольтамперная характеристика p-n перехода
- •11.1.Пробой p-n перехода
- •12.1.Емкость p-n перехода
- •13.1.Свойство переходов металл-полупроводник
- •4Полупроводниковые диоды
- •3.1.Особенности и свойства полупроводниковых диодов, вольтамперная характеристика диода
- •4.1.Разновидности диодов, система параметров
- •4.4.1Универсальные диоды
- •4.4.2Силовые диоды
- •4.4.3Импульсные диоды
- •4.4.4Стабилитроны
- •4.4.5Варикапы
- •5.1.Система обозначений диодов
- •5Биполярные транзисторы
- •3.1.Вольтамперные характеристики транзисторов
- •4.1.Эквивалентная схема транзистора
- •5.1.Система обозначений и классификация транзисторов
- •6.1.Составные транзисторы
- •6Полевые транзисторы
- •3.1.Вольтамперные характеристики полевого транзистора с p-n переходом
- •4.1.Моп (мдп) – транзисторы
- •5.1.Система обозначений полевых транзисторов
- •7Переключающие приборы
- •3.1.Динисторы
- •4.1.Вольтамперная характеристика динистора
- •5.1.Тринисторы (тиристоры)
- •6.1.Вольтамперная характеристика тринистора
- •7.1.Симисторы
- •8.1.Запираемые тиристоры
- •9.1.Параметры и система обозначений тиристоров
- •8Оптоэлектронные приборы
- •3.1.Светодиоды
- •4.1.Характеристики светодиодов
- •5.1.Система обозначений светодиодов
- •6.1.Фоточувствительные приборы
- •7.1.Вольтамперная характеристика фотодиода
- •8.1.Параметры фотодиодов
- •9.1.Фототранзисторы
- •10.1.Фототиристоры
- •11.1.Фоторезисторы
- •12.1.Оптроны
- •9Вопросы для самопроверки
- •10Контрольная работа.
- •3.1.Методические указания к выполнению контрольной работы.
- •4.1.Оформление отчета по контрольной работе.
- •5.1.Задание.
- •11Пример выполнения контрольной работы
- •Ширина запрещенной зоны:
- •Эффективные плотности состояний:
- •Положение уровня Ферми:
- •Подвижности носителей заряда:
- •Удельное электрическое сопротивление:
- •Отношение полного тока, протекающего через полупроводник к дырочному току:
- •Концентрация основных и неосновных носителей заряда
- •Положение уровня Ферми:
- •Удельное электрическое сопротивление:
- •Отношение полного тока, протекающего через полупроводник к дырочному току:
- •Концентрация основных и неосновных носителей заряда
- •Контактная разность потенциалов
- •Ширина обедненных областей и ширина области пространственного заряда
- •Величина заряда на единицу площади
- •Величина барьерной емкости без внешнего напряжения и при обратном напряжении
- •1Глоссарий
- •Литература.
- •Электроника
3.1.Особенности и свойства полупроводниковых диодов, вольтамперная характеристика диода
Диоды могут изготавливаться из различных полупроводниковых материалов - Ge, Si, GaAs и выполнять различные функции – выпрямления, детектирования, умножения частоты и т.д.
Наиболее часто для изготовления полупроводниковых диодов используются Ge и Si. Диоды Шоттки выполняются в основном на основе кремния. В настоящее время для получения высокоскоростных приборов используется арсенид галлия. Прямые ветви ВАХ таких диодов, с p-n переходами одинаковой площади имеют разный вид (рис.2.5), в частности при фиксированном прямом токе падение напряжения на них будет различным. Наименьшее оно - у германиевого диода, а наибольшее – у арсенид-галлиевого. Основная причина этого – различие в ширине запрещённых зон (Ge – 0,6 эВ, Si – 1,11 эВ, GaAs – 1,43 эВ). В связи с этим будут отличаться и величины потенциальных барьеров у переходов из таких полупроводников (наименьшим он будет у германиевого диода). Для того чтобы диод открыть требуется приложить прямое напряжение сравнимое по величине с контактной разностью потенциалов. По этой причине диод Шоттки занимает промежуточное положение между германиевым и кремниевым.
Рис. 2.5. Вольтамперные характеристики
полупроводниковых диодов из разных материалов.
С ростом температуры прямая ветвь ВАХ p-n перехода и полупроводникового диода смещается влево (рис. 2.6). Это объясняется ростом интенсивности процессов термогенерации и, соответственно, уменьшением сопротивления полупроводниковых слоёв. Если задаться некоторым значением прямого тока , то с ростом температуры прямое напряжение на диоде будет падать. Скорость его изменения зависит от материала и составляет 1÷2 мв/о .
Рис.2.6. Изменение прямой ветви вольтамперной
характеристики диода при изменении температуры.
Как уже отмечалось, открытый диод представляет собой некоторое сопротивление, величину которого можно определить экспериментально из соотношения или
.
В первом случае сопротивление называют статическим, а во втором – динамическим или дифференциальным прямым сопротивлением.
Обратный ток идеализированного p-n перехода остаётся практически равным току насыщения вплоть до напряжения пробоя. У диодов обратный ток может в тысячи раз превышать , причем он увеличивается с ростом запирающего напряжения (рис. 2.7). Дело в том, что обратный ток диода состоит из трёх компонент – тока насыщения, тока термогенерации и тока утечки . Ток насыщения представляет собой ток неосновных носителей обратно смещённого p-n перехода. Ток термогенерации связан с образованием электронно-дырочных пар в области p-n перехода под действием температуры. Так как с ростом обратного напряжения увеличиваются размеры области обеднённой носителями (объём p-n перехода), то при той же температуре будет генерироваться больше носителей и этим объясняется возрастание тока термогенерации с повышением обратного напряжения. В реальных диодах в связи с загрязнением поверхности полупроводника возникает ток утечки, который также растет (по закону Ома) при увеличении обратного напряжения. Механизмы пробоя полупроводникового диода такие же, как для p-n перехода.
Рис.2.7. Изменение обратной ветви вольтамперной
характеристики диода при изменении температуры.
С ростом температуры интенсивность процессов генерации носителей возрастает, что приводит к увеличению обратного тока. Для кремниевых диодов Iобр удваивается при увеличении температуры на , а у германиевых он увеличивается вдвое с ростом температуры примерно на .
Если сравнить обратные ветви ВАХ диодов из разных материалов, то при одинаковых напряжениях минимальными обратными токами будут обладать кремниевые и арсенид-галлиевые диоды (напряжение пробоя достигает у них тысяч вольт). Гораздо большие обратные токи будут у германиевых диодов и диодов Шоттки, причем у последних напряжение пробоя не превышает десятков вольт, а у германиевых – сотен вольт.