Возможности методов структурного анализа

В таблице приведены разрешение и толщина образца при использовании методов дифракционного структурного анализа.

Излучение	Разрешение, мкм	Толщина образца, мкм
Рентгеновские кванты	1 - 5	Любая
Электроны	0.01 – 1.00	<<1

9